• ポートフォリオ機能


ポートフォリオを新規に作成して保存
既存のポートフォリオに追加保存

  • この表をプリントする
PDF PDFをダウンロード
審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録 A61B
管理番号 1370445
審判番号 不服2020-3596  
総通号数 255 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2021-03-26 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2020-03-16 
確定日 2021-02-09 
事件の表示 特願2015-208905「X線診断装置」拒絶査定不服審判事件〔平成29年 5月18日出願公開、特開2017- 79858、請求項の数(11)〕について、次のとおり審決する。 
結論 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 
理由 第1 手続の経緯
本願は、平成27年10月23日の出願であって、令和元年7月3日付けで拒絶理由が通知され、同年9月9日付けで意見書及び手続補正書が提出され、同年12月11日付けで拒絶査定(以下「原査定」という。)されたところ、令和2年3月16日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。その後当審において同年9月30日付けで拒絶理由が通知され、同年12月7日付けで意見書及び手続補正書が提出されたものである。

第2 原査定の概要
原査定の概要は次のとおりである。

本願請求項1?11に係る発明は、以下の引用文献A?Hに基づいて、その発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者(以下、「当業者」という。)が容易に発明できたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。

引用文献等一覧
A.特開昭54-123891号公報
B.特開平7-29532号公報(周知技術を示す文献)
C.特開2004-139790号公報(周知技術を示す文献)
D.特開平7-240296号公報(周知技術を示す文献)
E.特開2015-171480号公報(周知技術を示す文献)
F.特開2011-115369号公報(周知技術を示す文献)
G.特開2008-77883号公報(周知技術を示す文献)
H.特開2006-120544号公報(周知技術を示す文献)

第3 当審拒絶理由の概要
当審拒絶理由の概要は次のとおりである。

本願請求項1?3及び5?11に係る発明は、以下の引用文献1?6に基づいて、当業者が容易に発明できたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。

引用文献1:特開2004-139790号公報(原査定の引用文献C)
引用文献2:特開平7-29532号公報(原査定の引用文献B)
引用文献3:特開平7-240296号公報(原査定の引用文献D)
引用文献4:特開2015-171480号公報(原査定の引用文献E)
引用文献5:特開2008-77883号公報(原査定の引用文献G)
引用文献6:特開2006-120544号公報(原査定の引用文献H)

第4 本願発明
本願請求項1?11に係る発明(以下、それぞれ「本願発明1」?「本願発明11」という。)は、令和2年12月7日付けの手続補正で補正された特許請求の範囲の請求項1?11に記載された事項により特定される発明であり、以下のとおりの発明である。

「 【請求項1】
電子を放出するフィラメントと、前記電子を受けることによりX線を発生させるターゲットと、前記フィラメントの周囲の電位勾配を調整するための電位を有するグリッドとを有するX線管装置と、
前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替えるグリッド電位制御部と、
前記フィラメントと前記ターゲットとの間に流れている管電流を検出する管電流検出部と、
前記フィラメントを流れるフィラメント電流を制御するフィラメント電流制御部と
を備え、
前記フィラメント電流制御部は、目標管電流の切り替えに伴って、前記フィラメント電流の設定値を前記目標管電流に対応する値に変更し、
前記グリッド電位制御部は、前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替えた後、前記管電流検出部が検出した管電流が前記目標管電流より大きくなった場合、前記グリッドの電位を低くし、前記管電流検出部が検出した管電流が目標管電流より小さくなった場合、前記グリッドの電位を高くする制御を行う、X線診断装置。
【請求項2】
前記グリッド電位制御部は、パルス透視が行われる場合、前記パルス透視のフレームレートより短い周期で前記制御を行う、請求項1に記載のX線診断装置。
【請求項3】
前記グリッド電位制御部は、パルス透視が行われる場合、前記パルス透視のフレームごとに前記制御を行う、請求項1に記載のX線診断装置。
【請求項4】
前記フィラメント電流制御部から送信された信号に基づいて前記フィラメントを流れる電流を制御するフィラメントトランスと、
前記管電流検出部が検出した管電流の値を受け取り、前記値に基づいて前記グリッド電位制御部を制御する制御部と、
を更に備え、
前記管電流検出部及び前記フィラメントトランスは、前記X線管装置内に設けられ、前記値は、前記管電流検出部が検出した管電流が流れる経路と異なる経路を経由して前記管電流検出部から前記制御部へ送信される、請求項1から請求項3のいずれか一つに記載のX線診断装置。
【請求項5】
前記グリッド電位制御部は、撮影条件に応じた目標管電流と前記グリッドの電位との関係に基づいて前記グリッドの電位を切り替える、請求項1から請求項4のいずれか一つに記載のX線診断装置。
【請求項6】
前記関係は、実測により求められている、請求項5に記載のX線診断装置。
【請求項7】
前記関係は、シミュレーションにより求められている、請求項5に記載のX線診断装置。
【請求項8】
前記関係は、前記フィラメントの太さに応じて更新される、請求項5から請求項7のいずれか一つに記載のX線診断装置。
【請求項9】
前記関係は、定期的に更新される、請求項5から請求項7のいずれか一つに記載のX線診断装置。
【請求項10】
前記フィラメントを流れる電流を測定するフィラメント電流測定部を更に備え、
前記グリッド電位制御部は、前記関係及び前記フィラメント電流測定部が測定した電流に基づいて前記グリッドの電位を切り替える、請求項5から請求項9のいずれか一つに記載のX線診断装置。
【請求項11】
前記フィラメントの温度を測定するフィラメント温度測定部を更に備え、
前記グリッド電位制御部は、前記関係及び前記フィラメント温度測定部が測定した温度に基づいて前記グリッドの電位を切り替える、請求項5から請求項9のいずれか一つに記載のX線診断装置。」

