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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない。 A61B
審判 査定不服 5項独立特許用件 特許、登録しない。 A61B
審判 査定不服 特36条6項1、2号及び3号 請求の範囲の記載不備 特許、登録しない。 A61B
管理番号 1366671
審判番号 不服2020-1386  
総通号数 251 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2020-11-27 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2020-02-03 
確定日 2020-09-24 
事件の表示 特願2015-193931「X線CT装置、画像処理装置及び画像処理プログラム」拒絶査定不服審判事件〔平成28年 5月 9日出願公開、特開2016- 67947〕について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 第1 手続の経緯
本願は、平成27年9月30日(国内優先権主張 平成26年10月1日)の出願であって、平成31年4月10日付けで拒絶理由が通知され、令和元年6月14日付けで意見書及び手続補正書が提出され、令和元年10月28日付けで拒絶査定されたところ、令和2年2月3日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。

第2 令和2年2月3日にされた手続補正についての補正の却下の決定
[補正の却下の決定の結論]
令和2年2月3日にされた手続補正(以下、「本件補正」という。)を却下する。

[理由]
1 本件補正について(補正の内容)
(1)本件補正前の特許請求の範囲
本件補正前の、令和元年6月14日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項13の記載は次のとおりである 。

「【請求項13】
X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器が有する複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値を算出し、前記波高値に基づいて、前記検出信号を、前記X線検出素子ごとに補正する補正部と、
補正された前記検出信号に基づいてCT画像を再構成する再構成部と
を備える、画像処理装置。」

(2)本件補正後の特許請求の範囲の記載
本件補正により、本件補正前の特許請求の範囲の請求項13は、次のとおり請求項6として補正された。(下線部は、補正箇所である。)

「【請求項6】
スペクトルメータを用いて検出された検出信号から基準となるX線スペクトルを求め、前記基準となるX線スペクトルから、前記基準となるX線スペクトルの重心である基準重心を求め、前記基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値を、前記検出器が有する複数のX線検出素子ごとに算出する算出部と、
複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値を算出し、前記波高値及び前記X線検出素子ごとに算出された補正値に基づいて、前記検出信号を、前記X線検出素子ごとに補正する補正部と、
補正された前記検出信号に基づいてCT画像を再構成する再構成部と
を備える、画像処理装置。」

2 補正の適否
本件補正は、本件補正前の請求項13に記載された発明を特定するために必要な事項である「補正部」について、上記のとおり限定を付加するとともに、「画像処理装置」に、上記のとおり「算出部」の限定を付加するものであって、補正前の請求項13に記載された発明と補正後の請求項6に記載される発明の産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一であるから、特許法17条の2第5項2号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
そこで、本件補正後の請求項6に記載される発明(以下「本件補正発明」という。)が同条第6項において準用する同法第126条第7項の規定に適合するか(特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか)について、以下、検討する。

(1)明確性について
本件補正発明の「複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値」は、「複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて」算出されるものであるから、上記「波高値」は、「X線スペクトルの重心に基づいて」補正された値を意味するものと認められるが、そうすると、「前記波高値及び前記X線検出素子ごとに算出された補正値に基づいて」補正される「前記検出信号」は、すでに補正された「波高値」と、(補正前の値と補正後の値の差分である)「補正値」とに基づいて、補正されることとなり、技術的な意味を把握することができない。
したがって、本件補正発明は、不明確であり、特許法第36条第6項第2号の要件を満たしていない。

(2)進歩性について
ア 本件補正発明
本件補正発明は、上記1(2)に記載したとおりのものである。

イ 引用文献の記載事項
(ア) 引用文献1の記載事項
a 原査定の拒絶の理由で引用された本願の優先日前に頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった引用文献である、国際公開第2014/087264号(平成26年6月12日国際公開。以下「引用文献1」という。)には、図面とともに、次の記載がある。なお、訳文に付した下線は当審で付与したものである。

(引1?a)
「The aforesaid also applies to direct conversion semiconductors like CdTe and CZT semiconductors employed as conversion material for X-ray detectors to count individual photons, in particular for computed tomography imaging. Accordingly, the method and apparatus of the present invention may in particular be employed with all imaging modalities, which use ionizing radiation and which employ a direct converter for converting said radiation to electrical signals.」(第2頁第21-26行)

(当審訳)
「上記は、特に、コンピュータ断層撮影画像化において、個々の光子をカウントするためにX線検出器の変換材料として利用されるCdTeやCZTなどの直接変換半導体にも適用できる。したがって、本発明の方法と装置は、イオン化放射線を用い、上記放射線を電気信号に変換するのに直接変換器を利用するすべての画像化モダリティで利用できる。」

