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| 審決分類 |
審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録(定型) H01L 審判 査定不服 特36条4項詳細な説明の記載不備 取り消して特許、登録(定型) H01L |
|---|---|
| 管理番号 | 1244344 |
| 審判番号 | 不服2009-10863 |
| 総通号数 | 143 |
| 発行国 | 日本国特許庁(JP) |
| 公報種別 | 特許審決公報 |
| 発行日 | 2011-11-25 |
| 種別 | 拒絶査定不服の審決 |
| 審判請求日 | 2009-06-09 |
| 確定日 | 2011-10-19 |
| 事件の表示 | 特願2003-579273「半導体デバイス上の構造の寸法を測定するために使用される、非破壊光波測定(光波散乱計測)(ｓcaｔｔeｒｏmeｔｒｙ)に基づいた測定ツールを較正する方法と構造」拒絶査定不服審判事件〔平成15年10月 2日国際公開、WO03/81662、平成17年 7月14日国内公表、特表2005-521261、請求項の数(8)〕について、次のとおり審決する。 |
| 結論 | 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 |
| 理由 |
本願は、平成14年12月17日(パリ条約による優先権主張 2002年 3月19日 (US)アメリカ合衆国)の出願であって、その請求項1?8に係る発明は、平成23年 9月 9日付けの手続補正書によって補正された特許請求の範囲の請求項1?8に記載された事項により特定されるとおりのものであると認める。 そして、本願については、原査定の拒絶理由を検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。 |
| 審決日 | 2011-10-03 |
| 出願番号 | 特願2003-579273(P2003-579273) |
| 審決分類 |
P
1
8・
121-
WYF
(H01L)
P 1 8・ 536- WYF (H01L) |
| 最終処分 | 成立 |
| 前審関与審査官 | 田代 吉成、今井 拓也 |
| 特許庁審判長 |
藤原 敬士 |
| 特許庁審判官 |
田村 耕作 川端 修 |
| 発明の名称 | 半導体デバイス上の構造の寸法を測定するために使用される、非破壊光波測定(光波散乱計測)(ｓcaｔｔeｒｏmeｔｒｙ)に基づいた測定ツールを較正する方法と構造 |
| 代理人 | 太田 昌孝 |
| 代理人 | 村雨 圭介 |
| 代理人 | 佐野 良太 |
| 代理人 | 早川 裕司 |