第5 引用文献、引用発明等
1 引用文献1について
ア 引用文献1に記載された事項
令和2年9月30日付けの拒絶の理由に引用された引用文献1には、図面とともに次の事項が記載されている。(下線は、当審にて付した。以下同様。)

(引1a)「【0002】
【従来の技術】
X線管装置では、陰極フィラメントに電流を流して加熱し、それにより放出された熱電子を高電圧により陽極のターゲットに衝突させることによりX線を発生させる。陰極から陽極への電子ビームにより流れる管電流の制御は、陰極フィラメントに流す電流を増減することにより行われるのが一般的である。フィラメント電流を増減させることによりフィラメントの温度が変化して、フィラメントから放出される熱電子の量が変化する。それに応じて管電流も変化する。」

(引1b)「【0009】
X線診断装置について簡単に説明すると、X線診断装置では、X線管装置のX線管が、フラットパネル又はイメージインテンシファイアとTVカメラとの組み合わせで構成されたX線検出器に対して被検体を挟んでアーム又はスタンドにより保持されている。X線検出器で検出されたX線信号に基づいて画像データが生成され、表示される。
【0010】
図1は本実施形態に係るX線管装置の主要部の構成を示す図である。X線管装置は、グリッド制御X線管10とX線高電圧装置20と制御装置30とから構成される。X線管10は、内部が高真空に保持されているガラスバルブ11を有する。ガラスバルブ11には、一般的には回転式の陽極12と、陰極とが収容される。陰極は、フィラメント13と、図示しない集束電極とから構成される。陰極と陽極11との間には、グリッド14が配置される。
【0011】
X線高電圧装置20は、陽極12と陰極との間に高電圧を印加するための高電圧電源21と、高電圧電源21の出力を制御する高電圧制御回路22と、フィラメント13にフィラメント制御電流を供給するフィラメント加熱電源23と、陰極13に対してグリッド14に負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)を印加するグリッド制御用電源24と、フィラメント加熱電源23とグリッド制御用電源24を制御する陰極制御回路25とを有する。
【0012】
制御装置30は、X線制御回路31を有する。X線制御回路31は、管電圧制御信号を高電圧制御回路22に供給する。管電圧制御信号に応じた電圧が陽極12と陰極との間に印加される。フィラメント電流制御信号に応じたフィラメント制御電流がフィラメント加熱電源23から発生される。実際にフィラメント13に流れる電流は、管電流が流れていないとき、フィラメント制御電流に一致し、また管電流が流れているとき、フィラメント制御電流と管電流との和又は差に一致する。グリッド制御用電源24は、グリッド電圧を、グリッド電圧制御信号に応じた電圧だけ、陰極電位から低下する。陰極電位に対するグリッド電位を調整することにより、電子の放出を制御することができる。なお、陰極から陽極12への電子の放出を阻止する電位をカットオフ電位と称する。このカットオフ電位よりも低い領域をカットオフ領域と称する。カットオフ電位から陰極電位までの電圧範囲は、陰極から陽極12への電子の放出が許可され、その範囲を能動領域と称する。」