(引1?b)
「The described concept may also allow for dealing with material behavior different from the described simple model, e.g. in case the persistent current may be considered to depend on the X-ray flux and the mean X-ray energy in a non-linear way, while the signal current may be considered to depend linearly on the flux and the mean X-ray energy. In such a case, the photoconductive gain may be measured for different mean energies of incident X-ray flux under different flux and mean energy photo current conditions. The results of said measurement may be compiled in a look-up table with the photoconductive gain being a function of the mean energy. Also the function itself may be employed for precisely determining a photoconductive gain.
The method for image correction according to the present invention employs the readout information of an X-ray detector element and compensates said readout information for photoconductive gain employing compensation information. In other words, compensation information is used to remove from the readout information that part that is attributed to the persistent current, i.e. the photoconductive gain. The readout information is dependent on impinging X-radiation, which generates a photo current in the X-ray detector element, in particular in each pixel independently.」(第5頁第30行-第6頁第11行)

(当審訳)
「また、説明するコンセプトにより、説明する単純なモデルとは異なる材料ビヘイビアを取り扱うこともできる。例えば、永久電流がX線束と平均X線エネルギーに非線形に依存すると考えられるが、信号電流はX線束と平均X線エネルギーに線形に依存する場合を取り扱える。かかる場合には、光伝導ゲインは、線束と平均エネルギーが異なる光電流状態で入射X線束の異なる平均エネルギーに対して測定してもよい。上記の測定の結果を、光伝導ゲインを平均エネルギーの関数として、ルックアップテーブルに集積する。また、関数自体を、光伝導ゲインの精密な決定に利用してもよい。
本発明による画像補正方法は、X線検出器要素の読み出し情報を利用して、補正情報を利用して、上記読み出し情報を光り伝導ゲインについて補正する。言い換えると、補正情報を用いて、永久電流に起因すると考えられる部分を、すなわち光伝導ゲインを読み出し情報から除く。読み出し情報は衝突X線放射に依存する。衝突X線放射はX線検出器要素に、具体的には個々のピクセルに独立に、光電流を発生する。」

(引1?c)
「Regularly, a photon energy is not necessarily determined by its particular precise value, rather a particular energy range is determined, in which energy range the photon energy of a received photon falls. In case the photo current is not compensated for persistent current, the subsequently determined threshold level of a photon energy may be estimated to be higher than the actual photon energy. Thus, when compensating the photo current for persistent current, either the value output to the threshold level determinators or discriminators is compensated for or the levels themselves are changed to reflect the photoconductive gain, i.e. the added photon energy determined, which is attributed to the persistent current.
The compensation information of the photoconductive gain may be determined, in particular for each pixel, by a calibration operation of the X-ray system. Said calibration operation may e.g. be an operation of the X-ray system without any object in the path of the X-radiation between the X-ray generating device and the X-ray detector employing a particular, known X-ray flux having a known mean energy. During said calibration operation, it is thus known, which energy level arriving at a particular pixel element is to be expected. Said expected value may subsequently be compared with the actual measured value. Deviations between the expected value and the measured value may thus be attributed to the persistent current and the photoconductive gain resulting therefrom. Said determined photoconductive gain, the persistent current per pixel respectively, may be employed for determining the compensation information so that a measured value, i.e. the obtained readout information, may be compensated for the photoconductive gain. Again, either the readout information may be compensated for prior to forwarding the readout information to subsequent readout electronics or the readout electronics themselves, in particular their determination behavior may be changed to remove the influence of the photoconductive gain for obtaining a compensated output value.」(第6頁第27行-第7頁第18行)

(当審訳)
「普通は、光子エネルギーは必ずしもその正確な値まで決定されず、あるエネルギー範囲が決定され、受け取られる光子の光子エネルギーはそのエネルギー範囲内に入る。光子電流が永久電流に対して補正されていない場合には、後で決定される光子エネルギーの閾値レベルが実際の光子エネルギーより高いと推定される。このように、光子電流を永久電流に対して補正するとき、閾値レベル決定器または弁別器に出力される値が補正されるか、レベル自体を変更して、光伝導ゲインを反映する。すなわち、可算した光子エネルギーが決定され、これは永久電流の寄与である。
X線システムの校正操作により、特に各ピクセルについて、光伝導ゲインの補正情報を決定してもよい。上記校正操作は、例えば、既知の平均エネルギーを有する既知のX線束を利用するX線発生デバイスとX線検出器との間のX線放射の経路に何もオブジェクトが無いX線システムの操作である。上記校正操作中、あるピクセル要素にどのエネルギーレベルが到着すると期待されるかがわかる。ついで、上記の期待値を実際の測定値と比較する。期待値と測定値との間の相違は、このように永久電流と、それによる光伝導ゲインとに起因すると考えられる。上記の決定されたピクセルごとの光伝導ゲインと永久電流を利用して、補正情報の決定に利用でき、測定値すなわち取得した読み出し情報を光伝導ゲインに対して補正できる。再び、読み出し情報を後段の読み出しエレクトロニクスに送る前に、読み出し情報を補正してもよいし、読み出しエレクトロニクス自体を、特にその決定ビヘイビアを光伝導ゲインの影響を取り除くように変更して補正出力値を求めるようにしてもよい。」

