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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録(定型) C30B
審判 査定不服 1項3号刊行物記載 取り消して特許、登録(定型) C30B
管理番号 1317434
審判番号 不服2015-11759  
総通号数 201 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2016-09-30 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2015-06-23 
確定日 2016-08-16 
事件の表示 特願2011-509265「薄膜付き基板、半導体装置、および半導体装置の製造方法」拒絶査定不服審判事件〔平成22年10月21日国際公開、WO2010/119792、請求項の数(15)〕について、次のとおり審決する。 
結論 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 
理由 本願は、2010年 4月 6日(優先権主張 2009年 4月15日、日本国)を国際出願日とする出願であって、その請求項1?15に係る発明は、平成28年 7月 1日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項1?15に記載された事項により特定されるとおりのものであると認める。
そして、本願については、原査定の拒絶理由及び当審からの拒絶理由のいずれを検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。
また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
よって、結論のとおり審決する。
 
審決日 2016-08-01 
出願番号 特願2011-509265(P2011-509265)
審決分類 P 1 8・ 113- WYF (C30B)
P 1 8・ 121- WYF (C30B)
最終処分 成立  
前審関与審査官 村岡 一磨萩原 周治  
特許庁審判長 大橋 賢一
特許庁審判官 宮澤 尚之
永田 史泰
発明の名称 薄膜付き基板、半導体装置、および半導体装置の製造方法  
代理人 二島 英明  
代理人 緒方 大介  
代理人 後 利彦  
代理人 小村 修  
代理人 木村 成利  

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