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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録(定型) G01B
管理番号 1288206
審判番号 不服2013-1525  
総通号数 175 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2014-07-25 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2013-01-28 
確定日 2014-06-17 
事件の表示 特願2008- 90642「表面形状測定方法」拒絶査定不服審判事件〔平成21年10月22日出願公開,特開2009-244081,請求項の数(3)〕について,次のとおり審決する。 
結論 原査定を取り消す。 本願の発明は,特許すべきものとする。 
理由 本願は,平成20年3月31日の出願であって,その請求項1ないし3に係る発明は,特許請求の範囲の請求項1ないし3に記載された事項により特定されるとおりのものであると認める。
そして,本願については,原査定の拒絶理由を検討してもその理由によって拒絶すべきものとすることはできない。
また,他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
よって,結論のとおり審決する。

(付記)
なお,平成25年11月26日付の回答書に補正案が記載されているが,(1)「前記被測定物上の複数の測定点において発生する干渉光の輝度変動にて撮像手段のマトリクス状に配置された複数の受光素子で検出して記憶部に記憶され」の記載が明確でないこと,(2)審理対象とした特許請求の範囲の記載と比較して変更補正かつ増項補正になっていること,等により,補正の機会は与えないこととした。
 
審決日 2014-06-02 
出願番号 特願2008-90642(P2008-90642)
審決分類 P 1 8・ 121- WYF (G01B)
最終処分 成立  
前審関与審査官 ▲うし▼田 真悟  
特許庁審判長 飯野 茂
特許庁審判官 関根 洋之
樋口 信宏
発明の名称 表面形状測定方法  
代理人 西山 春之  
代理人 小川 護晃  
代理人 奥山 尚一  

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