(引1?d)
「CT system 100 comprises an X-ray generating device 12 or X-ray tube as well as an X-ray detector 14 arranged on opposing sides of a gantry 16. X-ray generating device 12 is generating X-radiation 20, in Fig. 1 exemplarily depicted as a cone-beam arriving at the two-dimensional X-ray detector 14. Individual X-ray detector pixel elements 18 are provided on the X-ray detector 14. On a support 24, an object 22 to be examined is arranged, which object 22 may be brought into the X-ray beam 20 for spatially attenuating said X-ray beam to obtain information about the inner structure of object 22. The X-ray generating device 12 and the X-ray detector 14 are rotating about the object 22 on gantry 16, thereby generating individual X-ray images of a plurality of angular views around the object, which can later be reconstructed into a three-dimensional structure, e.g. by an apparatus 26. Apparatus 26 comprises a processor 28 as well as a storage element 30 for storing data prior to and/or subsequent to processing operations of processor 28 conducted in conjunction with the image information acquired by the X-ray detector 14. A user of the X-ray/CT system 10 may be provided with visual information depicted on display element 32.」(第8頁第12-25行)

(当審訳)
「CTシステム100は、X線発生デバイス12またはX線管と、ガントリー16の反対側に配置されたX線検出器14とを有する。X線発生デバイス12は、X線20を発生していて、図1では、2次元X線検出器14に到達するコーンビームとして示されている。個々のX線検出器ピクセル要素18がX線検出器14上に設けられている。サポート24上には、検査されるオブジェクト22が配置されている。このオブジェクト22は、X線ビーム20中に持ってこられ、上記X線ビームを空間的に減衰し、オブジェクト22の内部構造に関する情報を取得する。X線発生デバイス12とX線検出器14とはガントリー16上にありオブジェクト22の周りを回転しているので、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成する。これは後で、例えば装置26により、3次元構造に再構成され得る。装置26は、プロセッサ28と、X線検出器14により撮像された画像情報と関連して行われるプロセッサ28の処理動作の前後のデータを記憶する記憶要素30とを有する。X線/CTシステム10のユーザに、ディスプレイ要素32上に表示してビジュアル情報が提供される。」

(引1?e)
「Further, the method according to the present invention may both be embodied as a program element within processor 28 as well as dedicated electronic circuitry performing the individual functions as depicted in Figs. 2 and 4a,b.
Now referring to Fig. 2, an exemplary embodiment of an electronics circuitry for analyzing readout information is depicted.
Fig. 2 shows exemplary readout circuitry 40 receiving as input a sensor current of an X-ray detector. In particular, Fig. 2 may be seen as readout circuitry being connected to a single X-ray detector pixel element 18.
The circuitry in Fig. 2 is divided in a first part I determining a photon count and determining the respective photon energy and a further, second part II for determining the current received from a particular detector pixel 8.A plurality of discriminators 42a,b,n are employed for determining a particular energy level of a photon arriving at the X-ray detector pixel element. Subsequently, a photon counter 43a,b,n is attached behind the respective discriminator 42a,b,n for counting arriving photons having a respective energy level.
E.g., a photon having an energy level between discriminator 1 and 2 would result in being counted by photon counter 1 , thereby it is known that the energy level of the photon must be between the energy levels determined by discriminator 1 and discriminator 2. A photon having an energy level between that of discriminator 6 and discriminator 7 for example, results in all photon counters 1 to 6 registering said photon, subsequently allowing determining the energy range of said photon to be between the energy level of discriminator 6 and discriminator 7.
Parallel to the evaluation of the photon count, the current received from said pixel element is determined by an integrator 44 employing a charge packet counter 45 and a timer 46,47 to determine a charge amount during a specific time resulting in a current. Using the compensation information based on the persistent current, the energy threshold levels of the respective discriminators 42a,b,n may be compensated. Said compensation may e.g. be conducted by determining the persistent current, determining a baseline shift from the calculated persistent current and adjusting the energy thresholds of the discriminators corresponding to the baseline shift. E.g., a threshold that would be at 80 keV becomes a threshold at 64 keV in case the baseline shift amounts to 16 keV according to the estimated persistent current. Since the actual baseline shift may vary, a larger number of thresholds, e.g. n=10, or discriminators and possibly a fixed mutual energy distance is set above the baseline without baseline shift, in case there is no persistent current.」(第8頁第29行-第9頁第29行)