(引1c)「【0021】
なお、図3に示すように、トリガ時に、プレフラッシュ制御をかけるが、グリッド電圧制御はかけない場合であっても、これらを共にかけないよりも、管電流の設定値までの立ち上がり時間は短縮される。従って、X線制御回路31としては、プレフラッシュ制御とグリッド電圧制御とを共にかけるモードだけでなく、プレフラッシュ制御をかけ、グリッド電圧制御はかけないモードを装備して、選択的に使用可能とするようにしても良い。
【0022】
次に、透視期間中、自動輝度制御機能により、管電流の値が変動される。この管電流の変動のために、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流の初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)に対応する値から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に対応する値に変位される。それによりフィラメント電流は、初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に変化する。しかし、フィラメント13の熱慣性により、フィラメント温度は、フィラメント電流の変位に対して即時的に変化しない。そのため管電流はフィラメント電流の変位に対して遅延して変位する。
【0023】
この遅延時間を短縮するために、フィラメント電流制御とともに、グリッド電圧の変位がフィラメント電流の変位に併用される。つまり、例えば管電流をI_(11)からI_(12)に下げるとき、グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、能動領域内において、陰極電位に近い値V_(11)から、電子放出率の低いV_(12)に低下され、逆に、管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき、グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高いV_(13)に高位に変化される。
【0024】
また、透視期間中に、管電流を上昇させるときには、トリガ時と同様に、プレフラッシュ制御がかけられる。つまり、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流上昇時から極短い所定時間の間、管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)よりも所定値ΔIだけ高いプレフラッシュ電流値I_(P2)に対応する値に急峻に上昇される。このように管電流上昇時には、それから極短時間の期間、フィラメント電流が、管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)よりも高い値I_(P2)で流されることにより、フィラメント温度は、管電流の輝度制御値I_(13)に対応する温度まで短時間で上昇する。
【0025】
このようにトリガ時及び透視期間中に、プレフラッシュ制御とグリッド電圧制御を併用することにより、管電流の即応性を向上させることができる。」

(引1d)「【0026】
なお、図4に示すように、透視期間中に、輝度制御のための管電流制御は、フィラメント電流を、透視時の最大管電流に対応する一定値に維持し、グリッド電圧制御単独で実現するようにしても良い。
【0027】
また、透視トリガ時のプレフラッシュ制御に代えて、図5に示すように、システムの電源投入後、透視トリガ前であって、X線診断装置の動作が可能となった段階で、フィラメント電流を透視の最大管電流に対応する一定値に維持するとともに、グリッド電圧をカットオフ領域内の電圧に維持して、電子放出を阻止し、透視トリガとともに、グリッド電圧をカットオフ領域内の電圧から能動領域内の電圧に急峻に上昇させるようにしても良い。透視トリガ時には既にフィラメント13の温度は透視の最大管電流が出力可能な温度となっているため、管電流が安定するまでの時間遅れはグリッド制御のみに依存する。よって、透視トリガ時に透視像が安定するまでの時間を短縮できる。」

イ 引用文献1に記載された発明
(ア)上記(引1b)及び(引1c)より、引用文献1には以下の事項が記載されている。

「X線管装置が、フラットパネル又はイメージインテンシファイアとTVカメラとの組み合わせで構成されたX線診断装置において、
X線管装置は、グリッド制御X線管10とX線高電圧装置20と制御装置30とから構成され、
X線管10は、内部が高真空に保持されているガラスバルブ11を有し、
ガラスバルブ11には、陽極12と、陰極とが収容され、
陰極は、フィラメント13から構成され、
陰極と陽極11との間には、グリッド14が配置され、
X線高電圧装置20は、陽極12と陰極との間に高電圧を印加するための高電圧電源21と、高電圧電源21の出力を制御する高電圧制御回路22と、フィラメント13にフィラメント制御電流を供給するフィラメント加熱電源23と、陰極13に対してグリッド14に負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)を印加するグリッド制御用電源24と、フィラメント加熱電源23とグリッド制御用電源24を制御する陰極制御回路25とを有し、
制御装置30は、X線制御回路31を有し、
X線制御回路31は、管電圧制御信号を高電圧制御回路22に供給し、
フィラメント電流制御信号に応じたフィラメント制御電流がフィラメント加熱電源23から発生され、
グリッド制御用電源24は、グリッド電圧を、グリッド電圧制御信号に応じた電圧だけ、陰極電位から低下させ、
陰極電位に対するグリッド電位を調整することにより、電子の放出を制御することができ、
透視期間中、自動輝度制御機能により、管電流の値が変動され、
管電流の変動のために、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流の初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)に対応する値から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に対応する値に変位され、
フィラメント電流は、初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に変化し、
フィラメント電流制御とともに、グリッド電圧の変位がフィラメント電流の変位に併用され、
管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき、グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高いV_(13)に高位に変化され、
透視期間中に、管電流を上昇させるときには、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流上昇時から極短い所定時間の間、管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)よりも所定値ΔIだけ高いプレフラッシュ電流値I_(P2)に対応する値に急峻に上昇される
X線診断装置。」

