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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2004/08/11 不服
2002 -3118 
ダイナミックメモリ及びダイナミックメモリの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 上柳 雅誉 その他   セイコーエプソン株式会社   原文 保存
該当なし  
2004/05/26 異議
2002 -72699 
熱処理方法 訂正を認める。 特許第3281018号の請求項1ないし4に係る特許を維……     原文 保存
該当なし  
2004/03/23 不服
2001 -6434 
三重ウェルを有するフラッシュ・メモリ・セルの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 大塚 文昭 その他   ヒュンダイ エレクトロニクス アメリカ   原文 保存
該当なし  
2004/03/18 不服
2001 -22840 
銅配線製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 阿部 英樹   株式会社アルバック   原文 保存
該当なし  
2004/02/03 不服
2000 -6608 
絶縁材料間における界面接着方法 本件審判の請求は、成り立たない。   エッセジエッセ-トムソン ミクロエレクトロニクス ソチエタ レスポンサビリタ リミテ   原文 保存
該当なし  
2004/01/21 不服
2001 -1720 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。   セイコーエプソン株式会社   原文 保存
該当なし  
2004/01/06 不服
2002 -12934 
電力用MOS半導体デバイスの製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。   エスティーマイクロエレクトロニクスエス.アール.エル.   原文 保存
該当なし  
2003/12/09 不服
2001 -5756 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   セイコーエプソン株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/11/21 不服
2002 -19121 
半導体DRAM素子 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 青山 葆   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/11/07 不服
2001 -12985 
半導体装置およびその製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。   ローム株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/10/22 不服
2001 -17328 
薄膜半導体素子 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 岡田 英彦   トヨタ自動車株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/10/22 不服
2000 -8100 
データ記憶コンデンサの形成方法 本件審判の請求は、成り立たない。   聯華電子股▲ふん▼有限公司   原文 保存
該当なし  
2003/09/26 不服
2001 -8592 
電界効果トランジスタおよびその製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 近藤 伊知良 その他   住友電気工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/09/26 不服
2001 -4216 
半導体装置の製造方法およびIII-V族化合物半導体装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   三菱化学株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/08/19 不服
2001 -6308 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 内藤 浩樹 その他   松下電器産業株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/08/18 不服
2001 -2970 
絶縁ゲート型半導体装置およびその製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士電機株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/08/07 不服
2001 -18783 
半導体装置製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   ソニー株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/07/22 不服
2001 -6266 
半導体装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 吉元 弘 その他   株式会社東芝   原文 保存
該当なし  
2003/07/08 不服
2001 -12567 
銅配線構造体の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 志賀 富士弥 その他   ソニー株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/07/01 不服
2000 -13532 
誘電体超薄膜電源素子 本件審判の請求は、成り立たない。   日野 太郎   原文 保存
 新規性  新規性喪失の例外(30条)  
2003/06/20 不服
2000 -19208 
薄膜トランジスタの製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 小野 由己男   三星電子株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/04/23 不服
2001 -2626 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   日本プレシジョン・サーキッツ株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/03/11 不服
2000 -15250 
高密度集積回路のインターコネクションおよび導体の形成方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   世界先進積體電路股▲ふん▼有限公司   原文 保存
該当なし  
2003/03/04 不服
2000 -15991 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   ソニー株式会社   原文 保存
該当なし  
2003/02/26 不服
2000 -5100 
メモリーセル・キャパシタアレイのビット線形成方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   世界先進積體電路股▲ふん▼有限公司   原文 保存
該当なし  
2003/02/19 不服
2002 -11 
ICデバイス内に抵抗器構造を組み立てる方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 曾我 道照 その他   エスティーマイクロエレクトロニクス,インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2003/01/07 不服
2000 -18587 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 木下 雅晴   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2002/08/20 不服
2000 -19064 
電界効果トランジスタの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 寺崎 史朗 その他   住友電気工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2002/07/04 不服
2002 -3980 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通株式会社   原文 保存
該当なし  
2002/05/23 不服
2001 -14678 
MOSトランジスタにおいてセルフアラインソース/ドレインコンタクトを形成する方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   エスジーエス トムソン マイクロエレクトロニクス インク.   原文 保存
 パリ条約  

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