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中川 裕幸
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審判番号
発明・考案の名称
結論
代理人
請求人
2014/12/26
不服
2013 -11473
モノリシックセンサ配置、およびそのモノリシックセンサ配置を制御する方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
マイクロナス ゲーエムベーハー
原文
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該当なし
2013/11/05
不服
2012 -10289
NAND型フラッシュメモリ素子のリカバリ方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/10/07
不服
2012 -24913
フラッシュメモリ素子及びその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/09/30
不服
2012 -21818
ナンド型フラッシュメモリ素子及びその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
保存
該当なし
2013/09/19
不服
2012 -17877
フラッシュメモリ素子およびその製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/08/05
不服
2012 -8780
NANDフラッシュメモリ素子の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/06/24
不服
2012 -11944
向上した動作性能を有するフラッシュメモリ装置のページバッファ回路とその読み出し及びプログラム動作制御方法
本件審判の請求は,成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/06/24
不服
2012 -18736
半導体素子のゲート形成方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/04/23
不服
2012 -9410
NANDフラッシュメモリ素子
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/04/01
不服
2012 -12183
NAND型フラッシュメモリ素子、その製造方法およびその駆動方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2013/02/26
不服
2011 -19171
半導体素子の酸化膜形成方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/11/27
不服
2011 -26501
不揮発性メモリ装置のホットエレクトロンプログラムディスターブ防止方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/11/02
不服
2011 -23195
歯車駆動を備えた自動車のエンジン補機駆動装置
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
中川 裕幸
アイエムエス ギアー ゲーエムベーハー マグナ パワートレイン アーゲーウントツェーオーカーゲー
原文
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該当なし
2012/10/09
不服
2011 -17162
半導体素子の素子分離膜形成方法
本件審判の請求は,成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/08/28
不服
2009 -25838
搬送ベルト又は駆動ベルト用押出形材
本件審判の請求は、成り立たない。
ベーハ イノベーション ゲーエムベーハー
原文
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該当なし
2012/08/21
不服
2010 -23472
フラッシュメモリセルの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/07/24
不服
2010 -5730
半導体素子の高電圧接合形成方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
保存
該当なし
2012/05/29
不服
2011 -4943
ページバッファおよびこれを用いたフラッシュメモリ素子の検証方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/05/16
不服
2011 -2394
半導体メモリ素子の素子分離膜形成方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
エスケーハイニックス株式会社
原文
保存
該当なし
2012/05/10
不服
2011 -4679
エレベイテッドソース及びドレイン領域を有するトランジスタ製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
エスケーハイニックス株式会社
原文
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該当なし
2012/02/22
不服
2010 -8496
フラッシュメモリセルの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は,特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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該当なし
2011/12/27
不服
2009 -23913
乱数発生器および乱数を発生する方法
本件審判の請求は、成り立たない。
マイクロナス ゲーエムベーハー
原文
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該当なし
2011/10/13
不服
2009 -9227
高電圧素子のウェル構造
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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パリ条約
2011/09/14
不服
2009 -24927
半導体素子の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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パリ条約
2011/06/15
不服
2008 -11956
半導体素子の製造方法
本件審判の請求は、成り立たない。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
保存
該当なし
2011/04/13
不服
2008 -17902
半導体素子の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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該当なし
2011/03/09
不服
2008 -7354
不揮発性メモリセルの製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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該当なし
2011/02/14
不服
2008 -22256
テストパターン形成方法、それを用いたエッチング特性測定方法及び回路
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
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該当なし
2011/01/13
不服
2008 -18495
半導体素子の製造方法
原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
原文
保存
該当なし
2010/12/13
不服
2009 -11393
ワードラインデコーダ
本件審判の請求は、成り立たない。
株式会社ハイニックスセミコンダクター
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