• ポートフォリオ機能


ポートフォリオを新規に作成して保存
既存のポートフォリオに追加保存

  • この表をプリントする
PDF PDFをダウンロード
審決分類 審判 査定不服 5項独立特許用件 特許、登録しない。 A61B
審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない。 A61B
管理番号 1287305
審判番号 不服2012-25110  
総通号数 174 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2014-06-27 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2012-12-19 
確定日 2014-05-08 
事件の表示 特願2006-172297「X線画像のオフセット補正のシステム,方法及び装置」拒絶査定不服審判事件〔平成19年 1月11日出願公開,特開2007- 632〕について,次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は,成り立たない。 
理由 第1 手続の経緯
本願は,平成18年6月22日(パリ条約に基づく優先権主張2005年6月25日,米国(US))を出願日とする出願であって,平成23年8月24日付けで拒絶理由が通知され,平成24年2月23日付けで手続補正がなされ,同年6月14日付けで拒絶理由が通知され,同年8月13日付けで手続補正がなされ,同年9月11日付けで拒絶査定がなされ,同年12月19日に拒絶査定不服審判の請求がなされるとともに,同日付けにて手続補正(以下,「本件補正」という。)がなされたものである。
さらに,平成25年6月18日付けで審尋がなされ,回答書が同年8月6日付けで請求人より提出されたものである。

第2 本件補正についての補正の却下の決定
[補正の却下の決定の結論]
本件補正を却下する。

[理由]
1 補正後の本願発明(下線は補正箇所を示す。)
本件補正により,補正前の特許請求の範囲の請求項1は,
「 【請求項1】
放射線撮影装置(100)のフラット・パネル検出器(112)により発生されるオフセット信号を補償する方法であって,
非撮像状態の間に前記放射線撮影装置について各々が異なる照射パラメータを使用して取得されたデータに対応する複数のオフセット・マップ(206)を形成するステップと,
前記放射線撮影装置(100)により事前照射X線を発生するステップと,
前記放射線撮影装置により発生される前記事前照射X線から照射パラメータを決定するステップ(402,410)と,
前記決定された照射パラメータから,前記複数のオフセット・マップ(206)から一つのオフセット・マップ(206)を選択するステップと,
前記決定された照射パラメータに基づいて照射されたX線に基づく放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像の取得中に,前記選択されたオフセット・マップ(206)を前記後続のX線画像に適用するステップと,
を備えた方法。」
と補正された。

本件補正は,補正前の請求項1に係る発明を特定するために必要な事項である「前記選択されたオフセット・マップ(206)を前記決定された照射パラメータに基づいて照射されたX線に基づく放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像に適用するステップ」について,「前記選択されたオフセット・マップ(206)を」「後続のX線画像に適用する」タイミングを「放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像の取得中に」と限定し,文章を整えた補正を含むものである。
したがって,本件補正は,平成18年法律第55号改正附則第3条第1項によりなお従前の例によるとされる同法による改正前(以下,「平成18年法改正前」という。)の特許法第17条の2第4項第2号の特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。
そこで,本件補正後の前記請求項1に係る発明(以下「補正発明」という。)が,特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか(平成18年法改正前の特許法第17条の2第5項において準用する同法第126条第5項の規定に適合するか)について以下に検討する。

2 引用刊行物およびその記載事項(下線は当審で付与した。)
(1)本願の優先権主張日前に頒布され,原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開平7-236093号(以下,「刊行物1」という。)には,「撮像装置」について,図面とともに次の事項が記載されている(下線は当審で付与した。)。
(1-ア) 「【0001】
【産業上の利用分野】この発明は,X線診断装置などに使われる撮像装置に係り,とくに光学像を撮像する撮像素子としてCCD(Charge Coupled Device )などの固体撮像素子を用いた撮像装置に関する。」

(1-イ) 「【0024】(第1実施例)第1実施例を図1に基づいて説明する。
【0025】図1に示すX線診断装置は,X線を被検体Pに向けて曝射するX線管10と,被検体を透過してきたX線を受けるイメージ・インテンシファイヤ(以下,「I.I.」と呼ぶ)11とを備えるとともに,I.I.11の出力側に設けた光学系12及びTVカメラ13を備えている。TVカメラ13は,この実施例ではCCDから成る受光素子を,各画素に対応して2次元に配列した固体撮像素子13aを備えている。
【0026】X線管10は高電圧発生器14を介してX線制御器15に接続されており,X線制御器15から出力されるX線曝射信号S1に応答してX線を曝射可能になっている。またI.I.11は被検体Pを透過してきたX線を入力し,そのX線を光学像に対応した光信号に変換するもので,光信号はレンズなどから成る光学系12を介してTVカメラ13の固体撮像素子13aに照射される。固体撮像素子13aに照射された光信号は,各画素に対応した受光素子夫々において対応する電気量の画像信号に変換される。固体撮像素子13aは駆動回路16から送られてくる駆動信号Sd及び画素アドレス信号Saを受けて上述の光-電気変換を行う。
【0027】TVカメラ13の出力側はさらに,増幅器17及びA/D変換器18を介して2入力の加算器19の一方の入力端に接続されている。これにより,TVカメラ13から出力された画像信号は増幅後,A/D変換されてデジタル量の画像データDiとなって加算器19に入力する。」

