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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録 G01N
審判 査定不服 特36条6項1、2号及び3号 請求の範囲の記載不備 取り消して特許、登録 G01N
管理番号 1324406
審判番号 不服2015-12660  
総通号数 207 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2017-03-31 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2015-07-03 
確定日 2017-02-21 
事件の表示 特願2012-554999「マイクロプレート取り付けシステム及び検出方法」拒絶査定不服審判事件〔平成23年 8月25日国際公開、WO2011/102909、平成25年 6月 6日国内公表、特表2013-520680、請求項の数(22)〕について、次のとおり審決する。 
結論 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 
理由 第1 手続の経緯
本願は、平成23年2月22日(パリ条約による優先権主張外国庁受理2010年2月22日、米国(US))を国際出願日とする出願であって、平成26年10月17日付けで拒絶理由が通知され、平成27年1月16日に手続補正がなされ、同年2月23日付けで拒絶査定がなされ、同年7月3日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、平成28年8月3日付けで当審からの拒絶理由(以下、当審拒絶理由」という。)が通知され、同年11月9日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。

第2 本願発明
本願の請求項1-22に係る発明は(以下「請求項1に係る発明」?「請求項22に係る発明」を、それぞれ、「本願発明1」?「本願発明22」ともいう。)、平成28年11月9日付けの手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項1-22に記載された事項により特定されるものと認められるところ、そのうち本願の請求項1に係る発明は以下のとおりである。
「 【請求項1】
光学式読取装置に対してマイクロプレートを取り付けて、前記マイクロプレートにおける問合わせビームの入射角度を制御するマイクロプレート取り付けシステムであって、
前記マイクロプレートを受容するための嵌め込み部材と、
底部およびスカートを有するマイクロプレートと、
少なくとも一組の取り付け機構要素を有し、前記光学式読取装置に対する機械的基準を提供する基準平面と、
第1の位置決め機構であって、前記第1の位置決め機構は、前記マイクロプレートがもはや前記嵌め込み部材により前記基準平面に直交するz方向に拘束されないように前記マイクロプレートの前記底部および前記マイクロプレートの前記スカートの一方または双方と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の一組との間の係合を通じて、前記z方向において前記マイクロプレートの相対的位置決めを可逆的に制御することにより前記マイクロプレートにおける前記問合わせビームの前記入射角度を制御するために、前記マイクロプレートの前記底部により形成された平面と前記光学式読取装置との間に前記z方向に可逆的に所定の離隔距離を提供する、第1の位置決め機構と、
前記マイクロプレートと前記基準平面との間に相対的な横方向の位置合わせの運動を提供する第2の位置決め機構とを含み、前記第2の位置決め機構が、前記基準平面の開口の少なくとも一部の回りに前記マイクロプレートを移動させる、マイクロプレート取り付けシステム。」

第3 原査定の理由について
1 原査定の理由の概要
「この出願の下記の請求項に係る発明は、その出願前に日本国内又は外国において、頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その出願前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。

・請求項1?25
・引用文献等1-3
1.特表2006-515428号公報
2.特開2006-145393号公報
3.米国特許出願公開第2006/0188409号明細書」

第4 当審拒絶理由について
1 当審拒絶理由の概要

理由1(特許法第36条第6項第1号違反について)
「本件出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備なため、特許法第36条第6項第1号に規定する要件を満たしていない。

請求項11に係る発明は、「前記第1の位置決め機構が、前記基準平面、前記嵌め込み部材、前記光学式読取装置、又はそれらの組み合わせに一体化されている、請求項7に記載のシステム。」と特定しているが、
「第1の位置決め機構が、基準平面に一体化されているもの」は段落【0046】に記載され、「第1の位置決め機構が、嵌め込み部材に一体化されているもの」は段落【0044】に記載され、「第1の位置決め機構が光学式読取装置に一体化されているもの」は段落【0045】に記載されているが、
「第1の位置決め機構が、基準平面と嵌め込み部材の組み合わせに一体化されているもの」、
「第1の位置決め機構が、基準平面と光学式読取装置の組み合わせに一体化されているもの」、
「第1の位置決め機構が、嵌め込み部材と光学式読取装置の組み合わせに一体化されているもの」、
「第1の位置決め機構が、基準平面と嵌め込み部材と光学式読取装置の組み合わせに一体化されているもの」については、いずれも発明の詳細な説明には記載されていないし、自明の構成ともいえないので、これらの構成は発明の詳細な説明の記載からサポートされるものではない。」