(当審訳)
「さらに、本発明による方法は、プロセッサ28中のプログラム要素として実施でき、図2と図4a、bに示した個別の機能を実行する専用電子回路としても実施できる。
ここで図2を参照して、読み出し情報を分析する電子回路の一実施形態を示す。
図2は、X線検出器のセンサ電流を入力として受け取る読み出し回路40を示す。具体的に、図2は単一のX線検出器ピクセル要素18に接続された読み出し回路と見ることができる。
図2の回路は、光子カウントを決定し、それぞれの光子エネルギーを決定する第1部分Iと、これとは別の、検出器ピクセル8から受け取った電流を決定する第2部分IIとに分かれている。複数の弁別器42a、b、nを利用して、X線検出器ピクセル要素に到達した光子のエネルギーレベルを決定する。ついで、光子カウンタ43a、b、nが各弁別器42a、b、nの後に取り付けられ、各エネルギーレベルを有する到着光子をカウントする。
例えば、エネルギーレベルが弁別器1と2の間の光子は光子カウンタ1によりカウントされ、それによりその光子のエネルギーレベルは弁別器1により決まるエネルギーレベルと弁別器2により決まるエネルギーレベルとの間にあるに違いないことがわかる。例えば、エネルギーレベルが弁別器6と弁別器7との間である光子は、すべての光子カウンタ1-6がその光子を記録することになり、その光子のエネルギーレベルが弁別器6のエネルギーレベルと弁別器7のエネルギーレベルとの間にあると判定できる。
光子カウントの評価と並行して、上記ピクセル要素から受け取った電流が、電荷パケットカウンタ45とタイマー46、47とを用いて、電流となるある時間中の電荷量を判定する積分器44により判定される。永久電流に基づく補正情報を用いて、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する。上記補正は、例えば、永久電流を決定して、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより行える。例えば、80keVの閾値は、ベースラインシフトが推定永久電流により16keVとされた場合、64keVの閾値となる。実際のベースラインシフトは変化するので、永久電流が無い場合、より多くの閾値、例えば、n=10、すなわち弁別器と、場合によっては一定の相互エネルギー距離とをベースライン上に設定する。」

(引1-f)
「In case of a (non-linear) dependency of the photoconductive gain on the mean energy of the incident spectrum, it may further be required to characterize the photoconductive gain in dependence of the mean energy of the incident spectrum for each pixel. After correction of the baseline shift, in particular under the assumption of a certain mean energy of the incident spectrum, the photon energies are estimated and from this estimation also a mean energy. In case this determined mean energy matches the assumed mean energy, the baseline shift correction is considered to be sufficient. Otherwise, the correction is done successively with further photoconductive gain values for different mean energies until obtaining a best match.」(第10頁第14?22行)

(当審訳)
「光伝導ゲインが入射スペクトルの平均エネルギーに(非線形に)依存する場合、光伝導ゲインを各ピクセルの入射スペクトルの平均エネルギーに依存して特徴付けることがさらに必要である。ベースラインシフトの補正後、特に、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定する。この決定された平均エネルギーが仮定された平均エネルギーと一致する場合、ベースラインシフト補正は十分であると考えられる。そうでなければ、最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値で引き続き補正を行う。」

(引1?g)
「8. Apparatus (26) for image correction of X-ray image information, comprising a storage element (30) for storing received readout information of an object (22); and a processing element (28) for generating compensated readout information; wherein the apparatus (26) is adapted to carry out the method (50) according to one of the preceding claims.」(第15頁第12-16行)

(当審訳)
「【請求項8】
X線画像情報の画像補正装置であって、
オブジェクトの、受け取った読み出し情報を記憶する記憶要素と、
補正された読み出し情報を生成する処理要素とを有し、
請求項1乃至7いずれか一項に記載の方法を実行するように構成されている、装置。」

(引1?h) 図2



b 上記記載から、引用文献1には、次の技術的事項が記載されているものと認められる。

(a) 上記a(引1?d)の
「CTシステム100は、X線発生デバイス12またはX線管と、ガントリー16の反対側に配置されたX線検出器14とを有する。X線発生デバイス12は、X線20を発生していて、図1では、2次元X線検出器14に到達するコーンビームとして示されている。個々のX線検出器ピクセル要素18がX線検出器14上に設けられている。」
から、引用文献1には、「X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20が到達する、個々のX線検出器ピクセル要素18が設けられた2次元X線検出器14」が記載されているものと認められる。
また、上記a(引1?a)の
「上記は、特に、コンピュータ断層撮影画像化において、個々の光子をカウントするためにX線検出器の変換材料として利用されるCdTeやCZTなどの直接変換半導体にも適用できる。」
から、「2次元X線検出器14」は、「個々の光子をカウントする」ものであることが読み取れる。

