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審決分類 審判 訂正 ただし書き3号明りょうでない記載の釈明 訂正する G11B
管理番号 1337259
審判番号 訂正2017-390131  
総通号数 220 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2018-04-27 
種別 訂正の審決 
審判請求日 2017-11-27 
確定日 2018-01-25 
訂正明細書 有 
事件の表示 特許第6181107号に関する訂正審判事件について、次のとおり審決する。 
結論 特許第6181107号の図面を本件審判請求書に添付された訂正図面のとおり訂正することを認める。 
理由 第1 手続の経緯
本件訂正審判の請求に係る特許第6181107号(以下「本件特許」という。)は、平成26年2月28日(優先権主張平成25年3月1日)の出願である特願2014-561654号の一部を平成27年6月11日に新たな特許出願とした特願2015-118001号の請求項1ないし20に係る発明について、平成29年7月28日に特許権の設定登録がなされたものである。
そして、平成29年11月27日に本件訂正審判が請求された。

第2 請求の趣旨及び訂正の内容
本件訂正審判の請求の趣旨は、本件特許の願書に添付した図面(以下、「本件特許図面」という。)について、審判請求書に添付した訂正図面のとおりに訂正することを請求するものであり、その訂正(以下「本件訂正」という。)の内容は、以下のとおりである。

訂正事項:本件特許図面を、本件審判請求書に添付された訂正図面に示すように訂正する。当該訂正図面は、本件特許図面と比較して、図2のみが異なる。具体的には、上記訂正図面の図2(以下、「訂正図2」という。)に示すように、符号3が付された断面円形のスタイラス3が符号34、35、37、38によって指示される位置に配置されている状態が表示されるように、本件特許図面の図2を訂正する。

第3 当審の判断
1 訂正の目的
(1)本件訂正は、上記「第2」のとおり、本件特許図面の図2を訂正するものであるところ、本件特許の願書に添付した明細書(以下、「本件特許明細書」という。)の【図面の簡単な説明】の欄には、以下のとおり記載されている。(下線は当審で付与した。)
ア.「【図面の簡単な説明】
【0017】
【図1A】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の平面図。
【図1B】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の板厚方向の断面図。
【図2】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の外周端面の形状評価値の測定方法を説明する図。
【図3】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の外周端面の形状評価値の測定方法を説明する図。
【図4】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の側壁面の円筒度の測定方法を説明する図。
【図5】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の側壁面の円筒度の測定方法を説明する図。
【図6】本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板の外周側の断面の一部を拡大して示す図。」
そして、上記アの記載からみて、図2の記載内容は「磁気ディスク用ガラス基板の外周端面の形状評価値の測定方法を説明する」ために用いられるものであると解されるが、当該図2の記載内容は、「磁気ディスク用ガラス基板の板厚方向の断面図」である図1Bの記載内容と同一であり、外周端面の形状評価値の測定方法の説明に用いられる要素は上記断面図に対して何ら付加されていない。
(2)本件特許明細書には、磁気ディスク用ガラス基板の外周端面の形状評価値の測定方法に関して、以下のとおり記載されている。(下線は当審で付与した。)
イ.「図2及び図3を参照して、ガラス基板Gの形状評価値について説明する。図2及び図3は、本実施形態の磁気ディスク用ガラス基板Gの外周端面の形状評価値の測定方法を説明する図である。図2は、ガラス基板Gの外周端面の板厚方向の断面を示す。」(【0028】)
ウ.「形状評価値は、側壁面11w上の板厚方向に200μm離れた2点の位置37,38における円周方向の輪郭線をそれぞれ取得し、これら輪郭線からそれぞれ求められる2つの最小二乗円37c,38cの中心37o,38o間の中点を中点Aとするとともに、さらに、2つの面取面11c,12c上の板厚方向長さの中心の位置34,35において円周方向の輪郭線をそれぞれ取得し、これら輪郭線から求められる最小二乗円34c,35cの中心34o,35oのうち、一方の面取面11cから求められる中心34oを中心B、他方の面取面12cから求められる中心35oを中心Cとしたとき、中点Aおよび中心B間の距離aと、中点Aおよび中心C間の距離bとの合計である。」(【0029】)
エ.「側壁面11w上の2つの位置37,38は、例えば、ガラス基板Gの板厚方向の中心位置から100μmずつ主表面11p,12p側に離れた位置である。面取面11c,12cの輪郭線を取得するための測定位置34,35は、例えば、主表面11p,12pからそれぞれ板厚方向の中心位置側に等距離近づく位置(例えば、ガラス基板Gの面取面の板厚方向長さが0.15mmの場合、ガラス基板Gの主表面11p,12pから中心位置に0.075mmずつ近づく位置)である。」(【0029】)
オ.「各測定位置37,38,34,35において外周端面の形状を測定するための測定装置として、例えば、真円度・円筒形状測定装置を用いることができる。真円度・円筒形状測定装置のスタイラス3は、上下方向(板厚方向)にミクロン単位での移動が可能である。」
カ.「そして、スタイラス3の先端の、測定時にガラス基板Gと接触する位置が、測定装置にセットされたガラス基板Gの上側の主表面の高さと合わせられる。」(【0030】)
キ.「そして、スタイラス3を板厚の中央から100μm上げた点37、および、板厚の中央から100μm下げた点38において、ガラス基板Gの外周端部の輪郭線が測定される。」(【0030】)
ク.「また、スタイラス3の位置が、2つの面取面の、それぞれの板厚方向における中間の高さとなるよう設定され、それぞれの位置34,35でガラス基板Gの外周端部の輪郭線が測定される。」(【0030】)
そして、上記「イ」ないし「ク」の記載からみて、「磁気ディスク用ガラス基板Gの外周端面の形状評価値の測定方法」には、少なくとも、「スタイラス3を板厚の中央から100μm上げた点37、および、板厚の中央から100μm下げた点38において、ガラス基板Gの外周端部の輪郭線が測定される」こと(上記「キ」)、及び、「スタイラス3の位置が、2つの面取面の、それぞれの板厚方向における中間の高さとなるよう設定され、それぞれの位置34,35でガラス基板Gの外周端部の輪郭線が測定される」こと(上記「ク」)が含まれるが、図2には、上記「スタイラス3」や、それによって測定する位置「34,35,37,38」について何ら記載がされていない。
すなわち、本件特許明細書には「図2及び図3を参照して、ガラス基板Gの形状評価値について説明する。」(上記「イ」)と記載されていながら、その説明に必要な「スタイラス3」及び位置「34,35,37,38」についての記載が図2にはなされていない。
(3)一方、訂正図2には、符号3が付された断面円形のスタイラス3が符号34、35、37、38によって指示される位置に配置されている状態が表示されている。
そこで、その表示内容について検討すると、訂正図2の「34,35」の位置は上記「ウ」、「エ」、「ク」の記載と整合し、訂正図2の「37,38」の位置は上記「ウ」、「エ」、「キ」の記載と整合している。
また、訂正図2の「符号3」が付された「円」の配置については、上記「オ」ないし「ク」の記載と整合している。なお、スタイラス3を「円」で表現することは、当該スタイラス3が「測定装置のスタイラス3は、曲率半径が0.4mm以下の球面を有することが好ましい。」(【0031】)という記載や図4においても「円」で表現されていることとも整合する。
(4)したがって、上記(1)ないし(3)を総合すると、本件訂正は、本件特許明細書の記載と整合していない図2の記載内容を、訂正図2のように本件特許明細書の記載と整合するようにするものであるから、特許法第126条第1項ただし書第3号に掲げられた「明瞭でない記載の釈明」を目的とするものに該当する。

