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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない。 G01N
審判 査定不服 5項独立特許用件 特許、登録しない。 G01N
管理番号 1304460
審判番号 不服2014-8489  
総通号数 190 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2015-10-30 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2014-05-07 
確定日 2015-08-10 
事件の表示 特願2012- 21757「元素分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成25年 8月19日出願公開、特開2013-160594〕について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 第1 手続の経緯
本願は、平成24年2月3日の出願であって、平成25年11月19日付けで拒絶理由が通知され、平成26年1月27日付けで意見書が提出されるとともに、同日付けで手続補正がなされたが、同年2月10日付けで拒絶査定がなされたのに対し、同年5月7日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに、同日付けで手続補正がなされたものである。

第2 平成26年5月7日付けの手続補正についての補正却下の決定
[補正却下の決定の結論]
平成26年5月7日付けの手続補正(以下「本件補正」という。)を却下する。

[理由]
1 本件補正の内容
本件補正により補正された特許請求の範囲の請求項のうち、請求項1の記載は次のとおりである(下線は補正箇所を示す。)。

「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉と、
前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路と、
前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路と、
前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部と、
前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路と、
前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブと、を備え、
前記導出流路が一本の流路として形成されており、
前記元素分析部が、それぞれが異なる元素を検出する複数の検出器を具備し、各検出器が前記導出流路上に直列に設けられており、
前記バルブによって前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されていることを特徴とする元素分析装置。」

2 本件補正の目的
本件補正は、補正前の請求項1の「元素分析装置」において、「前記元素分析部が、それぞれが異なる元素を検出する複数の検出器を具備し、各検出器が前記導出流路上に直列に設けられて」いることを追加し、限定するものであるから、この補正は、補正前の請求項1に記載された発明を特定するために必要な事項を限定するものである。
したがって、本件補正は、特許法第17条の2第5項第2号の特許請求の範囲の減縮を目的するものに該当する。

3 独立特許要件
そこで、本件補正後の請求項1に係る発明(以下、「補正発明」という。)が、特許法第17条の2第6項において準用する同法第126条第7項の規定に適合するか、すなわち、本件の特許出願の際に独立して特許を受けることができるものであるかについて以下に検討する。

(1)刊行物の記載事項
ア 本願出願前に頒布され、原査定の拒絶の理由で引用された刊行物である特開昭62-93629号公報(以下、「刊行物1」という。)には、図面の図示と共に、次の事項が記載されている(下線は当審で付した。)。

(ア)「〔従来の技術〕
少なくとも2種類の成分ガスを同時に測定できる多成分同時測定用ガス分析装置を利用した装置の具体例としては、従来から、例えば金属試料中に含まれている各種の不純物の量を測定するためのガス抽出式金属試料分析装置が知られている。
このガス抽出式金属試料分析装置は、第6図に示すように、ガス抽出部0Aとそれに連結された多成分(2成分)同時測定用ガス分析部0Bとから構成され、前記ガス抽出部0Aは、キャリアガス導入流路00から供給されるキャリアガス(Heガスなどの不活性ガス)の存在下で試料金属を加熱溶融することにより、その試料金属中に含まれている各種不純物(酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出すための加熱炉(例えば黒鉛るつぼ)01と、パージ用電磁弁02とから成り、また、前記多成分(2成分)同時測定用ガス分析部0Bは、前記ガス抽出部0Aのパージ用電磁弁02に接続されたサンプルガス導入流路03に対して、調圧器04と、流量調整用ニードル弁05と、COガス濃度測定用としての第1ガス濃度検出器0D_(I)(ガスに対する選択性に優れた非分散型赤外線検出器が通常用いられる)と、前記第1ガス濃度検出器0D_(I)を通過したサンプルガス中のCOガスおよびH_(2)ガスを酸化してCO_(2)ガスおよびH_(2)Oガスに夫々変換するための酸化器06と、そのCO_(2)ガスをCO_(2)除去剤との化学反応により除去するためのCO_(2)除去器07と、そのH_(2)OガスをH_(2)O吸着剤により除去するためのH_(2)O除去器08と、N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)(熱伝導度型検出器が通常用いられる)と、排出流路09とを、その順に直列に接続して構成されている。」(2頁左上欄12行?同頁左下欄4行)