(b) 上記a(引1?e)の
「複数の弁別器42a、b、nを利用して、X線検出器ピクセル要素に到達した光子のエネルギーレベルを決定する。ついで、光子カウンタ43a、b、nが各弁別器42a、b、nの後に取り付けられ、各エネルギーレベルを有する到着光子をカウントする。」
、及び、上記a(引1?e)の
「永久電流に基づく補正情報を用いて、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する。上記補正は、例えば、永久電流を決定して、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより行える。」
から、「X線検出器ピクセル要素に到達した光子のエネルギーレベルを決定する複数の弁別器42a、b、nにおいて、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する」ことが読み取れる。
そして、上記「X線検出器ピクセル要素に到達した光子」は、上記(a)を踏まえると、「個々のX線検出器ピクセル要素18が設けられた2次元X線検出器14」に「到達」する「X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20」の光子であることが読み取れる。
そうすると、引用文献1には、「X線検出器ピクセル要素18が設けられた個々の光子をカウントする2次元X線検出器14に到達する、X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20の光子のエネルギーレベルを決定する複数の弁別器42a、b、nにおいて、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する」ことが記載されるものと認められる。

(c) 上記a(引1?f)の
「光伝導ゲインが入射スペクトルの平均エネルギーに(非線形に)依存する場合、光伝導ゲインを各ピクセルの入射スペクトルの平均エネルギーに依存して特徴付けることがさらに必要である。ベースラインシフトの補正後、特に、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定する。この決定された平均エネルギーが仮定された平均エネルギーと一致する場合、ベースラインシフト補正は十分であると考えられる。そうでなければ、最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値で引き続き補正を行う。」
から、「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ことが読み取れる。

(d) 上記a(引1?e)の
「図2は、X線検出器のセンサ電流を入力として受け取る読み出し回路40を示す。」
と、上記a(引1?e)の
「光子カウントの評価と並行して、上記ピクセル要素から受け取った電流が、電荷パケットカウンタ45とタイマー46、47とを用いて、電流となるある時間中の電荷量を判定する積分器44により判定される。永久電流に基づく補正情報を用いて、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する。」
、及び、上記a(引1?h)の図2より、上記(b)、(c)の、「X線検出器ピクセル要素18が設けられた個々の光子をカウントする2次元X線検出器14に到達する、X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20の光子のエネルギーレベルを決定する複数の弁別器42a、b、nにおいて、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正する」こと、及び、「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ことは、「X線検出器のセンサ電流を入力として受け取る読み出し回路40」で行われることが読み取れる。
また、上記「X線検出器のセンサ電流を入力として受け取る読み出し回路40」の「X線検出器のセンサ電流」は、上記a(引1?h)の図2からして、「X線検出器のX線検出器ピクセル要素が出力する信号」であることが見て取れる。
以上のことから、「X線検出器ピクセル要素18が設けられた個々の光子をカウントする2次元X線検出器14に到達する、X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20の光子のエネルギーレベルを決定する複数の弁別器42a、b、nにおいて、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正し、
ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う、読み出し回路40」が読み取れる。

(e) 上記a(引1?d)の
「X線発生デバイス12とX線検出器14とはガントリー16上にありオブジェクト22の周りを回転しているので、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成する。これは後で、例えば装置26により、3次元構造に再構成され得る。装置26は、プロセッサ28と、X線検出器14により撮像された画像情報と関連して行われるプロセッサ28の処理動作の前後のデータを記憶する記憶要素30とを有する。」
から、「X線検出器14により撮像された画像情報と関連して処理動作が行われるプロセッサ28を有し、X線発生デバイス12とX線検出器14が、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成し、これを3次元構造に再構成する装置26」が読み取れる。
また、上記a(引1?e)の
「さらに、本発明による方法は、プロセッサ28中のプログラム要素として実施でき、図2と図4a、bに示した個別の機能を実行する専用電子回路としても実施できる。」
における「専用電子回路」である、上記(d)の「読み出し回路40」は、上記a(引1?e)の記載からして、「装置26」に設けられることが読み取れる。

(f) 上記a(引1?g)の
「【請求項8】
X線画像情報の画像補正装置であって、
オブジェクトの、受け取った読み出し情報を記憶する記憶要素と、
補正された読み出し情報を生成する処理要素とを有し、
請求項1乃至7いずれか一項に記載の方法を実行するように構成されている、装置。」
を踏まえると、上記(e)の、「X線検出器14により撮像された画像情報と関連して処理動作が行われるプロセッサ28を有」する「装置26」は、「X線画像情報の画像補正装置」であることが読み取れる。