(イ)上記(引1a)より、「X線管装置では、陰極フィラメントに電流を流して加熱し、それにより放出された熱電子を高電圧により陽極のターゲットに衝突させることによりX線を発生させる。陰極から陽極への電子ビームにより流れる管電流の制御は、陰極フィラメントに流す電流を増減することにより行われるのが一般的である」ことが記載されている。

(ウ)上記(引1d)より、引用文献1には「透視期間中に、輝度制御のための管電流制御は、フィラメント電流を、透視時の最大管電流に対応する一定値に維持し、グリッド電圧制御単独で実現するようにしても良い」旨記載され、また、「透視トリガ時のプレフラッシュ制御に代えて」、「フィラメント電流を透視の最大管電流に対応する一定値に維持するとともに、グリッド電圧をカットオフ領域内の電圧に維持して、電子放出を阻止し、透視トリガとともに、グリッド電圧をカットオフ領域内の電圧から能動領域内の電圧に急峻に上昇させるようにしても良い」旨記載され、これらのことによっても「透視トリガ時に透視像が安定するまでの時間を短縮できる」旨記載されていることから、引用文献1には、上記aにおける事項において、「透視期間中に、管電流を上昇させるとき」の、「フィラメント電流制御信号」を、「所定値ΔIだけ高いプレフラッシュ電流値I_(P2)」ではなく「管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)」に上昇させ、グリッド電圧制御単独で能動領域内の電圧に急峻に上昇させる構成も記載されているといえる。

(エ)上記(イ)及び(ウ)を踏まえると、上記(ア)より、引用文献1には以下の発明(以下「引用発明」という。)が記載されている。

「X線管装置が、フラットパネル又はイメージインテンシファイアとTVカメラとの組み合わせで構成されたX線診断装置において、
X線管装置は、グリッド制御X線管10とX線高電圧装置20と制御装置30とから構成され、
X線管10は、内部が高真空に保持されているガラスバルブ11を有し、
ガラスバルブ11には、陽極12と、陰極とが収容され、
陽極12は、熱電子を衝突させることによりX線を発生させるターゲットを含み、
陰極は、熱電子を放出するフィラメント13から構成され、
陰極と陽極11との間には、グリッド14が配置され、
X線高電圧装置20は、陽極12と陰極との間に高電圧を印加するための高電圧電源21と、高電圧電源21の出力を制御する高電圧制御回路22と、フィラメント13にフィラメント制御電流を供給するフィラメント加熱電源23と、陰極13に対してグリッド14に負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)を印加するグリッド制御用電源24と、フィラメント加熱電源23とグリッド制御用電源24を制御する陰極制御回路25とを有し、
制御装置30は、X線制御回路31を有し、
X線制御回路31は、管電圧制御信号を高電圧制御回路22に供給し、
フィラメント電流制御信号に応じたフィラメント制御電流がフィラメント加熱電源23から発生され、
グリッド制御用電源24は、グリッド電圧を、グリッド電圧制御信号に応じた電圧だけ、陰極電位から低下させ、
陰極電位に対するグリッド電位を調整することにより、電子の放出を制御することができ、
透視期間中、自動輝度制御機能により、管電流の値が変動され、
管電流の変動のために、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流の初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)に対応する値から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に対応する値に変位され、
フィラメント電流は、初期設定値I_(11)に対応するフィラメント電流値I_(21)から、変動された管電流の値I_(12)に対応するフィラメント電流値I_(22)に変化し、
フィラメント電流制御とともに、グリッド電圧の変位がフィラメント電流の変位に併用され、
管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき、
フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)に対応する値に上昇され、
グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させる
X線診断装置。」

