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審決分類 |
審判 査定不服 特36条4項詳細な説明の記載不備 特許、登録しない(前置又は当審拒絶理由)(定型) G01R 審判 査定不服 特36条6項1、2号及び3号 請求の範囲の記載不備 特許、登録しない(前置又は当審拒絶理由)(定型) G01R |
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管理番号 | 1282122 |
審判番号 | 不服2012-8151 |
総通号数 | 169 |
発行国 | 日本国特許庁(JP) |
公報種別 | 特許審決公報 |
発行日 | 2014-01-31 |
種別 | 拒絶査定不服の審決 |
審判請求日 | 2012-05-07 |
確定日 | 2013-11-25 |
事件の表示 | 特願2005-367781「表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成19年 7月 5日出願公開、特開2007-170949〕について、次のとおり審決する。 |
結論 | 本件審判の請求は、成り立たない。 |
理由 |
本願は、平成17年12月21日の出願であって、「表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置」に関するものと認める。 これに対して、平成25年 7月 3日付けで、本願は、発明の詳細な説明及び特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第36条第4項第1号及び同条第6項第1号に規定する要件を満たしていない旨の拒絶理由を通知したが、依然として上記の拒絶理由で指摘した不備の点1及び2は解消していない。 したがって、本願は、上記の拒絶理由によって拒絶すべきものである。 よって、結論のとおり審決する。 |
審理終結日 | 2013-09-30 |
結審通知日 | 2013-10-01 |
審決日 | 2013-10-15 |
出願番号 | 特願2005-367781(P2005-367781) |
審決分類 |
P
1
8・
537-
WZF
(G01R)
P 1 8・ 536- WZF (G01R) |
最終処分 | 不成立 |
前審関与審査官 | 吉田 久 |
特許庁審判長 |
飯野 茂 |
特許庁審判官 |
中塚 直樹 関根 洋之 |
発明の名称 | 表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置 |
代理人 | 立石 篤司 |