理由2(特許法第36条第6項第2号違反について)
「本件出願は、特許請求の範囲の記載が下記の点で不備のため、特許法第36条第6項第2号に規定する要件を満たしていない。


(1) 請求項1、7、20に係る発明は、「前記第1の位置決め機構は、前記マイクロプレートがもはや前記嵌め込み部材によりz方向に拘束されないように」など方向を「Z方向」と特定しているが、特許請求の範囲及び発明の詳細な説明において「Z方向」は定義されていないから、「z方向」とは、どのような方向かが特定できない。
してみると、ので、請求項1に係る発明と、請求項1を直接または間接に引用する請求項2?25に係る発明は、明確でない。

(2)
(2-1) 請求項6に係る発明は「前記嵌め込み部材が、
前記基準平面に対して前記マイクロプレートを位置決めするために前記マイクロプレートを把持し」と特定しているが、「基準平面に対して前記マイクロプレートを位置決めする」方向を、特定していないので、「前記嵌め込み部材が、
前記基準平面に対して前記マイクロプレートを位置決めするために前記マイクロプレートを把持」する位置が明確でない。

(2-2) 請求項6に係る発明は、「前記嵌め込み部材が、・・・前記マイクロプレートの前記底部と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の1つとが係合する際に前記マイクロプレートを開放するように構成されている」と特定し、請求項7に係る発明は、「前記嵌め込み部材は、前記マイクロプレートが前記z方向において前記光学式読取装置から所定の離隔距離にある際に前記マイクロプレートを再把持する、請求項6に記載のシステム」と特定しているが、
「嵌め込み部材」が「マイクロプレート」の把持を解放することに関して、請求項6では「マイクロプレートの前記底部と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の1つとが」「係合する際に」と特定し、
「嵌め込み部材」が「マイクロプレート」を再把持することに関して、請求項7では「マイクロプレートが前記z方向において前記光学式読取装置から」「所定の離隔距離にある際に」と特定しており、「嵌め込み部材」の「マイクロプレート」の把持について、請求項6での解放する条件の記載と、請求項7での再把持する条件の記載の平仄が一致せず、請求項6及び7に係る発明は明確でない。

(2-3) したがって、請求項6及び7に係る発明は明確でない。
請求項7を引用する請求項11に係る発明も同様である。

(3) 請求項22に係る発明は「前記相対的な横方向の位置合わせ運動が、前記基準平面に平行な平面において、前記基準平面の開口の回りに同心に又は長方形の偏心パターンで前記マイクロプレートを移動させる、請求項19に記載の方法。」と特定しているが、「同心」が何と同じ中心を意味するのかが不明であるので、「基準平面の開口の回りに同心に」「前記マイクロプレートを移動させる」ことの意味を明確に特定することができない。
さらに、「偏心」が何に対するどのような偏心であるのかが不明であるから、「基準平面の開口の回りに」「長方形の偏心パターンで前記マイクロプレートを移動させる」ことの意味も明確に特定することができない。
したがって、請求項22に係る発明は明確でない。」

理由3(特許法第29条第2項について)
「本件出願の請求項1?25に係る発明は、その優先日前日本国内または外国において頒布された下記の刊行物に記載された発明又は電気通信回線を通じて公衆に利用可能となった発明に基いて、その優先日前にその発明の属する技術の分野における通常の知識を有する者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。


刊行物1(引用文献2):特開2006-145393号公報
刊行物2:特開2009-503446号公報(周知技術を示す文献)」


2 当審拒絶理由の「理由1(特許法第36条第6項第1号違反について)」の判断
平成29年1月13日付け手続補正書によって、本願の請求項11は「、又はそれらの組み合わせ」という記載が削除され整理されたので、請求項11は発明の詳細な説明の記載からサポートされるものとなった。
よって、当審拒絶理由の「理由1(特許法第36条第6項第1号違反について)」は解消した。