2 新規事項の追加の有無
上記「1」の「(3)」で説示したように、訂正図2において、符号3が付された断面円形のスタイラス3が符号34、35、37、38によって指示される位置に配置されている状態は、本件特許明細書に記載した事項と整合している。したがって、本件訂正は、願書に添付した明細書、特許請求の範囲又は図面に記載した事項の範囲内においてするものであるから、特許法第126条第5項の規定に適合する。

3 特許請求の範囲の実質上の拡張、変更の有無
本件訂正は、上記「1」の「(4)」説示したとおり、本件特許明細書の記載と整合していない図2の記載内容を、訂正図2のように本件特許明細書の記載と整合するようにするものであるから、実質上特許請求の範囲を拡張し、又は変更するものではない。したがって、特許法第126条第6項の規定に適合する。

第4 むすび
以上のとおり、本件審判の請求は、特許法第126条第1項ただし書第3号に掲げる事項を目的とし、かつ、同条第5項及び第6項の規定に適合する。
よって、結論のとおり審決する。
 
発明の名称 【図面】







 
訂正の要旨 審決(決定)の【理由】欄参照。
審理終結日 2017-12-26 
結審通知日 2018-01-04 
審決日 2018-01-17 
出願番号 特願2015-118001(P2015-118001)
審決分類 P 1 41・ 853- Y (G11B)
最終処分 成立  
前審関与審査官 中野 和彦  
特許庁審判長 森川 幸俊
特許庁審判官 酒井 朋広
國分 直樹
登録日 2017-07-28 
登録番号 特許第6181107号(P6181107)
発明の名称 円環状基板、磁気ディスク用基板、磁気ディスク用基板の製造方法、磁気ディスク、磁気ディスクの製造方法、ハードディスク装置  
代理人 グローバル・アイピー東京特許業務法人  
代理人 グローバル・アイピー東京特許業務法人  
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