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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2013/01/31 不服
2012 -3825 
半導体基板の製造方法および半導体基板製造装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社日本製鋼所   原文 保存
該当なし  
2013/01/21 不服
2012 -21158 
燃料電池の構造体 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   日本碍子株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/20 不服
2011 -14743 
多結晶シリコン層、多結晶シリコン層製造方法、および多結晶シリコン層を用いる平板表示装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   三星ディスプレイ株式會社   原文 保存
該当なし  
2012/12/18 不服
2012 -4878 
半導体素子のための緩衝化基板 本件審判の請求は、成り立たない。 特許業務法人 谷・阿部特許事務所   トムソン ライセンシング   原文 保存
該当なし  
2012/12/12 不服
2012 -21159 
燃料電池のスタック構造体 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   日本碍子株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/10/02 不服
2011 -12040 
共注入後の薄膜層のカタストロフィ的転写方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 川口 義雄 その他   コミサリヤ・ア・レネルジ・アトミク ソワテク   原文 保存
該当なし  
2012/09/24 不服
2011 -12974 
半導体電子デバイス 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 田代 至男   古河電気工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/09/10 不服
2010 -20917 
多結晶シリコンの製造方法及びそれを利用する半導体素子の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 実広 信哉   三星電子株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/09/07 不服
2011 -10690 
半導体装置の作製方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2012/08/14 不服
2010 -24719 
低減された平均自由行程長を有する半導体材料を含む本体を作製する方法およびこの方法を用いて作製された本体 本件審判の請求は、成り立たない。 森下 夏樹 その他   インフィネオン テクノロジーズ アーゲー   原文 保存
該当なし  
2012/08/13 不服
2010 -16302 
半導体物質の表面改質方法、半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社イー・エム・ディー   原文 保存
該当なし  
2012/07/23 不服
2011 -7523 
SOI基板の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社SUMCO   原文 保存
該当なし  
2012/05/23 不服
2010 -7260 
歪シリコン層を有するウェーハ構造体の製造方法及びこの方法の中間生成物 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 野田 雅一 その他   ソイテック   原文 保存
該当なし  
2012/05/08 不服
2010 -24574 
半導体装置の作製方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2012/03/28 不服
2010 -26357 
半導体装置の作製方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2012/03/15 不服
2011 -13759 
半導体装置の作製方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2012/03/08 不服
2011 -2181 
装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2011/09/26 不服
2009 -25220 
半導体装置の作製方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社半導体エネルギー研究所   原文 保存
該当なし  
2011/09/20 不服
2009 -24659 
イオン分布計算方法およびプログラム 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/11/24 不服
2008 -4455 
半導体薄膜の製造装置およびその製造方法ならびに表示装置 原査定を取り消す。 本願の発明は,特許すべきものとする。 荒川 伸夫 その他   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/11/22 不服
2008 -19315 
結晶質薄膜の形成方法、結晶質薄膜の製造装置、薄膜トランジスタ、および光電変換素子 本件審判の請求は、成り立たない。 酒井 將行 その他   シャープ株式会社   原文 保存
 新規事項の追加  
2010/11/05 不服
2008 -7432 
半導体基板の製造方法及び半導体装置 原査定を取り消す。 本願の発明は,特許すべきものとする。   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/11/02 不服
2008 -6236 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。   シャープ株式会社   原文 保存
 新規事項の追加  
2010/06/15 不服
2007 -26593 
MIMキャパシタ及び高周波集積回路 本件審判の請求は,成り立たない。 田中 光雄 その他   シャープ株式会社   原文 保存
 進歩性(29条2項)  
2010/04/27 不服
2009 -17777 
低エネルギ注入を用いた逆行ウェル構造及びパンチスルー・バリアの形成方法 本件審判の請求は,成り立たない。 社本 一夫 その他   エルエスアイ コーポレーション   原文 保存
該当なし  

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