2 引用文献2について
ア 引用文献2に記載された事項
引用文献2には、以下の事項が記載されている。

(引2a)「【0037】図13は、本実施例に係るX線装置の動作を示すブロック図である。このブロック図は、マイクロフォーカスX線管10を動作させる動作ブロック部100と、動作ブロック部100を制御する制御ブロック部200とに分かれる。
【0038】動作ブロック部100は、マイクロフォーカスX線管10のターゲット電圧を制御するターゲット制御部110と、ターゲット16aの過電流を検出するターゲット過電流検出部120と、マイクロフォーカスX線管10のグリッド電圧を制御するグリッド制御部130とを備えている。さらに、マイクロフォーカスX線管10のカソード電圧を制御するカソード制御部140と、マイクロフォーカスX線管10のヒーター電圧を制御するヒーター制御部150とを備えている。」

(引2b)「【0040】図14は、動作ブロック部100の詳細構成を示すブロック図である。同図より、ターゲット制御部110は、電圧設定D/Aコンバータ210からターゲット電圧設定電圧が与えられてターゲット電圧を制御するターゲット電圧制御部111と、ターゲット電圧制御部111の指示を受けて所望のターゲット高電圧を発生させるターゲット高電圧発生部112とを備えている。ターゲット過電流検出部120は、ターゲット高電圧発生部112で発生したターゲット電流の過電流を検出する過電流検出部121と、ターゲット高電圧発生部112で発生したターゲット電圧の過電圧を検出する過電圧検出部122とを備えている。
【0041】グリッド制御部130は、ターゲット電流を検出するターゲット電流検出部131と、ターゲット電流検出部131で検出したターゲット電流と電流設定D/Aコンバータ220から出力された設定電流信号を比較するターゲット電流比較部132と、カットオフ電圧制御設定部133とを備えている。さらに、ターゲット電流比較部132での比較結果に基づいてグリッド電圧を制御するグリッド電圧制御部134と、グリッド電圧制御部134の指示を受けて所望のグリッド電圧を発生させるグリッド電圧発生部135とを備えている。」

(引2c)「【0053】したがって、グリッド電圧は、カソード電圧に追従し、設定されたターゲット電流となるように制御されるバイアス電圧として動作する。このバイアス電圧はトランスT_(2 )の1次側の電圧で制御され、周波数は一定となる。」

イ 引用文献2に記載された技術事項
上記(引2a)及び(引2b)より、引用文献2には以下の技術事項(以下「技術事項2」という。)が記載されている。

「X線装置は、マイクロフォーカスX線管10を動作させる動作ブロック部100と、動作ブロック部100を制御する制御ブロック部200とに分かれ、
動作ブロック部100は、マイクロフォーカスX線管10のターゲット電圧を制御するターゲット制御部110と、ターゲット16aの過電流を検出するターゲット過電流検出部120と、マイクロフォーカスX線管10のグリッド電圧を制御するグリッド制御部130とを備え、
動作ブロック部100のターゲット制御部110は、電圧設定D/Aコンバータ210からターゲット電圧設定電圧が与えられてターゲット電圧を制御するターゲット電圧制御部111と、ターゲット電圧制御部111の指示を受けて所望のターゲット高電圧を発生させるターゲット高電圧発生部112とを備え、
グリッド制御部130は、ターゲット電流を検出するターゲット電流検出部131と、ターゲット電流検出部131で検出したターゲット電流と電流設定D/Aコンバータ220から出力された設定電流信号を比較するターゲット電流比較部132と、カットオフ電圧制御設定部133とを備え、
ターゲット電流比較部132での比較結果に基づいてグリッド電圧を制御するグリッド電圧制御部134と、グリッド電圧制御部134の指示を受けて所望のグリッド電圧を発生させるグリッド電圧発生部135とを備えているX線装置。」

3 引用文献3について
引用文献3には、以下の事項が記載されている。

(引3a)「【0008】本発明の第3の目的は、3極X線管の格子に尖頭電圧が+10kv以下の正のパルス高電圧を印加し、該尖頭電圧を変化させることにより熱陰極の印加電圧を固定した場合でも管電流が調整でき、最大管電流が2A程度、X線照射時間が1μs程度で、最大周波数が500kHz程度の繰返パルスX線を得ることである。」