3 当審拒絶理由の「理由2(特許法第36条第6項第2号違反について)」の判断
(1) 平成29年1月13日付け手続補正書によって、本願の請求項1は「前記基準平面に直交するz方向」と補正されたので、「z方向」が明確になった。

(2)
(2-1) 平成29年1月13日付け手続補正書によって、本願の請求項6は「前記基準平面に平行な平面において前記マイクロプレートを問合わせのための所望の位置に位置決めするために前記マイクロプレートを把持し、」と補正されたので、「前記基準平面に対して前記マイクロプレートを位置決めするために前記マイクロプレートを把持」する位置がが明確になった。

(2-2) 平成29年1月13日付け手続補正書によって、本願の請求項7は「前記嵌め込み部材は、前記マイクロプレートの前記底部と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の一組を切り離す際に前記マイクロプレートを再把持する、」と補正されたので、把持について、請求項6での解放する条件の「係合する際」との記載と、請求項7での再把持する条件の「切り離す際」との記載の平仄が一致した。

(2-3) したがって、請求項6及び7に係る発明は明確となった。
請求項7を引用する請求項11に係る発明も同様である。

(3)平成29年1月13日付け手続補正書によって、本願の請求項22は削除された。

(4)よって、当審拒絶理由の「理由2(特許法第36条第6項第2号違反について)」は解消した。

4 原査定の理由(特許法第29条第2項違反について)も含めた当審拒絶理由の「理由3(特許法第29条第2項違反について)」の判断

(1)刊行物の記載事項
ア 刊行物1には、「測定容器および保持機構」について、図面とともに次の事項が記載されている(下線は当審で付与した。)。

(アーア)
「【技術分野】
【0001】
本発明は、測定容器とその保持機構に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、溶液等の試料を光学的に測定・観察する装置において、試料や試薬を少量ずつ小分けして保持する容器としてマイクロプレートが用いられている。
このようなマイクロプレートにおいて、特に溶液もしくは組織を試料とする装置では、底面が光学的に透明なマイクロプレートを水平に保持し、容器下方より底面を通して測定・観察を行う方式がよく用いられる。このようなマイクロプレートの構成例を図9に示す。図9に示すマイクロプレートは、主に樹脂や金属からなるフレーム部1と、光学的に透明である底面2(以下、「透明部材」と称する場合もある)とを備えている。なお、フレーム部1には、試料を入れる複数のウェル3(試料槽)が形成されており、底面2がフレーム部1に接着されることにより、各ウェル3が分離されている。また、一般にこれらのマイクロプレートでは、フレーム部1の外周が底面2より一段低く形成されている。これにより、非測定時や試料の分注時でも、マイクロプレートの底面2の測定領域2aは机上等に接触しないので、測定に悪影響を与えるようなゴミや汚れが付着せず、また、傷つきも防止される。
【0003】
上記のマイクロプレートを測定装置や分注装置に装着する場合に、マイクロプレートのフレーム部1の外周部を保持機構が保持することによりマイクロプレートを支持している。図10は、このマイクロプレートを用いた測定装置の例としての蛍光測定装置を示す図である。
図10において、装置の本体部分の基本的な装置構成は共焦点光学顕微鏡をベースとしている。光源5として、アルゴン・レーザー(発振出力10mW、波長:488nm)を用い、対物レンズ6で集光した領域(「共焦点領域」と称する)に試料が当たるように、マイクロプレートの水平位置、垂直位置をステージ7、及び対物レンズ縦軸調整機構8により調整する。」

