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早川 朋一
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審決年月日
審判番号
発明・考案の名称
結論
代理人
請求人
2012/11/28
不服
2011 -23095
固体撮像装置およびその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
ソニー株式会社
原文
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該当なし
2012/11/28
不服
2011 -20413
記憶素子及びメモリ
本件審判の請求は、成り立たない。
角田 芳末
ソニー株式会社 グランディス インコーポレイテッド
原文
保存
該当なし
2012/11/27
不服
2011 -26501
不揮発性メモリ装置のホットエレクトロンプログラムディスターブ防止方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
保存
該当なし
2012/11/20
不服
2011 -21891
トンネル磁気抵抗効果素子およびその製造方法ならびに製造装置
本件審判の請求は,成り立たない。
伊藤 高順 その他
株式会社デンソー
原文
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該当なし
2012/11/19
不服
2011 -25428
不揮発性メモリ半導体装置およびその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
仲村 義平 その他
スパンション エルエルシー
原文
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該当なし
2012/11/16
不服
2011 -22184
過剰消去されたセルを復旧させるために、正のゲートストレスを使用したメモリデバイスおよびそのための方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
深見 久郎 その他
スパンション エルエルシー
原文
保存
該当なし
2012/11/12
不服
2011 -25784
半導体装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
伊藤 高順 その他
株式会社デンソー
原文
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該当なし
2012/11/01
不服
2010 -10739
磁気メモリ構造およびトンネル磁気抵抗効果型再生ヘッドならびにそれらの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
三反崎 泰司
ヘッドウェイテクノロジーズ インコーポレイテッド アプライド スピントロニクス インコーポレイテッド
原文
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該当なし
2012/10/30
不服
2011 -11429
統合又は独立計測を用いる改善されたウェーハ均一性のための処理制御方法及び装置
本件審判の請求は、成り立たない。
伊東 忠彦 その他
ラム リサーチ コーポレーション
原文
保存
該当なし
2012/10/29
不服
2011 -18115
導電膜修正方法、及びTFT基板
本件審判の請求は、成り立たない。
ソニー株式会社
原文
保存
該当なし
2012/10/26
不服
2011 -4410
漏れ電流を減少させ、単位面積あたりのキャパシタンスを改善した、電界効果トランジスタおよび受動コンデンサを有する半導体装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド
原文
保存
該当なし
2012/10/25
不服
2011 -8986
メモリモジュール及びメモリシステム
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ルネサスエレクトロニクス株式会社
原文
保存
該当なし
2012/10/24
不服
2009 -20590
粉末組成物、軟磁性構成部材及び軟磁性複合体構成部材の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
浅村 皓 その他
ホガナス アクチボラゲット
原文
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該当なし
2012/10/22
不服
2011 -14816
ポリ-3,3”-ジアルキル-2,2’:5’,2”-テルチオフェンの電荷運搬材料としての使用
本件審判の請求は、成り立たない。
葛和 清司
シーメンス アーゲー メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
原文
保存
該当なし
2012/10/22
不服
2011 -6249
フィールド酸化物上で終端する見かけの金属接点線を使用してリバースエンジニアリングに対して保護された集積回路及びこれを製造するための方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エイチアールエル ラボラトリーズ,エルエルシー
原文
保存
該当なし
2012/10/18
不服
2011 -15824
半導体デバイス障壁層
本件審判の請求は、成り立たない。
吉澤 弘司 その他
アギア システムズ インコーポレーテッド
原文
保存
該当なし
2012/10/15
不服
2011 -21745
欠陥入出力線の修復用の再設定可能なメモリブロック冗長
本件審判の請求は、成り立たない。
インテル・コーポレーション
原文
保存
該当なし
2012/10/11
不服
2010 -18422
バッファコンデンサ
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
マントック,ポール,レンワース
原文
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該当なし
2012/10/11
不服
2011 -12883
トレンチタイプのIGBTのための深度Nタイプの拡散
本件審判の請求は、成り立たない。
大倉 昭人
インターナショナル レクティフィアー コーポレイション
原文
保存
該当なし
2012/10/11
不服
2011 -14391
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
高橋 敬四郎
富士通セミコンダクター株式会社
原文
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該当なし
2012/10/10
不服
2011 -22374
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ルネサスエレクトロニクス株式会社
原文
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該当なし
2012/10/03
不服
2011 -5091
半導体記憶装置
本件審判の請求は、成り立たない。
富士通セミコンダクター株式会社
原文
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該当なし
2012/10/02
不服
2011 -16506
ゲート制御ダイオード・メモリ・セル
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
上野 剛史 その他
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション
原文
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該当なし
2012/10/01
不服
2011 -11267
NAND型フラッシュメモリデバイスを形成する方法
本件審判の請求は、成り立たない。
堀井 豊 その他
スパンション エルエルシー
原文
保存
該当なし
2012/09/28
不服
2011 -2074
半導体装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
速水 進治
ルネサスエレクトロニクス株式会社
原文
保存
該当なし
2012/09/25
不服
2011 -223
半導体基板の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
シャープ株式会社
原文
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該当なし
2012/09/25
不服
2011 -1532
ドーピング源でもあるエッチャントガスを用いてトレンチをエッチングすることで形成されるドープカラムを含む電圧維持領域を有する高電圧電力MOSFET
本件審判の請求は、成り立たない。
福原 淑弘 その他
ジェネラル・セミコンダクター・インコーポレーテッド
原文
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該当なし
2012/09/24
不服
2011 -593
高電流薄型インダクタの製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
ヴィシェイ デイル エレクトロニクス,インコーポレイテッド
原文
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該当なし
2012/09/24
不服
2010 -8194
キャパシタ
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社KRI
原文
保存
該当なし
2012/09/24
不服
2010 -18564
半導体装置
本件審判の請求は、成り立たない。
吉竹 英俊
ルネサスエレクトロニクス株式会社
原文
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該当なし
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