以上を踏まえると、引用文献1には、次の発明(以下「引用発明」という。)が記載されていると認められる。

「X線検出器のX線検出器ピクセル要素が出力する信号であるセンサ電流を入力として受け取る読み出し回路40であって、
X線検出器ピクセル要素18が設けられた個々の光子をカウントする2次元X線検出器14に到達する、X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20の光子のエネルギーレベルを決定する複数の弁別器42a、b、nにおいて、計算した永久電流からのベースラインシフトを決定し、ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値を調整することにより、各弁別器42a、b、nのエネルギー閾値レベルを補正し、
ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う、読み出し回路40と、
X線検出器14により撮像された画像情報と関連して処理動作が行われるプロセッサ28と、
を有し、X線発生デバイス12とX線検出器14が、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成し、これを3次元構造に再構成する、X線画像情報の画像補正装置。」

ウ 引用発明との対比
(ア) 本件補正発明と引用発明とを対比すると、以下のとおりとなる。

a 引用発明の「X線検出器ピクセル要素18」、「個々の光子をカウントする2次元X線検出器14」、「光子のエネルギーレベル」は、それぞれ、本件補正発明の「X線検出素子」、「光子計数型の検出器」、「X線スペクトル」に相当する。
したがって、引用発明の「X線検出器ピクセル要素18が設けられた個々の光子をカウントする2次元X線検出器14に到達する、X線発生デバイス12またはX線管が発生するX線20の光子のエネルギーレベル」は、本件補正発明の「X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトル」に相当する。

b
(a)「X線スペクトルの重心」について
引用発明の「入射スペクトル」は、本件補正発明の「X線スペクトル」に相当する。
そして、本件補正発明の「X線スペクトルの重心」は、本願の明細書の以下の記載、「そして、算出部33aは、エネルギー位置をX、エネルギー位置Xのスペクトル強度をS(X)とした場合、X線スペクトルの重心(C)を以下の式「C=∫X*S(X)dx/∫S(X)dx」で算出する。」(段落【0039】)からして、「∫X*S(X)dx/∫S(X)dx」で定義されるものと認められる。
一方、引用発明の「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う、読み出し回路40」における、上記「平均エネルギー」とは、一般に、上記「∫X*S(X)dx/∫S(X)dx」と、同じ数式により定義されるものと認められる(参考として、「山口恭弘 他、「校正用X線の線質を表わす諸量の測定」、JAERI-M 84-232」の特に第3頁の(4)式、 「清水滋 他 「放射線測定器の性能試験に用いる国際規格に準拠したX線標準場の整備」、JAEA-Technology 2011-008」の特に第11頁の(3-12)?(3-15)式参照)。
したがって、引用発明の、「平均エネルギー」は、本件補正発明の「X線スペクトルの重心」に相当するものということができる。
そうすると、引用発明の「光子エネルギー」の「推定から」推定された「平均エネルギー」は、本件補正発明の「X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心」に相当するものということができる。

(b)「基準重心」について
引用発明の「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ことにおいて、「仮定」された「入射スペクトルの平均エネルギー」、は、本件補正発明の「基準となるX線スペクトルの重心である基準重心」に相当する。

(c)「補正値」について
引用発明の「この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ことは、上記(a)(b)を踏まえると、本件補正発明の「基準となるX線スペクトルの重心である基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる」ことに相当するものであり、引用発明の「この決定された平均エネルギーが、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーと一致するように」決定されるものである「ベースラインシフト」は、本件補正発明の「基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値」に相当するものであるということができる。

これらのことから、引用発明の「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う、読み出し回路40」と、本件補正発明の「スペクトルメータを用いて検出された検出信号から基準となるX線スペクトルを求め、前記基準となるX線スペクトルから、前記基準となるX線スペクトルの重心である基準重心を求め、前記基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値を、前記X線検出素子ごとに算出する算出部」とは、「基準となるX線スペクトルの重心である基準重心を求め、前記基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値を、前記X線検出素子ごとに算出する算出部」である点で共通する。

c 本件補正発明の「複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値」について、上記(1)で述べたとおり、不明確であるものの、上記bを踏まえると、引用発明の「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ことにおいて、上記「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に」「推定」した「光子エネルギー」は、本件補正発明の「複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値」に相当するものということができる。
そして、上記bを踏まえると、引用発明の「この決定された平均エネルギーが、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーと一致するように」決定されるものである「ベースラインシフト」は、本件補正発明の「前記X線検出素子ごとに算出された補正値」に相当するものであるということができる。

