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審決分類 審判 査定不服 特36条4項詳細な説明の記載不備 特許、登録しない(前置又は当審拒絶理由)(定型) G01R
審判 査定不服 特36条6項1、2号及び3号 請求の範囲の記載不備 特許、登録しない(前置又は当審拒絶理由)(定型) G01R
管理番号 1282122
審判番号 不服2012-8151  
総通号数 169 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2014-01-31 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2012-05-07 
確定日 2013-11-25 
事件の表示 特願2005-367781「表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置」拒絶査定不服審判事件〔平成19年 7月 5日出願公開、特開2007-170949〕について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 本願は、平成17年12月21日の出願であって、「表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置」に関するものと認める。
これに対して、平成25年 7月 3日付けで、本願は、発明の詳細な説明及び特許請求の範囲の記載が不備のため、特許法第36条第4項第1号及び同条第6項第1号に規定する要件を満たしていない旨の拒絶理由を通知したが、依然として上記の拒絶理由で指摘した不備の点1及び2は解消していない。
したがって、本願は、上記の拒絶理由によって拒絶すべきものである。
よって、結論のとおり審決する。
 
審理終結日 2013-09-30 
結審通知日 2013-10-01 
審決日 2013-10-15 
出願番号 特願2005-367781(P2005-367781)
審決分類 P 1 8・ 537- WZF (G01R)
P 1 8・ 536- WZF (G01R)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 吉田 久  
特許庁審判長 飯野 茂
特許庁審判官 中塚 直樹
関根 洋之
発明の名称 表面電位分布測定方法、表面電位分布測定装置  
代理人 立石 篤司  

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