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現在の検索キーワード: 小林 紀和

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審決年月日 審判番号 発明・考案の名称 結論 代理人 請求人    
2021/08/04 異議
2020 -700898 
回転電機及び回転電機の異常検出方法 特許第6698514号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正…… ポレール特許業務法人     原文 保存
該当なし  
2020/07/10 異議
2020 -700226 
回転電機およびその製造方法 特許第6582973号の請求項1ないし12に係る特許を維持する。 木村 群司 その他     原文 保存
該当なし  
2020/06/19 異議
2019 -700616 
回転電機、固定子巻線 特許第6465133号の特許請求の範囲を訂正請求書に添付された訂正…… 特許業務法人第一テクニカル国際特許事務所 その他     原文 保存
該当なし  
2018/10/15 不服
2017 -10808 
電動機 本件審判の請求は、成り立たない。   東洋電機製造株式会社   原文 保存
該当なし  
2017/09/28 不服
2016 -13276 
半導体装置 本件審判の請求は、成り立たない。 黒瀬 泰之 その他   ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエル   原文 保存
該当なし  
2017/06/06 異議
2017 -700255 
電動機及び電動パワーステアリング装置 特許第5991099号の請求項1に係る特許を維持する。     原文 保存
該当なし  
2016/12/12 不服
2015 -21642 
エラー訂正パリティビットによるMRAMスマートビット書き込みアルゴリズムの方法および装置 本件審判の請求は、成り立たない。   台湾積體電路製造股▲ふん▼有限公司   原文 保存
該当なし  
2016/11/21 不服
2015 -8355 
電気機械の回転子 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 清田 栄章 その他   アンドリッツ・ヒュードロ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング   原文 保存
該当なし  
2015/07/22 不服
2014 -11197 
揮発性メモリのレジスタの読み出し 本件審判の請求は、成り立たない。 井関 守三 その他   クゥアルコム・インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2014/06/26 不服
2013 -19994 
マスタデバイスを含む積み重ね半導体デバイス 本件審判の請求は,成り立たない。 渡邊 隆 その他   コンバーサント・インテレクチュアル・プロパティ・マネジメント・インコーポレイテッド   原文 保存
該当なし  
2012/10/15 不服
2011 -21745 
欠陥入出力線の修復用の再設定可能なメモリブロック冗長 本件審判の請求は、成り立たない。   インテル・コーポレーション   原文 保存
該当なし  
2012/05/23 不服
2011 -3767 
半導体記憶装置 本件審判の請求は、成り立たない。   ルネサスエレクトロニクス株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/03/30 不服
2011 -2319 
半導体メモリ 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/03/27 不服
2010 -25702 
エラー訂正機能を有したフラッシュメモリ装置 本件審判の請求は、成り立たない。   三星電子株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/03/13 不服
2010 -25965 
半導体装置及び記録媒体 本件審判の請求は、成り立たない。 恩田 博宣   富士通セミコンダクター株式会社   原文 保存
該当なし  
2012/01/31 不服
2010 -278 
低コスト・高度並列メモリ・テスタ 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 千葉 昭男 その他   テラダイン・インコーポレーテッド   原文 保存
 パリ条約  
2012/01/25 不服
2009 -7986 
埋設不揮発性メモリの自己診断装置を備える集積回路及び関連する診断方法 本件審判の請求は、成り立たない。 橘谷 英俊 その他   エヌエックスピー ビー ヴィ   原文 保存
該当なし  
2011/11/09 不服
2009 -15619 
半導体装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   ルネサスエレクトロニクス株式会社   原文 保存
該当なし  
2011/10/24 不服
2010 -27366 
サブスレッショルド漏れ電流が最悪の条件に設定され得る、メモリのリフレッシュ動作を検査する方法 本件審判の請求は、成り立たない。   エルエスアイ コーポレーション   原文 保存
該当なし  
2011/08/31 不服
2010 -10723 
フラッシュメモリ装置およびその装置のコラム選択トランジスタのストレステスト方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   三星電子株式会社   原文 保存
 パリ条約  
2011/08/26 不服
2009 -14708 
不揮発性半導体記憶装置及びそのアクセス評価方法。 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   OKIセミコンダクタ株式会社   原文 保存
該当なし  
2011/08/01 不服
2009 -20367 
メモリ自己テストの方法と装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 大日方 和幸 その他   エイアールエム リミテッド   原文 保存
該当なし  
2011/02/17 不服
2008 -17794 
集積回路メモリデバイスのフリンジ領域の検査方法 本件審判の請求は、成り立たない。 阿部 和夫 その他   マイクロン テクノロジー, インク.   原文 保存
該当なし  
2011/02/17 不服
2008 -17796 
集積回路メモリのフリンジ領域の検査方法及び集積回路メモリの検査システム 本件審判の請求は、成り立たない。 阿部 和夫 その他   マイクロン テクノロジー, インク.   原文 保存
該当なし  
2011/02/01 不服
2008 -150 
欠陥を有する集積回路のテスト時間と修復時間とを最適化するためのシステム 本件審判の請求は、成り立たない。 吉武 賢次 その他   マイクロン、テクノロジー、インコーポレーテッド   原文 保存
該当なし  
2010/12/06 不服
2008 -6605 
不揮発性結果テーブル記憶を有する自動試験方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 中村 稔 その他   マクロニクス インターナショナル カンパニー リミテッド   原文 保存
該当なし  
2010/09/30 不服
2008 -2986 
半導体記憶装置 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   株式会社東芝   原文 保存
該当なし  
2010/09/07 不服
2007 -30101 
半導体装置、同期式半導体メモリ装置及び同期式半導体メモリ装置のエラーチェック及び訂正方法 本件審判の請求は、成り立たない。   三星電子株式会社   原文 保存
該当なし  
2010/09/01 不服
2008 -23071 
リダンダンシー回路を有する半導体メモリ装置 本件審判の請求は、成り立たない。   株式会社ハイニックスセミコンダクター   原文 保存
 引用発明の認定  
2010/08/23 不服
2008 -6941 
半導体集積回路、メモリモジュール、記憶媒体、及び半導体集積回路の救済方法 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。   ルネサスエレクトロニクス株式会社   原文 保存
該当なし  

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