4 引用文献4について
引用文献4には、以下の事項が記載されている。

(引4a)「【0032】
通信部23で照射許可信号が受信され、かつ照射開始指示信号が入力された場合、線源制御部21は、電圧発生部20を動作させてX線源10によるX線の照射を開始させる。具体的には、撮影条件で設定された管電圧をターゲットに印加させた後、撮影条件で設定された管電流に応じた電圧をグリッド電極に印加させる。
【0033】
また、照射開始指示信号が入力された場合、カセッテ制御部22は、通信部23を介して電子カセッテ11にX線の照射が開始されたことを示す照射開始信号を送信させる。電子カセッテ11は、照射開始信号を受信すると、蓄積動作を開始する。これにより、X線源10によるX線の照射開始タイミングと電子カセッテ11の蓄積動作の開始タイミングとの同期がとられる。
【0034】
線源制御部21は、照射開始指示信号が入力されてX線の照射が開始されたときに計時を開始するタイマー25を有する。タイマー25で計時した時間が撮影条件で設定された照射時間となったとき、線源制御部21は、電圧発生部20を動作させてX線源10によるX線の照射を停止させる。具体的には、グリッド電極に印加する電圧をウォームアップ時の印加電圧に切り替えさせ、続いてターゲットに対する電圧印加を停止させ、最後にフィラメントに対する電圧印加を停止させる。なお、線源制御部21は、安全規制上、制御装置12に設定されている最大照射時間となった場合も、タイマー25で計時した時間が撮影条件で設定された照射時間となった場合と同様にX線の照射を停止させる。」

5 引用文献5について
ア 引用文献5に記載された事項
引用文献5には、以下の事項が記載されている。

(引5ア)「【0012】
本発明により正常な状態のフィラメントについてのフィラメント電流値とフィラメント電流をその値に調整する制御パラメータ値の関係をあらかじめX線高電圧装置内に記憶させておき、その後X線撮影または透視を行うためにフィラメントに電流を流すごとに、フィラメント電流を制御するためにフィラメント電流制御部がフィラメント電流調整部に出力するパラメータ値に対して記憶しているフィラメント電流値と、実測されるフィラメント電流値が一致しているか否かによりフィラメント異常の有無を検出できるので、従来に比べて簡便に、かつX線高電圧装置のコストアップのより少ない方法でフィラメント異常を検出することができる。」

イ 引用文献5に記載された技術事項
上記(引5ア)より、引用文献5には、以下の技術事項(以下「技術事項5」という。)が記載されている。

「フィラメント電流を制御するためにフィラメント電流制御部がフィラメント電流調整部に出力するパラメータ値に対して記憶しているフィラメント電流値と、実測されるフィラメント電流値が一致しているか否かを検出する技術。」

6 引用文献6について
ア 引用文献6に記載された事項
引用文献6には以下の事項が記載されている。

(引6ア)「【0021】
本発明によれば,X線管のフィラメント温度を検出し、この検出した温度を目標のフィラメント温度に一致するように前記フィラメント加熱電力を制御するようにしたので、従来問題となっていたフィラメントの加熱不足による画質低下とフィラメントの加熱制御の複雑化が解消されて、非加熱状態のフィラメントを高速で最適温度まで加熱することができる。」

イ 引用文献6に記載された技術事項
上記(引6ア)より、引用文献6には以下の技術事項(以下「技術事項6」という。)が記載されている。

「X線管のフィラメント温度を検出し、この検出した温度を目標のフィラメント温度に一致するように前記フィラメント加熱電力を制御する技術。」

第6 対比・判断
1 本願発明1について
(1)対比
本願発明1と引用発明とを比較する。

ア 引用発明の「X線診断装置」、「X線管装置」、「熱電子を放出するフィラメント13」、「熱電子を衝突させることによりX線を発生させるターゲット」及び「グリッド14」は、それぞれ、本願発明1の「X線診断装置」、「X線管装置」、「電子を放出するフィラメント」、「前記電子を受けることによりX線を発生させるターゲット」及び「グリッド」に相当する。そして、引用発明の「グリッド14」は、「グリッド制御用電源24」により「負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)」が印加され、「陰極電位に対するグリッド電位を調整することにより、電子の放出を制御することができ」るものであって、「グリッド14」に印可された「電子の放出を制御することができ」る「陰極電位に対するグリッド電位」は、「フィラメント13」の周囲の電位勾配を調整するための電位であるといえるから、引用発明の「電子の放出を制御することができ」る「陰極電位に対するグリッド電位」が印可された「グリッド14」は、本願発明1の「前記フィラメントの周囲の電位勾配を調整するための電位を有するグリッド」に相当する。