(イ)「〔発明が解決しようとする問題点〕
ところが、上記したガス抽出式金属試料分析装置に用いられているような多成分(2成分)同時測定用ガス分析部0Bを構成する従来構成の多成分同時測定用ガス分析装置には、次のような種々の欠点があった。
即ち、上記従来構成の多成分同時測定用ガス分析装置は、精々数千ppm程度を計測上限とする高感度のものであるため、前記のように金属試料中に極く少量だけ含まれている各種の不純物の量を測定するような場合には非常に好適なものであり、また、試料が比較的多量の各種含有物を有する場合であってもそれら各種含有物の量に大きな差が無い場合には、その試料から抽出されたサンプルガスを適当に希釈すれば、この従来構成の多成分同時測定用ガス分析装置を利用することに実用上特に問題は無い。」(2頁左下欄5行?同頁右下欄1行)

上記の記載事項(ア)、(イ)から、刊行物1には、以下の発明が記載されていると認められる。

「金属試料中に含まれている各種の不純物の量を測定するためのガス抽出式金属試料分析装置であって、
ガス抽出部0Aとそれに連結された多成分(2成分)同時測定用ガス分析部0Bとから構成され、
前記ガス抽出部0Aは、キャリアガス導入流路00から供給されるキャリアガスの存在下で試料金属を加熱溶融することにより、その試料金属中に含まれている各種不純物(酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出すための加熱炉(黒鉛るつぼ)01と、パージ用電磁弁02とから成り、
前記多成分(2成分)同時測定用ガス分析部0Bは、前記ガス抽出部0Aのパージ用電磁弁02に接続されたサンプルガス導入流路03に対して、調圧器04と、流量調整用ニードル弁05と、COガス濃度測定用としての第1ガス濃度検出器0D_(I)と、酸化器06と、CO_(2)除去器07と、H_(2)O除去器08と、N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)と、排出流路09とを、その順に直列に接続して構成されており、
試料が比較的多量の各種含有物を有し、それら各種含有物の量に大きな差が無い場合に、その試料から抽出されたサンプルガスを適当に希釈するガス抽出式金属試料分析装置。」(以下「引用発明1」という。)

イ 本願出願前に頒布され、原査定の拒絶理由で引用された刊行物である特開2004-93310号公報(以下「刊行物2」という。)には、図面の図示と共に、次の事項が記載されている(下線は当審で付した。)。

(ア)「【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、微量試料用熱脱離ガス発生装置に関する。詳細には、生体関連試料、土壌試料のような分解しやすく、微量にしか取得できない成分を含む試料の昇温脱離ガス発生装置に関する。本発明の昇温脱離ガス発生装置は、質量分析装置、特に、大気圧イオン化質量分析装置(APIMS)に接続することにより効果を発揮する。
【0002】
【従来の技術】
物質を加熱気化させて、質量分析、ガスクロマトグラフィー等の分析装置に送り込むための前処理装置としては従来から種々のものが知られているが、その中に熱脱離ガス発生装置(以下、「TDS」とも称する)がある。これには種々の加熱方式があり、例えば、半導体分野のウエハ表面に吸着した物質を分析するためのものは赤外線により加熱する方式が主流であり、これらの装置では熱伝対と試料との間に距離があるためタイムラグを生じ、試料表面に対し過大な熱輻射を与え、生体関連試料などの熱分解しやすいサンプルの分析には不適当であった。また、従来の装置では加熱部のデッドスペースが大きいため、試料量が必然的に大きくなる。さらに、生体関連試料を扱うには、感染防止の観点から容器の取り扱いに注意を要するなどの不具合もあった。」

