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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない(前置又は当審拒絶理由) G01R
管理番号 1030432
審判番号 審判1997-14130  
総通号数 17 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 1991-01-25 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 1997-08-21 
確定日 2000-12-08 
事件の表示 平成 1年特許願第152658号「LSI試験装置」拒絶査定に対する審判事件[平成 3年 1月25日出願公開、特開平 3- 17575]について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 本願は、平成 1年 6月14日の出願であって、発明の要旨は、明細書と図面の記載からみて、特許請求の範囲に記載されたとおりのものであると認める。
これに対して、平成12年 2月22日付けで拒絶理由を通知し、期間を指定して意見書を提出する機会を与えたが、請求人からは何らの応答もない。
そして、上記の拒絶理由は妥当なものと認められるので、本願は、この拒絶理由によって拒絶すべきものである。
よって、結論のとおり審決する。
 
審理終結日 2000-09-07 
結審通知日 2000-09-19 
審決日 2000-10-05 
出願番号 特願平1-152658
審決分類 P 1 8・ 121- WZ (G01R)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 応物審査長江頭 信彦小林 邦雄下中 義之服部 和男関根 洋之中塚 直樹樋口 信宏濱本 禎広  
特許庁審判長 高瀬 浩一
特許庁審判官 榮永 雅夫
渡邊 聡
発明の名称 LSI試験装置  
代理人 宮田 金雄  
代理人 家入 健  
代理人 高瀬 彌平  

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