イ 引用発明の「グリッド制御用電源24」は、「陰極13に対してグリッド14に負のバイアス電圧(グリッド制御電圧)を印加する」ものであって、「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき」、「グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させる」ものであって、「値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させ」た後の電位は、「陰極」の周囲の電位勾配が大きくなる電位であるから、引用発明の「陰極制御回路25」の「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき、グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させる」ように「グリッド制御用電源24を制御する」構成と、本願発明1の「前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替えるグリッド電位制御部」とは、「前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が大きくなる電位に切り替えるグリッド電位制御部」である点で共通し、「陰極制御回路25」を有する引用発明の「X線管装置」と本願発明1の「X線管装置」とは、「前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が大きくなる電位に切り替えるグリッド電位制御部」「を備え」ている点で共通する。

ウ 引用発明の「陰極制御回路25」は、「フィラメント加熱電源23とグリッド制御用電源24を制御する」ものであって、「フィラメント加熱電源23」は、「フィラメント13にフィラメント制御電流を供給する」ものであるから、引用発明の「陰極制御回路25」の「フィラメント13にフィラメント制御電流を供給するフィラメント加熱電源23」を「制御する」構成は、本願発明1の「前記フィラメントを流れるフィラメント電流を制御するフィラメント電流制御部」に相当する。
そうすると、「陰極制御回路25」を有する引用発明の「X線管装置」と本願発明1の「X線管装置」とは、「前記フィラメントを流れるフィラメント電流を制御するフィラメント電流制御部とを備え」ている点で一致する。

エ 引用発明の「透視期間中、自動輝度制御機能により、管電流の値が変動され」、「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき、フィラメント電流制御信号は、X線制御回路31により、管電流の輝度制御値I_(13)に対応するフィラメント電流値I_(23)に対応する値に上昇され」ることは、本願発明1の「前記フィラメント電流制御部は、目標管電流の切り替えに伴って、前記フィラメント電流の設定値を前記目標管電流に対応する値に変更」することに相当する。

オ 引用発明の「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき」、「グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させる」ことと、本願発明1の「前記グリッド電位制御部は、前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」ることとは、「前記グリッド電位制御部は、前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が大きくなる電位に切り替え」ることで共通する。

カ 以上ア?オより、本願発明1と引用発明との間には、以下の一致点及び相違点が有る。

(一致点)「電子を放出するフィラメントと、前記電子を受けることによりX線を発生させるターゲットと、前記フィラメントの周囲の電位勾配を調整するための電位を有するグリッドとを有するX線管装置と、
前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が大きくなる電位に切り替えるグリッド電位制御部と、
前記フィラメントを流れるフィラメント電流を制御するフィラメント電流制御部と
を備え、
前記フィラメント電流制御部は、目標管電流の切り替えに伴って、前記フィラメント電流の設定値を前記目標管電流に対応する値に変更し、
前記グリッド電位制御部は、前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が大きくなる電位に切り替える、X線診断装置」

(相違点)本願発明は、「前記フィラメントと前記ターゲットとの間に流れている管電流を検出する管電流検出部」を備え、「前記グリッド電位制御部」は、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替えた後、前記管電流検出部が検出した管電流が前記目標管電流より大きくなった場合、前記グリッドの電位を低くし、前記管電流検出部が検出した管電流が目標管電流より小さくなった場合、前記グリッドの電位を高くする制御を行う」構成を有しているのに対し、引用発明は、「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき」、「グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させる」構成は有しているものの、「フィラメント13」と「ターゲット」との間に流れている管電流を検出する管電流検出部が特定されておらず、そして、「管電流をI_(12)からI_(13)に上げるとき」、「グリッド電圧制御信号は、X線制御回路31により、陰極から陽極12への電子の放出が許可される範囲である能動領域内において、値V_(12)から、電子放出率の高い電圧に急峻に上昇させ」た後の「グリッド電圧」がどの程度の電位であって、「上昇させ」た後に、どのように制御するのか、特定されていない点。