(イ)「【0005】
以下に、本発明の微量試料用TDS(次工程の分析装置と連結されている例)について図1を参照して説明する。
図1を参照すれば、キャリアガス供給手段(図示せず)からのキャリアガス1(例えば、高純度アルゴンまたは高純度空気)は配管2により流通する。配管2は途中で2つに分岐し、キャリアガス1は第1の流路によりマスフローコントローラー31およびモレキュラーシーブス41を経て試料留置手段6に導かれる。試料留置手段6には加熱手段7が外嵌されており、加熱手段7は温度調節手段5に接続されている。また、キャリアガス1は第2の流路によりマスフローコントローラー32およびモレキュラーシーブス42を経て試料留置手段6の出口に合流する。この出口からのキャリアガスおよびガス化試料を分析装置8に導入し、得られた信号を増幅器9で増幅してデータ分析装置10で分析し、読み取る。」

(ウ)「【0018】
また、ガス供給手段からの配管2を二分し、一方の流路が、該ガス供給手段と該該試料留置手段6との間おいて上流側に配置されたマスフローコントローラー31および下流側に配置されたモレキュラーシーブス41を経て該該試料留置手段6に至るようにし、他方の流路が、上流側に配置されたマスフローコントローラー32および下流側に配置されたモレキュラーシーブス42を経て該該試料留置手段6の出口に合流するようにして、試料量、含有成分、次工程の分析装置の感度等に応じてガス化試料を適宜希釈するようにしてもよい。マスフローコントローラー31、32はガス流量を制御するためのものであり、モレキュラーシーブス41、42は水分と不純物を除去するためのものである。これらのマスフローコントローラーおよびモレキュラーシーブスは存在していてもよく、あるいは存在しなくてもよい。」

上記の記載事項(ア)?(ウ)から、刊行物2には、以下の発明が記載されていると認められる。

「キャリアガス供給手段からのキャリアガス1が配管2により流通し、
配管2が途中で2つに分岐し、
キャリアガス1が第1の流路によりマスフローコントローラー31およびモレキュラーシーブス41を経て試料留置手段6に導かれ、
試料留置手段6には加熱手段7が外嵌されており、
キャリアガス1が第2の流路によりマスフローコントローラー32およびモレキュラーシーブス42を経て試料留置手段6の出口に合流するようにして、試料量、含有成分、次工程の分析装置の感度等に応じてガス化試料を適宜希釈し、
この出口からのキャリアガスおよびガス化試料を大気圧イオン化質量分析装置8に導入する
微量試料用熱脱離ガス発生装置。」(以下「引用発明2」という。)

(2)補正発明と引用発明1との対比
ア 引用発明1の「試料金属を加熱溶融することにより、その試料金属中に含まれている各種不純物(酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出すための加熱炉(黒鉛るつぼ)01」は、補正発明の「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉」に相当する。

イ 引用発明1の「加熱炉(黒鉛るつぼ)01」に「キャリアガス」を「供給」する「キャリアガス導入流路00」は、補正発明の「前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路」に相当する。

ウ 引用発明1が「加熱炉(黒鉛るつぼ)01」と「パージ用電磁弁02」とを接続する流路を有するのは自明であるから、引用発明1の「加熱炉(黒鉛るつぼ)01」と「パージ用電磁弁02」を接続する自明な流路と「前記ガス抽出部0Aのパージ用電磁弁02に接続されたサンプルガス導入流路03」とからなる流路は、補正発明の「前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路」に相当する。

エ 引用発明1が「調圧器04と、流量調整用ニードル弁05と、COガス濃度測定用として第1ガス濃度検出器0D_(I)と、酸化器06と、除去器07と、H_(2)O除去器08と、N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)と、排出流路09とを、その順に直列に接続」する流路を有することは自明であり、この流路は、補正発明の「導出流路」に相当する。
したがって、引用発明1の上記の自明な流路に「接続」される「COガス濃度測定用としての第1ガス濃度検出器0D_(I)」及び「N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)」は、補正発明の「前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部」に相当する。

オ 引用発明1の「調圧器04と、流量調整用ニードル弁05と、COガス濃度測定用としての第1ガス濃度検出器0D_(I)と、酸化器06と、除去器07と、H_(2)O除去器08と、N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)と、排出流路09とを、その順に直列に接続して構成されている」ことは、補正発明の「前記導出流路が一本の流路として形成されて」いることに相当する。