(1-ウ) 「【0028】一方,加算器19のもう一方の入力端はオフセット・メモリ20の出力側に接続され,このオフセット・メモリ20の入力側には前述した駆動回路16からの画素アドレス信号Saが入力するようになっている。オフセット・メモリ20には,固体撮像素子13aの画素毎に決まる補正量としてのオフセット・データDoff (画素毎に正又は負の値)を事前に記憶させてある。このオフセット・データDoff は,暗時出力を補正するためのもので,予め装置の出荷時など,装置の使用時よりも前に収集され,記憶されている。なお,オフセット・データの収集時において,固体撮像素子13aの「補正量-画素値」特性に,図22に示すような補正量(=変分)が画素値に依存する画素値依存域Rp が在る場合,この画素値依存域Rp を避ける画素値の光学像を固体撮像素子13aに入射させて収集を行う。
【0029】オフセット・メモリ20は画素アドレス信号Saにより指定されたアドレスのオフセット・データDoff を,固体撮像素子13aからの画像データDiの到来に同期させて,加算器19に出力するようになっている。」

(1-エ)「【0033】(第2実施例)第2実施例を図2及び図3に基づいて説明する。なお,上記実施例と同一又は同等の構成要素には同一符号を付して説明を簡略化又は省略する(第3実施例以降についても同様とする)。
【0034】この第2実施例は,撮像時間(光学像を固体撮像素子に入射し続ける時間)をも考慮したものである。
【0035】第2実施例に係るX線診断装置は図2に示すように,第1実施例における図1のオフセット・メモリに代えて,オフセット・データ生成回路30を設けるとともに,このオフセット・データ生成回路30に駆動回路16から画素アドレス信号Saを,またコントローラ23から撮像時間情報Stimeを供給させる。このため,コントローラ23は入力器24を介して指定される撮像モード(透視モード/撮影モード(長時間露光モード/短時間露光モード))に応じて,予め記憶していている撮像時間データを参照し,撮像時間情報Stimeを供給する。
【0036】オフセット・データ生成回路30は具体的には図3に示すように,撮像時間情報Stimeを受ける係数メモリ31と,この係数メモリ31のメモリ読出し側に,一方の入力端を接続させた2入力の乗算器32と,画素アドレス信号Saを受けるオフセット・メモリ33とを備え,そのオフセット・メモリ33の読出し側を乗算器32の他方の入力端に接続している。乗算器32の出力端は前記第1実施例と同様に加算器19の一方の入力端に接続されている。
【0037】オフセット・メモリ33には第1実施例と同様にして収集された画素毎のオフセット・データDoff *が事前に格納されている。このため,オフセット・メモリ33は画素アドレス信号Saで指定されるアドレスに対応したオフセット・データDoff *を乗算器32に出力する。一方,係数メモリ31は撮像時間の長短に対応した係数を予め格納しており,撮影時間情報Stimeに図4の如く対応した係数Ctimeを読み出し,乗算器32に出力する。つまり,入力器24から撮像モードの切り換えを指令した場合,撮影時間情報Stimeも切り換わり,係数Ctimeも撮影時間の長短に対応した値に自動的に変更される。
【0038】このようにして生成されたオフセット・データDoff *及び係数Ctimeを受けた乗算器32は,「Doff =Doff *×Ctime」の乗算を行い,最終的なオフセット・データDoff を画素毎に演算する。このオフセット・データDoff は加算器19において画素データDiに加算され,前述と同様のオフセット補正に付される。
【0039】したがって,この実施例によれば,X線透視時に,暗電流に起因したオフセット補正を画素毎に,且つ撮像時間の長短を考慮して行うので,長時間露光モードなどの長時間の撮影時間であっても,また短時間の撮影時間であっても,光蓄積時間の長短に影響されない,補正ばらつきの少ない高精度なオフセット補正を行うことができる。」

(1-オ)「【0040】なお,この実施例におけるオフセット・データ生成機構は,図5に示すように構成してもよい。つまり,オフセット・メモリ回路34のオフセット・メモリに,予め撮像時間の長短に対応して選択可能な複数フレーム分のオフセット・データを格納しておき,撮影時間情報Stime及び画素アドレス信号Saに応じたオフセット・データDoff を画素毎に直接,読出しできるようにしたものである。」

