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審決年月日
審判番号
発明・考案の名称
結論
代理人
請求人
2004/08/11
不服
2002 -3118
ダイナミックメモリ及びダイナミックメモリの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
上柳 雅誉 その他
セイコーエプソン株式会社
原文
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該当なし
2004/05/26
異議
2002 -72699
熱処理方法
訂正を認める。 特許第3281018号の請求項1ないし4に係る特許を維……
原文
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該当なし
2004/03/23
不服
2001 -6434
三重ウェルを有するフラッシュ・メモリ・セルの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
大塚 文昭 その他
ヒュンダイ エレクトロニクス アメリカ
原文
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該当なし
2004/03/18
不服
2001 -22840
銅配線製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
阿部 英樹
株式会社アルバック
原文
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該当なし
2004/02/03
不服
2000 -6608
絶縁材料間における界面接着方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エッセジエッセ-トムソン ミクロエレクトロニクス ソチエタ レスポンサビリタ リミテ
原文
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該当なし
2004/01/21
不服
2001 -1720
半導体装置の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
セイコーエプソン株式会社
原文
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該当なし
2004/01/06
不服
2002 -12934
電力用MOS半導体デバイスの製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスティーマイクロエレクトロニクスエス.アール.エル.
原文
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該当なし
2003/12/09
不服
2001 -5756
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
セイコーエプソン株式会社
原文
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該当なし
2003/11/21
不服
2002 -19121
半導体DRAM素子
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
青山 葆
シャープ株式会社
原文
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該当なし
2003/11/07
不服
2001 -12985
半導体装置およびその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
ローム株式会社
原文
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該当なし
2003/10/22
不服
2001 -17328
薄膜半導体素子
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
岡田 英彦
トヨタ自動車株式会社
原文
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該当なし
2003/10/22
不服
2000 -8100
データ記憶コンデンサの形成方法
本件審判の請求は、成り立たない。
聯華電子股▲ふん▼有限公司
原文
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該当なし
2003/09/26
不服
2001 -8592
電界効果トランジスタおよびその製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
近藤 伊知良 その他
住友電気工業株式会社
原文
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該当なし
2003/09/26
不服
2001 -4216
半導体装置の製造方法およびIII-V族化合物半導体装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
三菱化学株式会社
原文
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該当なし
2003/08/19
不服
2001 -6308
半導体装置の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
内藤 浩樹 その他
松下電器産業株式会社
原文
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該当なし
2003/08/18
不服
2001 -2970
絶縁ゲート型半導体装置およびその製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
富士電機株式会社
原文
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該当なし
2003/08/07
不服
2001 -18783
半導体装置製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ソニー株式会社
原文
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該当なし
2003/07/22
不服
2001 -6266
半導体装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
吉元 弘 その他
株式会社東芝
原文
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該当なし
2003/07/08
不服
2001 -12567
銅配線構造体の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
志賀 富士弥 その他
ソニー株式会社
原文
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該当なし
2003/07/01
不服
2000 -13532
誘電体超薄膜電源素子
本件審判の請求は、成り立たない。
日野 太郎
原文
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新規性 新規性喪失の例外(30条)
2003/06/20
不服
2000 -19208
薄膜トランジスタの製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
小野 由己男
三星電子株式会社
原文
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該当なし
2003/04/23
不服
2001 -2626
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
日本プレシジョン・サーキッツ株式会社
原文
保存
該当なし
2003/03/11
不服
2000 -15250
高密度集積回路のインターコネクションおよび導体の形成方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
世界先進積體電路股▲ふん▼有限公司
原文
保存
該当なし
2003/03/04
不服
2000 -15991
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ソニー株式会社
原文
保存
該当なし
2003/02/26
不服
2000 -5100
メモリーセル・キャパシタアレイのビット線形成方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
世界先進積體電路股▲ふん▼有限公司
原文
保存
該当なし
2003/02/19
不服
2002 -11
ICデバイス内に抵抗器構造を組み立てる方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
曾我 道照 その他
エスティーマイクロエレクトロニクス,インコーポレイテッド
原文
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該当なし
2003/01/07
不服
2000 -18587
半導体装置の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
木下 雅晴
シャープ株式会社
原文
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該当なし
2002/08/20
不服
2000 -19064
電界効果トランジスタの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
寺崎 史朗 その他
住友電気工業株式会社
原文
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該当なし
2002/07/04
不服
2002 -3980
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
富士通株式会社
原文
保存
該当なし
2002/05/23
不服
2001 -14678
MOSトランジスタにおいてセルフアラインソース/ドレインコンタクトを形成する方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エスジーエス トムソン マイクロエレクトロニクス インク.
原文
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パリ条約
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