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現在の検索キーワード: 安田 雅彦

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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2010/09/14 不服
2008 -2190 
加熱装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   日本写真印刷株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/09/13 不服
2007 -29196 
薄型コンデンサの製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。   北陸電気工業株式会社   原文 保存
 進歩性(29条2項)  
2010/09/10 不服
2009 -22025 
化合物半導体装置及びその製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 安村 高明 その他   シャープ株式会社   原文 保存
 国内優先権  進歩性(29条2項)  
2010/09/07 不服
2009 -20128 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/09/06 不服
2007 -15661 
T字形のコンタクト電極を有する半導体素子の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 アインゼル・フェリックス=ラインハルト その他   ユナイティッド モノリスィック セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング   原文 保存
 パリ条約  
2010/09/01 不服
2006 -27848 
有機強誘電メモリーセル 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 須田 洋之 その他   パロ アルト リサーチ センター インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2010/08/30 不服
2007 -7455 
半導体デバイスで用いられるキャパシタとその製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 加藤 伸晃 その他   アルカテル-ルーセント ユーエスエー インコーポレーテッド   原文 保存
 パリ条約  29条の2(拡大された先願の地位)  
2010/08/30 不服
2007 -26860 
絶縁膜上のシリコン構造を有する半導体素子及びその製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 村山 靖彦 その他   三星電子株式会社   原文 保存
 新規事項の追加  
2010/08/30 不服
2009 -24169 
半導体装置とその製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/24 不服
2007 -22911 
薄膜トランジスタパネルの製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 石田 敬 その他   インダストリアル テクノロジー リサーチ インスティチュート   原文 保存
該当なし  
2010/08/23 不服
2007 -24571 
磁気抵抗効果素子およびその製造方法並びに磁気メモリ装置 本件審判の請求は、成り立たない。 吉井 正明 その他   ソニー株式会社   原文 保存
 新規事項の追加  
2010/08/23 不服
2007 -31029 
工程管理システム及び工程管理方法 本件審判の請求は,成り立たない。 亀谷 美明 その他   OKIセミコンダクタ株式会社   原文 保存
 進歩性(29条2項)  
2010/08/23 不服
2007 -25036 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 前田 弘 その他   パナソニック株式会社   原文 保存
 新規事項の追加  
2010/08/23 不服
2007 -30993 
半導体装置およびその製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/23 不服
2007 -30715 
ゲート酸化膜形成用ハフニウムシリサイドターゲット 原査定を取り消す。 本願の発明は,特許すべきものとする。   JX日鉱日石金属株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/19 不服
2007 -29540 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 山本 秀策 その他   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/18 不服
2007 -34837 
半導体装置及びその製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 伊藤 高順 その他   株式会社デンソー   原文 保存
該当なし  
2010/08/18 不服
2007 -13303 
半導体装置 本件審判の請求は、成り立たない。   OKIセミコンダクタ株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/18 不服
2009 -10451 
電圧吸収エッジを有するpn接合を含むSiC半導体装置 本件審判の請求は,成り立たない。 浅村 肇 その他   クリー、インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2010/08/16 不服
2007 -6059 
MOSトランジスタの製造方法およびMOSトランジスタ 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 宮坂 一彦   セイコーエプソン株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/16 不服
2007 -14787 
メモリデバイスおよびメモリデバイスを動作させる方法 本件審判の請求は、成り立たない。 安村 高明 その他   インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト   原文 保存
該当なし  
2010/08/12 不服
2007 -27423 
磁気抵抗効果素子 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 中村 誠 その他   株式会社東芝   原文 保存
該当なし  
2010/08/06 不服
2007 -31038 
半導体装置の製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   シャープ株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/03 不服
2007 -1177 
静電保護回路素子を備える半導体装置 本件審判の請求は,成り立たない。   株式会社ハイニックスセミコンダクター   原文 保存
 進歩性(29条2項)  新規事項の追加  
2010/08/03 不服
2008 -9233 
磁気記憶装置および磁気記憶アレイ 本件審判の請求は,成り立たない。   インフィネオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフト   原文 保存
該当なし  
2010/08/03 不服
2007 -18704 
積層型圧電素子とその製造方法およびそれを用いた噴射装置 本件審判の請求は,成り立たない。   京セラ株式会社   原文 保存
 進歩性(29条2項)  
2010/08/03 不服
2007 -23108 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は,成り立たない。 速水 進治 その他   ルネサスエレクトロニクス株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/08/02 不服
2007 -32194 
半導体装置の製造方法 本件審判の請求は、成り立たない。 原田 智雄 その他   パナソニック株式会社   原文 保存
 進歩性(29条2項)  新規事項の追加  
2010/07/28 不服
2007 -21909 
バリア膜製造方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 石島 茂男   株式会社アルバック   原文 保存
該当なし  
2010/07/27 不服
2007 -33022 
半導体装置 本件審判の請求は,成り立たない。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
 新規性  29条1項3号  

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