d 引用発明の「X線検出器のX線検出器ピクセル要素が出力する信号であるセンサ電流」は、本件補正発明の「前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号」に相当する。
そして、上記「X線検出器のX線検出器ピクセル要素が出力する信号であるセンサ電流」に基づいて、「ベースラインシフトに対応する弁別器のエネルギー閾値」を調整した「複数の弁別器42a、b、n」において、「光子のエネルギーレベル」が決定されるものであるから、「読み出し回路40」において行われる「ベースラインシフト補正」は、「X線検出器のX線検出器ピクセル要素」ごとに補正を行うものであるといえる。
そして、上記cを踏まえると、引用発明の「ベースラインシフトの補正後、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下に、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う、読み出し回路40」は、本件補正発明の「複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値を算出し、前記波高値及び前記X線検出素子ごとに算出された補正値に基づいて、前記検出信号を、前記X線検出素子ごとに補正する補正部」に相当するものである。

e 引用発明の「X線発生デバイス12とX線検出器14が、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成し、これを3次元構造に再構成する、X線画像情報の画像補正装置」において、「X線画像」を「3次元構造に再構成」する構成について明記はないものの、本件補正発明の「検出信号に基づいてCT画像を再構成する再構成部」に相当する構成を備えることは明らかである。
また、引用発明の「読み出し回路40」において、補正された「光子のエネルギーレベル」に基づいて、「X線画像を生成し、これを3次元構造に再構成」していることは明らかであるので、引用発明の「X線発生デバイス12とX線検出器14が、オブジェクトの周りの複数の角度からX線画像を生成し、これを3次元構造に再構成する、X線画像情報の画像補正装置」において、本件補正発明の「補正された前記検出信号に基づいてCT画像を再構成する再構成部」に相当する構成を備えることは明らかである。

f 引用発明の「X線画像情報の画像補正装置」は、本件補正発明の「画像処理装置」に相当する。

(イ) 以上のことから、本件補正発明と引用発明との一致点及び相違点は、次のとおりである。

【一致点】
「基準となるX線スペクトルの重心である基準重心を求め、前記基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値を、前記検出器が有する複数のX線検出素子ごとに算出する算出部と、
複数の前記X線検出素子それぞれにより検出されたX線スペクトルの重心に基づいて、
前記複数のX線検出素子それぞれが出力した検出信号の波高値を算出し、前記波高値及び前記X線検出素子ごとに算出された補正値に基づいて、前記検出信号を、前記X線検出素子ごとに補正する補正部と、
補正された前記検出信号に基づいてCT画像を再構成する再構成部と
を備える、画像処理装置。」

【相違点】
「基準となるX線スペクトルの重心である基準重心」を、本件補正発明は、「スペクトルメータを用いて検出された検出信号から」求めているのに対して、引用発明では、「入射スペクトルの平均エネルギー」は、「仮定」されたものであり、いかにして算出するものであるか定かではない点。

(4) 判断
以下、相違点について検討する。

ア 相違点について
引用発明においては、「入射スペクトルの平均エネルギーの仮定の下」、「光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定し、この決定された平均エネルギーと、仮定された入射スペクトルの平均エネルギーとの最良一致が得られるまで、異なる平均エネルギーに対して、さらに別の光伝導ゲイン値でベースラインシフト補正を行う」ものであり、引用文献1には、上記「入射スペクトルの平均エネルギー」をいかにして算出するのか明確に記載されていないが、引用発明において、「入射スペクトルの平均エネルギー」を仮定するためには、何らかの手段により、「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定する必要があるのは明らかである。
ただし、例えば、X線CT装置の製品仕様に同製品の「入射スペクトルの平均エネルギー」が記載されるなどしていて、「入射スペクトルの平均エネルギー」がすでに分かっている場合は、同X線CT装置の使用者が、改めて同装置の「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定する必要はないが、この場合においても、同装置の製造者において、同装置の製品仕様を定めるにあたり、工場出荷前に同装置の「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定する必要がある。
つまり、引用発明において、「入射スペクトルの平均エネルギー」を仮定するためには、いずれにしても何らかの手段により、「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定する必要があるのは明らかである。
そして、「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定するにあたり、X線発生装置から出力されるX線のエネルギー分布を測定する手段として、スペクトルメータは一般的に広く使用される機器であり(参考として、特開2009-285356号公報の特に段落【0048】参照)、引用発明において、スペクトルメータにより「入射スペクトル」を測定し、「入射スペクトルの平均エネルギー」を求める構成を採用することは、当業者であれば必要に応じて適宜なし得ることである。
したがって、引用発明に基づいて、上記相違点に係る構成をなすことは当業者が容易に想到しうることである。

