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八島 剛
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審決年月日
審判番号
発明・考案の名称
結論
代理人
請求人
2014/12/17
不服
2013 -16402
構造の3次元粗さを測定する方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エフ・イ-・アイ・カンパニー
原文
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該当なし
2014/09/04
不服
2012 -6901
Hilbert位相画像処理のためのシステムと方法
本件審判の請求は、成り立たない。
マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
原文
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該当なし
2014/08/28
不服
2013 -14814
物体を走査する装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
アクシュネット カンパニー
原文
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該当なし
2014/08/06
不服
2013 -12075
エッジ検出装置
本件審判の請求は、成り立たない。
アズビル株式会社
原文
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該当なし
2014/07/08
不服
2013 -9920
光学的に未処理の表面特徴の特性を測定する干渉計及び方法
本件審判の請求は,成り立たない。
恩田 博宣 その他
ザイゴ コーポレーション
原文
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該当なし
2014/04/21
不服
2013 -15909
溶接工具
本件審判の請求は、成り立たない。
山田 卓二
フロニウス・インテルナツィオナール・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング
原文
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該当なし
2013/10/15
不服
2012 -14820
物体の表面測定装置およびその表面測定方法
本件審判の請求は、成り立たない。
小田 光春 その他
グリンテック ゲーエムベーハー マイクロ-エプシロン・メステヒニク・ゲーエムベーハー・ウント・コンパニー・カー・ゲー
原文
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該当なし
2013/10/08
不服
2012 -14985
座標測定装置におけるX線感知装置の校正方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー
原文
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該当なし
2013/08/12
不服
2012 -14291
非弾性電子散乱による膜厚測定
本件審判の請求は、成り立たない。
エフ・イ-・アイ・カンパニー
原文
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該当なし
2013/03/26
不服
2011 -19862
垂直2次元面の走査機構および走査方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
池上 徹真 その他
東芝機械株式会社
原文
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該当なし
2013/02/18
不服
2011 -8481
モバイル機器追跡
本件審判の請求は、成り立たない。
東芝グローバルコマースソリューション・ホールディングス株式会社
原文
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該当なし
2013/02/04
不服
2011 -17972
電子顕微鏡装置を用いた計測対象パターンの計測方法
本件審判の請求は、成り立たない。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
原文
保存
該当なし
2013/02/04
不服
2011 -18151
パターン測定方法、及びパターン測定装置
本件審判の請求は、成り立たない。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
原文
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該当なし
2012/12/06
不服
2011 -14806
走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
原文
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該当なし
2012/11/13
不服
2011 -2272
導電フィルムの検査方法
本件審判の請求は、成り立たない。
友達光電股▲ふん▼有限公司
原文
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該当なし
2012/07/24
不服
2011 -4426
測定値の判定方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ホロン
原文
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該当なし
2012/04/12
不服
2010 -12985
薄膜デバイスの膜厚計測方法及び膜厚計測装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
原文
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該当なし
2012/04/10
不服
2010 -13897
パネル、基板、およびウエハーの表面特性の全領域光計測
本件審判の請求は、成り立たない。
ウルトラテック インク
原文
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該当なし
2012/03/29
不服
2010 -19146
ホールラフネス計測方法および装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社日立ハイテクノロジーズ
原文
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該当なし
2012/03/19
不服
2010 -25969
キャリブレーション用の校正治具および校正治具を備えた画像計測システム
本件審判の請求は、成り立たない。
島田 哲郎 その他
ファナック株式会社
原文
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該当なし
2012/01/20
不服
2010 -9776
軸方向高解像度を有する走査型顕微鏡方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エボテック・アーゲー
原文
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該当なし
2012/01/06
不服
2010 -11852
加工物表面の形状および/または粗さを測定するための測定装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
藤田 アキラ その他
カール マール ホールディング ゲーエムベーハー
原文
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パリ条約
2011/12/05
不服
2010 -10309
メカニカルセンサーおよびそれを用いた分析システム
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
内野 則彰 その他
セイコーインスツル株式会社
原文
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該当なし
2011/11/28
不服
2010 -4576
ビームスプリッタ構造群及びビームスプリッタ構造群を備えた干渉計
本件審判の請求は、成り立たない。
鍛冶澤 實 その他
ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング
原文
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該当なし
2011/10/05
不服
2009 -13460
ステレオ検出器を使用して乗員および頭部ポーズを検出するためのシステムおよび方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
二宮 浩康 その他
シーメンス コーポレーション
原文
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パリ条約
2011/09/20
不服
2010 -1552
高温体の距離測定装置、形状測定装置、耐火構造物の健全性評価装置及び耐火構造物の健全性評価方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
住友金属工業株式会社
原文
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該当なし
2011/09/14
不服
2009 -22349
波面測定用干渉計装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
富士フイルム株式会社
原文
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該当なし
2011/09/14
不服
2009 -25958
波面測定用干渉計装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
富士フイルム株式会社
原文
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該当なし
2011/09/01
不服
2009 -20332
三次元計測装置及び基板検査装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
シーケーディ株式会社
原文
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該当なし
2011/07/27
不服
2009 -18576
容器底から放射される赤外光エネルギを用いて容器口を検査する方法および装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
大塚 文昭 その他
オウェンス ブロックウェイ グラス コンテナー インコーポレイテッド
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