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池渕 立
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審決年月日
審判番号
発明・考案の名称
結論
代理人
請求人
2003/06/03
不服
2001 -10461
酸化物薄膜の製造方法および製造装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
松下電器産業株式会社
原文
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該当なし
2003/05/30
異議
2001 -73357
電子部品の実装方法及び実装装置
特許第3176580号の請求項1ないし2に係る特許を維持する。
原文
保存
該当なし
2003/05/30
不服
2001 -15018
強誘電体薄膜の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
木下 雅晴 その他
シャープ株式会社
原文
保存
該当なし
2003/05/27
不服
2001 -21112
半導体記憶装置の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
清水 守
宮崎沖電気株式会社 沖電気工業株式会社
原文
保存
該当なし
2003/05/19
不服
2000 -16286
半導体集積回路装置およびその配線方法
本件審判の請求は、成り立たない。
谷澤 靖久
エヌイーシーマイクロシステム株式会社
原文
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該当なし
2003/05/06
不服
2002 -4275
セルフバイアス・プラズマCVDコーティング法及び装置
原査定を取り消す。 本願の請求項1〜3に係る発明は、特許すべき……
株式会社サムコインターナショナル研究所
原文
保存
該当なし
2003/04/23
異議
2002 -70635
電気絶縁性薄膜の形成方法
訂正を認める。 特許第3208100号の請求項1ないし7に係る特許を維……
小川 信一 その他
原文
保存
該当なし
2003/04/08
不服
2001 -1556
バレル型気相成長装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
信越半導体株式会社
原文
保存
該当なし
2003/03/28
不服
2001 -13144
フリップチップ接合方法
原査定を取り消す。 本願の請求項1に係る発明は、特許すべきも……
富士通株式会社
原文
保存
該当なし
2003/03/27
異議
2000 -72171
半導体製造装置におけるモータ駆動装置及びXYテーブル
特許第2981999号の請求項1〜8に係る特許を取り消す。
栗原 浩之
原文
保存
該当なし
2003/03/26
審判
1999 -19688
カラー固体撮像装置およびカラーフィルタ
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
松下電器産業株式会社
原文
保存
該当なし
2003/03/20
審判
1999 -16983
安定化層及びその製法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
シーメンス、アクチエンゲゼルシヤフト
原文
保存
パリ条約
2003/03/17
不服
2000 -20613
ヒーターを備えたCVD装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
ソニー株式会社
原文
保存
29条の2(拡大された先願の地位)
2003/03/13
異議
2002 -70283
半導体装置用接着層付き配線テープ及びその製造方法
訂正を認める。 特許第3195315号の請求項1ないし2、4ないし8、10な……
平木 祐輔 その他
原文
保存
該当なし
2003/03/06
不服
2001 -13541
半導体チップのピックアップ方法、およびそれに用いる真空吸着用コレット
原査定を取り消す。 本願の請求項1〜4に係る発明は、特許すべき……
小池 隆彌
シャープ株式会社
原文
保存
該当なし
2003/02/28
異議
2001 -72828
半導体IC実装用TABテープ
訂正を認める。 特許第3187767号の請求項1ないし5に係る特許を取……
小林 英一 その他
原文
保存
該当なし
2003/02/10
異議
2001 -72916
微細配線パターンの形成方法
特許第3158524号の請求項1に係る発明についての特許を取り消す。
原文
保存
該当なし
2003/01/06
異議
2001 -71929
ボンデイング装置のデータ設定モード変更方法及び装置
特許第3128702号の請求項1ないし2に係る特許を取り消す。
原文
保存
該当なし
2002/12/25
不服
2001 -14284
チップ・キャリア・モジュール及びその生成方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
坂口 博
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション
原文
保存
パリ条約
2002/12/03
不服
2000 -18519
シリコン支持体にpn接合を製造する方法
本件審判の請求は、成り立たない。
矢野 敏雄 その他
ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング
原文
保存
パリ条約
2002/11/28
不服
2001 -5280
半導体装置の製造方法
原査定を取り消す。本願の発明は、特許すべきものとする。
村松 貞男 その他
株式会社東芝
原文
保存
該当なし
2002/10/03
不服
2001 -7504
半導体素子の実装方法
本件審判の請求は、成り立たない。
セイコーエプソン株式会社
原文
保存
該当なし
2002/09/30
異議
2002 -70598
電子部品装置
訂正を認める。特許第3207222号の請求項1,2に係る特許を維持する。
外川 英明
原文
保存
新規事項の追加 29条の2(拡大された先願の地位)
2002/09/17
異議
2001 -71213
シリコン基板の酸化方法
訂正を認める。 特許第3102223号の請求項1、2に係る特許を維持す……
広瀬 章一
原文
保存
新規事項の追加
2002/09/03
異議
2001 -73266
シリカ絶縁膜の製造方法及び半導体装置の製造方法
特許第3173426号の請求項1ないし7に係る特許を維持する。
原文
保存
29条の2(拡大された先願の地位)
2002/08/01
異議
2001 -70595
ICモジュールの接続方法
訂正を認める。 特許第3080106号の請求項1に係る特許を維持する。
原文
保存
新規事項の追加
2002/07/23
異議
2000 -74141
絶縁膜形成方法
訂正を認める。 特許第3041066号の請求項1ないし2に係る発明につ……
大西 健治 その他
原文
保存
新規事項の追加
2002/07/09
異議
2001 -73267
半導体装置の製造方法
特許第3173464号の請求項1〜3に係る特許を維持する。
原文
保存
該当なし
2002/07/01
異議
2000 -74140
絶縁膜形成方法
特許第3041065号の請求項1ないし2に係る特許を取り消す。
坂口 智康 その他
原文
保存
該当なし
2002/06/04
不服
2000 -8896
キャパシタ絶縁膜の形成方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
沖電気工業株式会社
原文
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