カ 引用発明1の「COガス濃度測定用としての第1ガス濃度検出器0D_(I)」と、「N_(2)ガス濃度測定用としての第2ガス濃度検出器0D_(II)」とが、「酸化器06と、除去器07と、H_(2)O除去器08と」を介して、「直列に接続して構成されている」ことは、補正発明の「前記元素分析部が、それぞれが異なる元素を検出する複数の検出器を具備し、各検出器が前記導出流路上に直列に設けられて」いることに相当する。

キ 引用発明1の「試料から抽出されたサンプルガスを適当に希釈する」ことと、補正発明の「前記バルブによって前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されている」こととは、「前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されている」点で共通する。

ク 引用発明1の「金属試料中に含まれている各種の不純物」「(酸素、窒素、水素など)」「の量を測定するためのガス抽出式金属試料分析装置」は、補正発明の「元素分析装置」に相当する。

そうすると、両者は
「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉と、
前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路と、
前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路と、
前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部と、を備え、
前記導出流路が一本の流路として形成されており、
前記元素分析部が、それぞれが異なる元素を検出する複数の検出器を具備し、各検出器が前記導出流路上に直列に設けられており、
前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されている元素分析装置。」
の点で一致し、以下の点で相違する。

(相違点)
「前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度」を「調節」するために、補正発明では「前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路」と、「前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブ」と、を備え、「前記バルブによって」行われるのに対し、引用発明では具体的な構成が不明な点。

(3)相違点についての検討・判断
引用発明2の「配管2が途中で2つに分岐し」、「試料留置手段6の出口に合流する」「第2の流路」と、「第2の流路」に「配置された」「マスフローコントローラー32」と、を備え、「試料量、含有成分、次工程の分析装置の感度等に応じてガス化試料を適宜希釈する」ことは、マスフローコントローラーが流量制御のために開度が調節可能なバルブを備えることが技術常識であることに鑑みれば、補正発明の「前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路」と、「前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブ」と、を備え、「前記バルブによって」行われることに相当する。よって、引用発明2は上記相違点に係る補正発明の構成をすべて含むものといえる。
そして、引用発明2は「大気圧イオン化質量分析装置8に導入する微量試料用熱脱離ガス発生装置」であって、試料に含まれる元素をガス化させて分析する装置の点で引用発明1と共通するから、引用発明1のサンプルガスの濃度を調節するための具体化手段として、引用発明2を適用して本願発明に想到することは、当業者が容易になし得たというべきである。

そして、補正発明の効果も、引用発明1、引用発明2から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別顕著なものとはいえない。

(4)小括
以上のとおり、補正発明は、引用発明1及び引用発明2に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。

4 まとめ
したがって、本件補正は、特許法第17条の2第6項において準用する同法第126条第7項の規定に違反するので、同法第159条第1項の規定において読み替えて準用する同法第53条第1項の規定により却下すべきものである。

第3 本願発明に対する判断
1 本願発明の認定
平成26年5月7日付けの手続補正は、上記のとおり却下されることとなったので、本願の請求項1?4に係る発明は、平成26年1月27日付けの手続補正書の特許請求の範囲の請求項1?4に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項1に係る発明(以下、「本願発明」という。)は、次のとおりのものである。

「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉と、
前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路と、
前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路と、
前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部と、
前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路と、
前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブと、を備え、
前記導出流路が一本の流路として形成されており、
前記バルブによって前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されていることを特徴とする元素分析装置。」

2 刊行物の記載事項
(1)本願出願前に頒布され、原査定の拒絶の理由で引用された上記刊行物1には、図面の図示と共に、次の事項が記載されている(下線は当審で付与した。)。

ア 「〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達成するために、本発明による多成分同時測定用ガス分析装置は、第1図の本考案の概念図(クレーム対応図)に示すように、サンプルガス導入流路3から供給されるサンプルガス中の少なくとも2種類の成分ガスを同時に測定可能なように、前記サンプルガス導入流路3に対して複数のガス濃度検出器D_(I)、D_(II)が連設されているものにおいて、前記複数のガス濃度検出器D_(I)、D_(II)を前記サンプルガス導入流路3に対して互いに並列関係となるように配設すると共に、前記各ガス濃度検出器D_(I)、D_(II)に対して前記サンプルガスを所定の比率で分流して夫々供給可能なサンプルガス分流手段Xを前記サンプルガス導入流路3に設け、かつ、前記サンプルガス分流手段Xと前記各ガス濃度検出器D_(I)、D_(II)の間に、夫々、前記サンプルガス分流手段Xにより分流されたサンプルガスを更に希釈可能なサンプルガス希釈手段Y_(I)、Y_(II)を設けてある、という特徴を備えている。」(3頁右上欄12行?同頁左下欄11行)