(2)判断
上記相違点について検討する。

ア 技術事項2の「X線装置」、「ターゲット電流」及び「グリッド制御部130」は、それぞれ、本願発明1の「X線管装置」、「管電流」及び「グリッド電位制御部」に相当する。そして、技術事項2の「ターゲット電流を検出するターゲット電流検出部131」は、本願発明1の「管電流を検出する管電流検出部」に相当する。

イ 技術事項2の「ターゲット電流比較部132」は、「ターゲット電流を検出するターゲット電流検出部131と、ターゲット電流検出部131で検出したターゲット電流と電流設定D/Aコンバータ220から出力された設定電流信号を比較し」、技術事項2の「グリッド制御部130」は、「ターゲット電流比較部132での比較結果に基づいてグリッド電圧を制御する」ものであり、通常、「ターゲット電流比較部132での比較結果」において、「ターゲット電流」が前記目標「ターゲット電流」より大きくなった場合、「グリッド電圧」を低くし、逆に、「ターゲット電流」が前記目標「ターゲット電流」より小さくなった場合、「グリッド電圧」を高くするものであるから、技術事項2の「ターゲット電流を検出するターゲット電流検出部131と、ターゲット電流検出部131で検出したターゲット電流と電流設定D/Aコンバータ220から出力された設定電流信号を比較する」「ターゲット電流比較部132での比較結果に基づいてグリッド電圧を制御するグリッド電圧制御部134」は、本願発明1の「前記管電流検出部が検出した管電流が前記目標管電流より大きくなった場合、前記グリッドの電位を低くし、前記管電流検出部が検出した管電流が目標管電流より小さくなった場合、前記グリッドの電位を高くする制御を行う」「グリッド電位制御部」に相当するといえる。

ウ そうすると、技術事項2は、上記相違点に係る構成のうち、「前記フィラメントと前記ターゲットとの間に流れている管電流を検出する管電流検出部」を備え、「グリッド電位制御部」は、「前記管電流検出部が検出した管電流が前記目標管電流より大きくなった場合、前記グリッドの電位を低くし、前記管電流検出部が検出した管電流が目標管電流より小さくなった場合、前記グリッドの電位を高くする制御を行う」構成を有しているといえるが、「グリッド電位制御部」が、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」る構成については、記載も示唆もされていない。

エ そして、「グリッド電位制御部」が、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」る構成は、引用文献3?6にも記載されていないし、該構成は、当該技術分野において周知の構成であるともいえない。

オ したがって、本願発明1は、当業者であっても引用発明、引用文献2?6に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものであるとはいえない。

2 本願発明2?11について
本願発明2?11も、本願発明1の「グリッド電位制御部」が、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」る構成と同一の構成を備えるものであるから、本願発明1と同じ理由により、当業者であっても、引用発明、引用文献2?6に記載された技術的事項に基づいて容易に発明できたものとはいえない。

第7 原査定についての判断
令和2年12月7日付けの補正により、補正後の請求項1?11は、「グリッド電位制御部」が、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」る構成という技術的事項を有するものとなった。当該「グリッド電位制御部」が、「前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替える」ものであって、「前記目標管電流の切り替えに伴って、前記グリッドの電位を、前記フィラメントの周囲の電位勾配が前記フィラメントと前記ターゲットとの間の電位勾配が一定である場合における当該電位勾配よりも大きくなる電位に切り替え」る構成は、原査定における引用文献A?H(引用文献C、B、D、E、G及びHは、それぞれ、当審拒絶理由における引用文献1?6)には記載されておらず、本願出願前における周知技術でもないので、本願発明1?11は、当業者であっても、原査定における引用文献A?Hに基づいて容易に発明できたものではない。
したがって、原査定を維持することはできない。

第8 むすび
以上のとおり、原査定の理由及び当審の理由によっては、本願を拒絶することはできない。
また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
よって、結論のとおり審決する。
 
審決日 2021-01-20 
出願番号 特願2015-208905(P2015-208905)
審決分類 P 1 8・ 121- WY (A61B)
最終処分 成立  
前審関与審査官 佐藤 秀樹  
特許庁審判長 森 竜介
特許庁審判官 福島 浩司
磯野 光司
発明の名称 X線診断装置  
代理人 特許業務法人虎ノ門知的財産事務所  

プライバシーポリシー   セキュリティーポリシー   運営会社概要   サービスに関しての問い合わせ