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現在の検索キーワード: 橋本 憲一郎

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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2010/07/30 不服
2009 -13272 
気液混合物生成装置、汚水浄化装置及び燃料噴射装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 黒田 博道 その他   東京鉄興株式会社 株式会社計算流体力学研究所 横山工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/06/09 不服
2008 -2482 
二段式ホモジナイザー 本件審判の請求は、成り立たない。 谷 征史 その他   みづほ工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/01/29 不服
2007 -15686 
浴室システム 本件審判の請求は、成り立たない。   三浦工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2009/03/10 不服
2007 -5249 
終点検出のために外部光源を使用する方法および装置 本件審判の請求は、成り立たない。 恩田 誠   マイクロン テクノロジー, インク.   原文 保存
 パリ条約  
2009/02/23 不服
2007 -30520 
化学プロセス塔用降水管 本件審判の請求は、成り立たない。   コック グリッシュ エルピー   原文 保存
 パリ条約  
2008/07/07 不服
2006 -10104 
半導体処理装置 本件審判の請求は、成り立たない。   株式会社日立ハイテクノロジーズ   原文 保存
 技術的範囲  実施可能要件  
2008/06/17 不服
2005 -25036 
基板をエッチングするための方法と装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 市東 篤   サーフィス テクノロジー システムズ ピーエルシー   原文 保存
 パリ条約  
2008/04/14 不服
2006 -35 
半導体ウエーファーを試験する装置及び方法 本件審判の請求は、成り立たない。   エレクトログラス・インコーポレーテツド   原文 保存
該当なし  
2008/02/06 不服
2005 -15145 
有機反射防止層の構造化方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト   原文 保存
 パリ条約  
2007/08/15 不服
2006 -17805 
酸化物層のエッチング方法 本件審判の請求は、成り立たない。 西山 修 その他   サイプレス セミコンダクター コーポレイション   原文 保存
 パリ条約  
2007/05/11 不服
2003 -22977 
接続材料 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 田治米 惠子 その他   ソニーケミカル&インフォメーションデバイス株式会社   原文 保存
該当なし  
2007/04/03 不服
2006 -5327 
半導体デバイスの検査方法 本件審判の請求は、成り立たない。   株式会社日立製作所   原文 保存
該当なし  
2007/03/30 不服
2005 -18107 
シリコンウエーハの評価方法および窒素ドープアニールウエーハ 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   信越半導体株式会社   原文 保存
該当なし  
2007/01/09 不服
2004 -1591 
マイクロ波プラズマエッチング装置のプラズマクリーニング方法 本件審判の請求は、成り立たない。   株式会社日立製作所   原文 保存
該当なし  
2006/12/19 不服
2005 -6260 
プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置 本件審判の請求は、成り立たない。 亀谷 美明   東京エレクトロン株式会社 株式会社東芝   原文 保存
該当なし  
2006/11/30 不服
2005 -7528 
半導体装置の微細レジストパターンの形成方法 本件審判の請求は、成り立たない。   ユー・エム・シー・ジャパン株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/11/20 不服
2005 -7336 
シリコンウェーハ内部のCu濃度の検出方法 本件審判の請求は、成り立たない。   株式会社SUMCO   原文 保存
該当なし  
2006/10/20 不服
2005 -7924 
化合物半導体素子の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 佐久間 剛   富士フイルムホールディングス株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/10/17 不服
2005 -11864 
半導体素子の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 武 顕次郎 その他   株式会社日立製作所 株式会社日立ハイテクノロジーズ   原文 保存
該当なし  
2006/09/28 不服
2005 -6185 
金属含有層を構造化する方法 本件審判の請求は、成り立たない。 山崎 利臣 その他   インフィネオン テクノロジース アクチエンゲゼルシャフト   原文 保存
該当なし  
2006/09/28 不服
2004 -4560 
プラズマ処理の終点検出方法およびその装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 橋本 良郎 その他   東京エレクトロン株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/09/11 不服
2005 -9558 
減圧処理方法 本件審判の請求は、成り立たない。   東京応化工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/09/04 不服
2004 -632 
鋳物の欠陥防止法 本件審判の請求は、成り立たない。 持田 信二 その他   花王株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/08/21 不服
2004 -7004 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社東芝   原文 保存
該当なし  
2006/08/21 不服
2004 -829 
ウェーハレベルのバーンインおよびテスト 本件審判の請求は、成り立たない。 古谷 聡   フォームファクター,インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2006/08/18 不服
2004 -14020 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   三洋電機株式会社   原文 保存
該当なし  
2006/08/18 不服
2003 -21982 
プラズマ処理装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社日立製作所   原文 保存
該当なし  
2006/08/16 不服
2004 -4987 
透明導電性膜のドライエッチング方法 本件審判の請求は、成り立たない。 北村 欣一   株式会社アルバック   原文 保存
該当なし  
2006/08/02 不服
2003 -24441 
プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社日立製作所   原文 保存
該当なし  
2006/07/26 不服
2004 -9884 
電子回路基板装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 渡辺 昇   株式会社ガスター   原文 保存
該当なし  

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