イ 「〔実施例〕
以下、本発明の具体的実施例を図面(第2図ないし第5図)に基いて説明する。
第2図は、本発明に係る多成分同時測定用ガス分析装置を利用して構成されたガス抽出式試料分析装置の全体概略構成を示している。
このガス抽出式試料分析装置は、図示するように、ガス抽出部Aとそれに連結された2成分同時測定用ガス分析部Bとから構成されている。
前記ガス抽出部Aは、キャリアガス導入流路0から供給されるキャリアガス(Heガスなどの不活性ガス)の存在下で試料(セラミックや金属など)を加熱溶融することにより、その試料中に含まれている各種成分(この例では、酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出するための加熱炉(例えば黒鉛るつぼ)1と、パージ用電磁弁2とから構成されている。
そして、前記2成分同時測定用ガス分析部Bは、前記ガス抽出部Aのパージ用電磁弁2に接続されたサンプルガス導入流路3に対して、CO濃度測定系IおよびN_(2)濃度測定系IIとを、互いに並列となる状態で夫々接続して構成されている。
前記CO濃度測定系Iは、前記サンプルガス導入流路3から分岐された第1分岐サンプルガス流路3_(I)と、前記キャリアガス導入流路0から分岐された第1キャリアガス流路0_(I)と、これら第1分岐サンプルガス流路3_(I)と第1キャリアガス流路0_(I)とに亘って設けられた第1調圧用ガバナ10_(I)と、前記第1分岐サンプルガス流路3_(I)および第1キャリアガス流路0_(I)が導入された第1分流比・希釈比設定器11_(I)と、その第1分流比・希釈比設定器11_(I)からの第1導出流路12_(I)に介装された第1調圧器4_(I)、第1流量調整用ニードル弁5_(I)、COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)と、第1排出流路9_(I)とから構成されている。
また、前記N_(2)濃度測定系IIは、前記サンプルガス導入流路3から分岐された第2分岐サンプルガス流路3_(II)と、前記キャリアガス導入流路0から分岐された第2キャリアガス流路0_(II)と、これら第2分岐サンプルガス流路3_(II)と第2キャリアガス流路0_(II)とに亘って設けられた第2調圧用ガバナ10_(II)と、前記第2分岐サンプルガス流路3_(II)および第2キャリアガス流路0_(II)が導入された第2分流比・希釈比設定器11_(II)と、その第2分流比・希釈比設定器11_(II)からの第2導出流路12_(II)に介装された第2調圧器4_(II)、第2流量調整用ニードル弁5_(II)、前記第1ガス濃度検出器D_(I)を通過したサンプルガス中のCOガスおよびH_(2)ガスを酸化してCO_(2)ガスおよびH_(2)Oガスに夫々変換するための酸化器6、そのCO_(2)ガスをCO_(2)除去剤の化学反応により除去するためのCO_(2)除去器7、そのH_(2)OガスをH_(2)O吸着剤により除去するためのH_(2)O除去器8、N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検出器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)と、第2排出流路9_(II)とから構成されている。」(4頁右上欄10行?5頁左上欄6行)

ウ 「また、上記各実施例においては、サンプルガス分流手段Xおよびサンプルガス希釈手段Y_(I)、Y_(II)を一纏めに兼用構成したサンプルガス分流・希釈手段Zを用いたものを示したが、前記第1図の本発明概念図に示したように、サンプルガス分流手段Xとサンプルガス希釈手段Y_(I)、Y_(II)を互いに独立的な別体構成としても差支え無いことは勿論である。」(7頁左上欄6?13行)

