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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2013/01/09 不服
2012 -1675 
パワーMOSFET 本件審判の請求は、成り立たない。 碓氷 裕彦 その他   株式会社デンソー   原文 保存
該当なし  
2013/01/07 不服
2011 -23027 
クロック分配回路の設計方法,設計装置および設計プログラム並びに同プログラムを記録したコンピュータ読取可能な記録媒体 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/28 不服
2011 -27389 
表面活性化方法および表面活性化装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 梁瀬 右司   ボンドテック株式会社 神港精機株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/27 不服
2011 -25155 
半導体集積回路装置およびその製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。   ルネサスエレクトロニクス株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/20 不服
2012 -1511 
パワー・スイッチの構造および方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 本城 吉子   セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー   原文 保存
該当なし  
2012/12/20 不服
2012 -5075 
コンデンサの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 黒木 義樹 その他   TDK株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/19 不服
2011 -24634 
専用のオンチッププロセッサを用いる複数のFPGA構成モードのサポート 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 仲村 義平 その他   ザイリンクス インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2012/12/12 不服
2011 -26039 
電界効果トランジスタおよび製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   古河電気工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/12 不服
2011 -24740 
電子装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 川崎 康 その他   エヌエックスピー ビー ヴィ   原文 保存
該当なし  
2012/12/03 不服
2012 -585 
基板処理システムおよび基板処理装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 川崎 実夫   大日本スクリーン製造株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/12/03 不服
2011 -24142 
半導体集積回路及び電源レイアウト設計方法 本件審判の請求は、成り立たない。 山口 昭則   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/11/28 不服
2011 -20230 
液晶表示装置用アレイ基板の製造方法液晶表示装置用アレイ基板の製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 曾我 道治 その他   エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド   原文 保存
該当なし  
2012/11/12 不服
2011 -21111 
サーバ装置、およびプログラム 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   東京エレクトロン株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/11/01 不服
2011 -22860 
半導体装置及び表示装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/10/04 不服
2011 -21163 
SOIウエーハの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   信越化学工業株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/07/25 不服
2010 -26463 
フォトレジストおよびエッチング残渣の除去方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 河野 直樹 その他   東京エレクトロン株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/07/23 不服
2011 -16720 
薄膜トランジスタの製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。   富士電機株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/05/18 不服
2010 -13851 
データ分析用の装置および方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 山本 秀策 その他   テスト アドバンテージ, インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2012/04/25 不服
2010 -24012 
欠陥位置特定の方法および装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   ケーエルエー-テンカー コーポレイション   原文 保存
該当なし  
2012/04/19 無効
2011 -800229 
試料断面観察方法 本件審判の請求は、成り立たない。 審判費用は、請求人の負担…… 柴田 昌聰 その他   エフ イー アイ カンパニ   原文 保存
該当なし  
2012/04/09 不服
2008 -12093 
プラズマプロセスのプラズマ電荷ダメージを低減する方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 園田 吉隆 その他   アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2012/01/05 不服
2009 -8504 
集積回路パッケージの製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   インテル・コーポレーション   原文 保存
 パリ条約  
2011/12/13 不服
2010 -10247 
半導体テストのための方法および装置 本件審判の請求は、成り立たない。 森下 夏樹 その他   テスト アドバンテージ, インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2011/11/14 不服
2010 -11320 
測定の信頼度を向上させられる測定用パターンを備える半導体装置及び測定用パターンを利用した半導体装置の測定方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 実広 信哉 その他   三星電子株式会社   原文 保存
 パリ条約  
2011/11/09 不服
2010 -14384 
低誘電率層間絶縁膜のドライエッチング方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社アルバック   原文 保存
該当なし  
2011/11/02 不服
2010 -22626 
基板処理装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社日立国際電気   原文 保存
該当なし  
2011/10/03 不服
2009 -10863 
半導体デバイス上の構造の寸法を測定するために使用される、非破壊光波測定(光波散乱計測)(scatterometry)に基づいた測定ツールを較正する方法と構造 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 村雨 圭介 その他   アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド   原文 保存
 パリ条約  
2011/08/25 不服
2008 -26325 
現場での化学発生装置及び方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 小川 信夫 その他   バーグ アンド バーグ エンタープライジズ リミテッド ライアビリティ カンパニー   原文 保存
該当なし  
2011/08/24 不服
2010 -14327 
半導体モジュール 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   トヨタ自動車株式会社   原文 保存
該当なし  
2011/08/09 不服
2009 -7640 
半導体素子の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社光波   原文 保存
該当なし  

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