上記(1-ア)?(1-オ)の記載と第1?20図を参照すると,上記刊行物1には, 次の発明が記載されていると認められる。
「 X線を被検体Pに向けて曝射するX線管10と,被検体を透過してきたX線を受けるイメージ・インテンシファイヤ(以下,「I.I.」と呼ぶ)11とを備えるとともに,I.I.11の出力側に設けた光学系12及びTVカメラ13を備えており,TVカメラ13はCCDから成る受光素子を,各画素に対応して2次元に配列した固体撮像素子13aを備えているX線診断装置において,
TVカメラ13から出力された画像信号は増幅後,A/D変換されてデジタル量の画像データDiとなって加算器19に入力し,
加算器19のもう一方の入力端はオフセット・メモリ20の出力側に接続され,
オフセット・メモリ20には,固体撮像素子13aの画素毎に決まる補正量としてのオフセット・データDoff (画素毎に正又は負の値)を,予め撮像時間の長短に対応して選択可能な複数フレーム分のオフセット・データが装置の使用時よりも前に収集され,記憶格納しておき,撮影時間情報Stime及び画素アドレス信号Saに応じたオフセット・データDoff を画素毎に直接,読出しできるようにし ,
オフセット・メモリ20は画素アドレス信号Saにより指定されたアドレスのオフセット・データDoff を,固体撮像素子13aからの画像データDiの到来に同期させて,加算器19に出力するオフセット補正をする方法。」

(2)本願の優先権主張日前に頒布され,原査定の拒絶の理由に引用された刊行物である特開2002-231497号公報(以下,「刊行物2」という。)には,図面とともに次の事項が記載されている。
(2-ア)「【0002】【発明の背景】自動照射制御(AEC)はX線イメージング装置において画像ごとに照射を制御するために使用される。その目的は,患者被曝を最小限にしながら画質を維持することにある。」

(2-イ)「【0017】全線量撮影で必要となるmAs値を計算するために,発明者らは,事前撮影のmAs値に対して,事前撮影画像内で計測した平均グレイ値と変換したグレイ値の所望の照射レベルとにより次式のようにスケール調整をした。
【0018】
mAs所要値=事前撮影mAs値*F1(希望照射量)/事前撮影ROIグレイレベル (式1)」

3 対比・判断
補正発明と引用発明とを対比する。
ア 引用発明の「X線診断装置」,「固体撮像素子13a」,「装置の使用時よりも前に収集され」た「オフセット・データDoff」,および「フレーム分のオフセット・データ」は,
それぞれ補正発明の「放射線撮影装置(100)」,「フラット・パネル検出器(112)」,「オフセット信号」,および「オフセット・マップ(206)」,に相当することは明らかである。

イ 引用発明の「オフセット補正をする方法」は補正発明の「オフセット信号を補償する方法」に相当する。

ウ 引用発明は「予め撮像時間の長短に対応して選択可能な複数フレーム分のオフセット・データを装置の使用時よりも前に収集」しているのであるから,補正発明の「非撮像状態の間に前記放射線撮影装置について各々が異なる照射パラメータを使用して取得されたデータに対応する複数のオフセット・マップ(206)を形成するステップ」を有することは明らかである。

エ 引用発明は「予め撮像時間の長短に対応して選択可能な複数フレーム分のオフセット・データを」「記憶格納しておき,撮影時間情報Stime及び画素アドレス信号Saに応じたオフセット・データDoff を画素毎に直接,読出しできる」のであり,補正発明の照射パラメータは,引用発明の「撮影時間」を含むといえる。
そして,引用発明は,撮影時間に応じて,オフセット・データDoff を画素毎に直接,読出しているが,撮影時間が同じ画素はフレームという一つのマップを形成しているといえ,その一つのマップから読み出すので,結局,引用発明は,実質的に補正発明の「決定された照射パラメータから,前記複数のオフセット・マップ(206)から一つのオフセット・マップ(206)を選択するステップ」を有するといえる。

オ 引用発明の「オフセット・メモリ20」は「画素アドレス信号Saにより指定されたアドレスのオフセット・データDoff を,固体撮像素子13aからの画像データDiの到来に同期させて,加算器19に出力する 」のであるから,画像データの入力と補正値の入力と加算が同時並行で行われることとなり,補正発明の「前記決定された照射パラメータに基づいて照射されたX線に基づく放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像の取得中に,前記選択されたオフセット・マップ(206)を前記後続のX線画像に適用するステップ」を有するといえる。

そうすると,両者は,
(一致点)
「放射線撮影装置のフラット・パネル検出器により発生されるオフセット信号を補償する方法であって,
非撮像状態の間に前記放射線撮影装置について各々が異なる照射パラメータを使用して取得されたデータに対応する複数のオフセット・マップを形成するステップと,
決定された照射パラメータから,前記複数のオフセット・マップから一つのオフセット・マップを選択するステップと,
前記決定された照射パラメータに基づいて照射されたX線に基づく放射線撮影装置からの後続のX線画像の取得中に,前記選択されたオフセット・マップを前記後続のX線画像に適用するステップと,
を備えた方法。
」である点で一致し,以下の点で相違するといえる。