エ 「〔発明の効果〕
以上詳述したところから明らかなように、本発明に係る多成分同時測定用ガス分析装置によれば、サンプルガスを所定の比率で分流すると共に、その分流されたサンプルガスを更に希釈してから、サンプルガス導入流路に対して互いに並列関係となるように配設された複数のガス濃度検出器に対して夫々供給するように構成してあるから、例えばセラミックの分析時におけるように、高濃度の成分ガスと低濃度の成分ガスが混在しているようなサンプルガスを対象とする場合であっても、サンプルガス分流手段による分流比および各サンプルガス希釈手段による各希釈比を適当に調節設定することによって、夫々の成分ガスに対応するガス濃度検出器へ供給される各サンプルガスを夫々の測定に適した濃度にすることができるため、高濃度の主成分ガスは勿論、低濃度の不純物ガスについても非常に精度良く同時測定できると共に、試料採取量を極端に少量にする必要が無くなるので、試料採取操作の簡単化を図ることができ、しかも、試料計量精度の向上および試料内偏析影響の低減化を図れるため、この点からも総合分析精度の大幅な向上が達成でき、また、金属中の不純物分析時におけるように、全ての成分ガスが低濃度であるサンプルガスを対象とする場合や、あるいは、全ての成分ガスが高濃度であるサンプルガスを対象とするその他の場合等においても、上記と同様に、サンプルガス分流手段による分流比および各サンプルガス希釈手段の各希釈比を適当に調節設定することによって、夫々の成分ガスに対応するガス濃度検出器へ供給される各サンプルガスを夫々の測定に適した濃度にすることができるので、やはり精度の良い同時分析が可能であり、しかも、複数のガス濃度検出器をサンプルガス導入流路に対して互いに並列関係となるように配設した構成であるため、各ガス濃度検出器の下流側には他のガス濃度検出器が存在することが無く、また、それら複数のガス濃度検出器の何れかにガスに対する選択性が無い熱伝導度型検出器などを用いて、酸化器、CO_(2)除去器、H_(2)O除去器等を設ける必要がある場合にも、それら酸化器、CO_(2)除去器、H_(2)O除去器等は、その熱伝導度型ガス濃度検出器の上流にのみ設ければ足りるので、どのガス濃度検出器にも、従来生じていたような背圧影響に起因する測定誤差は生じることが無く、この点からも総合分析精度の大幅な向上が達成できるようになったのであり、結局、本発明による多成分同時測定用ガス分析装置によれば、種々の成分ガス濃度分布を有する広範囲のサンプルガスに対して、一台のみで十分に対応できると共に、常に高精度の同時測定を行うことができる、という極めて優れた効果が発揮されるのである。」(7頁左上欄14行?同頁右下欄5行)

上記の記載事項ア?エから、刊行物1には、以下の発明が記載されていると認められる。

「ガス抽出部Aとそれに連結された2成分同時測定用ガス分析部Bとから構成されているガス抽出式試料分析装置であって、
前記ガス抽出部Aは、キャリアガス導入流路0から供給されるキャリアガスの存在下で試料を加熱溶融することにより、その試料中に含まれている各種成分(酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出するための加熱炉(黒鉛るつぼ)1と、パージ用電磁弁2とから構成され、
前記2成分同時測定用ガス分析部Bは、前記ガス抽出部Aのパージ用電磁弁2に接続されたサンプルガス導入流路3に、サンプルガスを所定の比率で分流して供給可能なサンプルガス分流手段Xを介して、CO濃度測定系IおよびN_(2)濃度測定系IIとを、互いに並列となる状態で夫々接続して構成され、
前記CO濃度測定系Iは、前記サンプルガス分流手段Xにより分流されたサンプルガス分流流路及び前記キャリアガス導入流路0から分岐された第1キャリアガス流路0_(I)が導入されて前記サンプルガスを更に希釈可能なサンプルガス希釈手段Y_(I)と、そのサンプルガス希釈手段Y_(I)からの第1導出流路12_(I)に介装された第1調圧器4_(I)、第1流量調整用ニードル弁5_(I)、COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)と、第1排出流路9_(I)とから構成され、
前記N_(2)濃度測定系IIは、前記サンプルガス分流手段Xにより分流されたサンプルガス分流流路及び前記キャリアガス導入流路0から分岐された第2キャリアガス流路0_(II)が導入されて前記サンプルガスを更に希釈可能なサンプルガス希釈手段Y_(II)と、そのサンプルガス希釈手段Y_(II)からの第2導出流路12_(II)に介装された第2調圧器4_(II)、第2流量調整用ニードル弁5_(II)、酸化器6、CO_(2)除去器7、H_(2)O除去器8、N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検出器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)と、第2排出流路9_(II)とから構成されており、
サンプルガス分流手段による分流比および各サンプルガス希釈手段の各希釈比を適当に調節設定することによって、夫々の成分ガスに対応するガス濃度検出器へ供給される各サンプルガスを夫々の測定に適した濃度にすることができるガス抽出式試料分析装置。」(以下、「引用発明3」という。)