イ そして、上記相違点を総合的に勘案しても、本件補正発明の奏する作用効果は、引用発明の奏する作用効果から予測される範囲内のものにすぎず、格別顕著なものということはできない。

ウ 請求人の主張について
請求人は、審判請求書の「3.(c)本願発明と引用発明との対比」において、
「一方、引用文献1?4には、上記の構成について記載されていません。例えば、引用文献1には、段落0047において、「ベースラインシフトの補正後、特に、入射スペクトルの平均エネルギーの仮定のもとに、光子エネルギーを推定し、この推定から平均エネルギーを推定する。この決定された平均エネルギーが仮定された平均エネルギーが仮定された平均エネルギーと一致する場合、ベースラインシフト補正は十分であると考えられる。」との記載はありますが、引用文献1では、入射スペクトルの平均エネルギーに関して何らかの仮定を置くことにより補正を行うことができるという程度の記載にとどまり、上述のように、スペクトルメータを用いた具体的な本願の構成については記載がありません。従いまして、引用文献1?4では、本願のようには、正確に検出素子全体の感度を均一に揃えることは難しいと考えられます。」
と主張する。
しかしながら、上記「1 相違点について」で示したように、「入射スペクトルの平均エネルギー」を測定するにあたり、X線発生装置から出力されるX線のエネルギー分布を測定する手段として、スペクトルメータは一般的に広く使用される機器であり、引用発明に基づいて、本件補正発明の構成をなすことは、当業者が容易に想到しうるとの判断に変わりはなく、上記「正確に検出素子全体の感度を均一に揃える」という効果も、引用発明において達成される効果である。

エ したがって、本件補正発明は、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであり、特許法29条2項の規定により、特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。

3 本件補正についてのむすび
よって、本件補正は、特許法17条の2第6項において準用する同法126条7項の規定に違反するので、同法159条1項の規定において読み替えて準用する同法53条1項の規定により却下すべきものである。
よって、上記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。


第3 本願発明について
1 本願発明
令和2年2月3日にされた手続補正は、上記のとおり却下されたので、本願の請求項に係る発明は、令和元年6月14日にされた手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項1ないし14に記載された事項により特定されるものであるところ、その請求項13に係る発明(以下「本願発明」という。)は、その請求項13に記載された事項により特定される、前記第2[理由]1(1)に記載のとおりのものである。

2 原査定の拒絶の理由
原査定の拒絶の理由は、この出願の請求項1?14に係る発明は、本願の優先権主張の日(以下「優先日」という。)前に日本国内又は外国において、頒布された又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった下記の引用文献1に記載された発明及び周知技術に基づいて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法29条2項の規定により特許を受けることができない、というものである。

1.国際公開第2014/087264号
2.国際公開第2014/001926号
3.特開平8-38467号公報(周知技術を示す文献)
4.特開昭58-185136号公報(周知技術を示す文献)

3 引用文献
原査定の拒絶の理由で引用された引用文献1の記載事項は、前記第2の[理由]2(2)に記載したとおりである。

4 対比・判断
本願発明は、前記第2の[理由]2で検討した本件補正発明から、「スペクトルメータを用いて検出された検出信号から基準となるX線スペクトルを求め、前記基準となるX線スペクトルから、前記基準となるX線スペクトルの重心である基準重心を求め、前記基準重心と、X線管から照射されたX線光子を検出するX線検出素子を複数有する光子計数型の検出器により検出されたX線スペクトルの重心とを一致させる補正値を、前記検出器が有する複数のX線検出素子ごとに算出する算出部」と、「補正部」が「前記波高値及び前記X線検出素子ごとに算出された補正値に基づいて、前記検出信号を、前記X線検出素子ごとに」補正することのうち、「前記X線検出素子ごとに算出された補正値」に係る限定事項を削除したものである。
そうすると、本願発明の発明特定事項を全て含み、さらに他の事項を付加したものに相当する本件補正発明が、前記第2の[理由]2(3)、(4)に記載したとおり、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、引用発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。

第4 むすび
以上のとおり、本願発明は、特許法29条2項の規定により特許を受けることができないから、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶されるべきものである。

よって、結論のとおり審決する。

 
審理終結日 2020-07-20 
結審通知日 2020-07-21 
審決日 2020-08-07 
出願番号 特願2015-193931(P2015-193931)
審決分類 P 1 8・ 537- Z (A61B)
P 1 8・ 575- Z (A61B)
P 1 8・ 121- Z (A61B)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 佐藤 秀樹  
特許庁審判長 三崎 仁
特許庁審判官 松谷 洋平
森 竜介
発明の名称 X線CT装置、画像処理装置及び画像処理プログラム  
代理人 特許業務法人虎ノ門知的財産事務所  
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