(相違点)
補正発明が「前記放射線撮影装置(100)により事前照射X線を発生するステップと,
前記放射線撮影装置により発生される前記事前照射X線から照射パラメータを決定するステップ(402,410)」を有するのに対して,引用発明では,そのような構成を備えていない点。

(1)相違点についての検討
(2-イ)には「【0017】全線量撮影で必要となるmAs値を計算するために,発明者らは,事前撮影のmAs値に対して,事前撮影画像内で計測した平均グレイ値と変換したグレイ値の所望の照射レベルとにより次式のようにスケール調整をした。
【0018】
mAs所要値=事前撮影mAs値*F1(希望照射量)/事前撮影ROIグレイレベル (式1)」と「前記放射線撮影装置により事前照射X線を発生するステップと,前記放射線撮影装置により発生される前記事前照射X線から照射パラメータを決定するステップ」について記載されている。
そして,患者被曝を最小限にしながら画質を維持することは,安全確実な検査のための当然の課題である。
してみると,引用発明に刊行物2記載の事項を付加して,相違点に記載の補正発明の構成とすることは,十分動機付けがあり,阻害要因もなく,当業者が容易に想到するものといえる。

(2)そして,補正発明の作用効果は,刊行物1,2記載の事項から当業者が予測し得る範囲内のものにすぎない。

(3)したがって,補正発明は,引用発明,刊行物2記載の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきであり,特許法第29条第2項の規定により,特許出願の際独立して特許を受けることができないものである。

4 まとめ
以上のとおりであるから,本件補正は,平成18年法改正前の特許法第17条の2第5項において準用する同法第126条第5項の規定に違反するので,同法第159条第1項の規定において読み替えて準用する同法第53条第1項の規定により,却下すべきものである。

第3 本願発明について
1 本願発明
本件補正は,上記のとおり却下されることとなるので,本願の請求項1?10に係る発明は,平成24年8月13日付け手続補正書により補正された明細書の特許請求の範囲の請求項1?10に記載された事項により特定されたものであって,その請求項1に係る発明は,次のとおりであると認める。
「 【請求項1】
放射線撮影装置(100)のフラット・パネル検出器(112)により発生されるオフセット信号を補償する方法であって,
非撮像状態の間に前記放射線撮影装置について各々が異なる照射パラメータを使用して取得されたデータに対応する複数のオフセット・マップ(206)を形成するステップと,
前記放射線撮影装置(100)により事前照射X線を発生するステップと,
前記放射線撮影装置により発生される前記事前照射X線から照射パラメータを決定するステップ(402,410)と,
前記決定された照射パラメータから,前記複数のオフセット・マップ(206)から一つのオフセット・マップ(206)を選択するステップと,
前記選択されたオフセット・マップ(206)を前記決定された照射パラメータに基づいて照射されたX線に基づく放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像に適用するステップと,
を備えた方法。」(以下,「本願発明」という。)

2 引用刊行物およびその記載事項
本願出願前に頒布された刊行物1,2およびその記載事項は,上記「第2 2」に記載したとおりである。

3 当審の判断
本願発明は,補正発明から「放射線撮影装置(100)からの後続のX線画像の取得中に」との「前記選択されたオフセット・マップ(206)を」「後続のX線画像に適用する」タイミングについて限定する構成を省き,整えた文章を元にもどしたものに相当する。
そうすると,本願発明の構成要件を全て含む補正発明が,上記「第2 3」において検討したとおり,引用発明,刊行物2記載の事項に基づいて,当業者が容易に発明をすることができたものであるから,本願発明も,同様の理由により,引用発明,刊行物2記載の事項に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるというべきである。

第4 まとめ
以上のとおり,本願発明は,特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができないから,その他の請求項について言及するまでもなく,本願は拒絶されるべきものである。
よって,結論のとおり審決する。
 
審理終結日 2013-11-18 
結審通知日 2013-11-19 
審決日 2013-12-13 
出願番号 特願2006-172297(P2006-172297)
審決分類 P 1 8・ 575- Z (A61B)
P 1 8・ 121- Z (A61B)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 泉 卓也松谷 洋平  
特許庁審判長 岡田 孝博
特許庁審判官 森林 克郎
信田 昌男
発明の名称 X線画像のオフセット補正のシステム、方法及び装置  
代理人 田中 拓人  
代理人 小倉 博  
代理人 黒川 俊久  
代理人 荒川 聡志  

プライバシーポリシー   セキュリティーポリシー   運営会社概要   サービスに関しての問い合わせ