(2)本願出願前に頒布され、原査定の拒絶の理由で引用された上記刊行物2の記載事項及び記載された発明は、上記「第2」の「3」の「(1)」の「イ」に記載したとおりである。

3 本願発明と引用発明3との対比
(1)引用発明3の「試料を加熱溶融することにより、その試料中に含まれている各種成分(酸素、窒素、水素など)に対応する各種成分ガス(COガス、N_(2)ガス、H_(2)ガスなど)を抽出するための加熱炉(黒鉛るつぼ)1」は、本願発明の「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉」に相当する。

(2)引用発明3の「加熱炉(黒鉛るつぼ)1」に「キャリアガス」を「供給」する「キャリアガス導入流路0」は、本願発明の「前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路」に相当する。

(3)引用発明3が「加熱炉(黒鉛るつぼ)1」と「パージ用電磁弁2」とを接続する流路を有するのは自明であるから、引用発明3の「加熱炉(黒鉛るつぼ)1」と「パージ用電磁弁2」とを接続する自明な流路と「前記ガス抽出部Aのパージ用電磁弁2に接続されたサンプルガス導入流路3」は、本願発明の「前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路」に相当する。

(4)引用発明3が「第1導出流路12_(I)に介装された第1調圧器4_(I)、第1流量調整用ニードル弁5_(I)、COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)と、第1排出流路9_(I)」を接続する流路を有することは自明であり、この流路は、本願発明の「導出流路」に相当する。
よって、引用発明3のこの自明な流路に「接続」される「COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)」は、本願発明の「前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部」に相当する。
また、引用発明3が「第2導出流路12_(II)に介装された第2調圧器4_(II)、第2流量調整用ニードル弁5_(II)、酸化器6、CO_(2)除去器7、H_(2)O除去器8、N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検出器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)と、第2排出流路9_(II)」を接続する流路を有することは自明であり、この流路は、本願発明の「導出流路」に相当する。
よって、引用発明3のこの自明な流路に「接続」される「N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検出器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)」も、本願発明の「前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部」に相当する。

(5)引用発明3の「キャリアガス導入流路0から分岐され」「サンプルガス希釈手段Y_(I)」を介して「第1導出流路12_(I)」に接続される「第1キャリアガス流路0_(I)」、及び、「キャリアガス導入流路0から分岐され」「サンプルガス希釈手段Y_(II)」を介して「第2導出流路12_(II)」に接続される「第2キャリアガス流路0_(II)」は、いずれも、本願発明の「前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路」に相当する。

(6)引用発明3の「夫々の成分ガスに対応するガス濃度検出器へ供給される各サンプルガスを夫々の測定に適した濃度にする」ことと、本願発明の「前記バルブによって前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されている」こととは、「前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されている」点で共通する。

そうすると、両者は、
「るつぼ内に収容された試料を加熱し、前記試料内に含まれる元素をガス化させてサンプルガスとするための抽出炉と、
前記抽出炉に対してキャリアガスを導入するための導入流路と、
前記サンプルガスと前記キャリアガスが混合された混合ガスを前記抽出炉から導出するための導出流路と、
前記導出流路上に設けられており、前記混合ガスに含まれる元素を分析する元素分析部と、
前記導入流路から分岐して、前記導出流路において前記元素分析部の上流側に合流するバイパス流路と、を備え、
前記元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度が調節されるように構成されていることを特徴とする元素分析装置。」
の点で一致し、以下の点で相違する。

(相違点1)
元素分析部における混合ガス中のサンプルガスの濃度を調節するために、本願発明は「前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブ」を備え、「前記バルブによって」濃度の調節が行われるのに対し、引用発明3は「サンプルガス分流手段による分流比および各サンプルガス希釈手段の各希釈比を適当に調節設定する」ものであるが、本願発明の「バイパス流路」に相当する「第1キャリアガス流路0_(I)」及び「第2キャリアガス流路0_(II)」に、開度が調節可能なバルブが設けられるか否か不明な点。

(相違点2)
本願発明は「前記導出流路が一本の流路として形成されて」いるのに対し、引用発明3は、上記(4)で述べたように、「第1導出流路12_(I)に介装された第1調圧器4_(I)、第1流量調整用ニードル弁5_(I)、COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)と、第1排出流路9_(I)」を接続する流路と、「第2導出流路12_(II)に介装された第2調圧器4_(II)、第2流量調整用ニードル弁5_(II)、酸化器6、CO_(2)除去器7、H_(2)O除去器8、N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検出器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)と、第2排出流路9_(II)」を接続する流路の二本の流路からなる点。

4 相違点についての検討・判断
(相違点1について)
引用発明2の「第2の流路」に「配置された」「マスフローコントローラー32」を備え、「試料量、含有成分、次工程の分析装置の感度等に応じてガス化試料を適宜希釈する」ことは、マスフローコントローラーが流量制御のために開度が調節可能なバルブを備えることが技術常識であることに鑑みれば、本願発明の「前記バイパス流路上に設けられており、開度が調節可能なバルブ」と、を備え、「前記バルブによって」濃度の調節が行われることに相当する。よって、引用発明2は上記相違点1に係る本願発明の構成をすべて含むものといえる。
そして、引用発明2は「大気圧イオン化質量分析装置8に導入する微量試料用熱脱離ガス発生装置」であって、試料に含まれる元素をガス化させて分析する装置の点で引用発明3と共通するから、引用発明3のサンプルガスの濃度を調節するための具体化手段として、引用発明2を適用して本願発明に想到することは、当業者が容易になし得たというべきである。

(相違点2について)
引用発明3は、「COガス濃度」と「N_(2)ガス濃度」の両者を検出するものであるが、元素分析の必要に応じて単純に1つの成分のみを検出対象とするものとして、「第1導出流路12_(I)に介装された第1調圧器4_(I)、第1流量調整用ニードル弁5_(I)、COガス濃度測定用非分散型赤外線検出器から成る第1ガス濃度検出器D_(I)と、第1排出流路9_(I)」を接続する流路のみとするか、「第2導出流路12_(II)に介装された第2調圧器4_(II)、第2流量調整用ニードル弁5_(II)、酸化器6、CO_(2)除去器7、H_(2)O除去器8、N_(2)ガス濃度測定用熱伝導型検知器から成る第2ガス濃度検出器D_(II)と、第2排出流路9_(II)」を接続する流路のみとして、一本の流路とすることは当業者が容易になし得たというべきである。

そして、本願発明の効果も、引用発明3及び引用発明2から当業者が予測し得る範囲内のものであり、格別顕著なものとはいえない。

第4 むすび
以上のとおり、本願発明は、引用発明3及び引用発明2に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。
したがって、本願は、他の請求項について検討するまでもなく、拒絶すべきものである。
よって、結論のとおり審決する。
 
審理終結日 2015-06-12 
結審通知日 2015-06-16 
審決日 2015-06-29 
出願番号 特願2012-21757(P2012-21757)
審決分類 P 1 8・ 121- Z (G01N)
P 1 8・ 575- Z (G01N)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 ▲高▼見 重雄  
特許庁審判長 森林 克郎
特許庁審判官 藤田 年彦
麻生 哲朗
発明の名称 元素分析装置  
代理人 西村 竜平  

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