(アーイ)
「【0006】
図11はマイクロプレート(2点鎖線で表記)とそれを保持するステージ7の斜視図である。マイクロプレートは、水平方向には垂直位置決め面18および必要に応じてマイクロプレートを付勢し固定するレバー20によって位置が決まる。垂直方向は、水平位置決め面19で3点支持され、装置に対しての設置位置が決まっている。
【0007】
このマイクロプレートを用い、前述のように容器底面より測定する方法の大きな利点の一つとして、測定時の照射光の合焦位置を底面よりやや試料側に設定すれば、試料溶液の量や試料組織の状態によらず、どのウェルでも比較的同じ位置で合焦可能なことが挙げられる。しかし、実際には、マイクロプレート内に並んだ複数のウェル3をそれぞれ測定する場合(特にウェル同士が離れている場合)には、ウェルにより対物レンズと試料の間の距離にばらつきがあるので、やはり複数回の合焦動作が必要である。
その原因の一つとして、対物レンズの駆動する平面(水平方向)と、底面の透明部材との間の平行度が十分ではないことが挙げられる。この原因として、装置自身の精度とマイクロプレートの形状誤差などが考えられる。装置自身の精度に関しては、工作精度や調整により改善が可能である。マイクロプレートについては、フレーム自体の形状誤差やフレームに対する透明部材(底面)の取り付け誤差等が考えられる。そのため、図12に示すように、ステージ7に保持されるマイクロプレートのフレーム部1の形状が歪んで、左右異なっているような場合には、底面2がステージ7に対して傾くため、対物レンズ6についても、その焦点位置を試料に合わせなくてはならないので、特にサンプルが微少体積で合焦位置の精度が求められる場合には、試料の位置に応じて合焦動作を行う必要がある。」

(アーウ)
「【発明が解決しようとする課題】
【0010】
本発明は、底面が透明なマイクロプレートのような測定容器を用いる測定装置において、対物レンズとサンプルとの距離の変動を低減させるための測定容器と当該測定容器を保持するための保持機構を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0011】
本発明の一局面に係る測定容器は、容器表面側に開口部を有する複数の試料槽が形成され、その底面が光学的に透明な部材で形成された測定領域を備え、前記底面がフレーム部の接地部分より内側に位置するように構成され、前記底面を通して試料槽内の試料の観察・測定を行うための測定容器において、前記底面が前記測定領域よりも大きく形成されており、その大きさが少なくとも前記測定領域以外の領域で支持部材により支持することが可能な大きさであることを特徴とする。
【0012】
また、本発明の一局面に係る保持機構は、上記の測定容器を保持するための保持機構において、前記測定領域以外の領域に少なくとも3個の支持突起を当接することにより前記測定容器を位置決めすることを特徴とする。
【発明の効果】
【0013】
本発明によれば、測定容器の底面とステージとの平行度を改善できるので、試料槽間での光軸方向位置の変化がおさえられ、複数の試料槽を計測するときも合焦動作の回数が減少し、測定が高速化される。また、マイクロプレートの保持を測定領域外で行うようにしたので、測定時に、マイクロプレート支持機構と対物レンズの干渉することが無くなり、測定可能なウェルが減少してしまうことや、保持機構が測定に悪影響を与えることを防止できる。」

(アーエ)
「【発明を実施するための最良の形態】
【0014】
図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るマイクロプレート保持機構の概略構成を示す図である。なお、図1において、図11と同じ部分には同じ符号を付している。図1に示すように、本実施形態では、マイクロプレートのフレーム部1の水平位置決め面19に3点(或いはそれ以上)の支持突起21が設けられている。このような保持機構に対して、図2に示すようなマイクロプレートを用意する。図2は、本発明の一実施形態に係る測定容器(マイクロプレート)を背面から見た図である。図2において、図9と同じ部分には同じ符号を付している。
【0015】
図2に示すように、本実施形態では、マイクロプレートの底面2の大きさを、図9に示す底面(以下、「測定領域」と称する)2aよりも大きくし、ウェルが形成されている部分以外の部分2b(以下、「保持領域」と称する)を形成して、該保持領域2bの支持部分24に図1に示す支持突起21を当接させるようにしている。これにより、支持突起21による支持部分が測定領域2aから外れるので、測定領域と干渉することはない。また、この場合において、支持突起21が直接底面2を支持しており、かつ底面2が1枚のプレートで形成されているので、その歪等はフレーム部1への取り付け誤差よりも格段に低いことが予想される。従って、本実施形態のように底面2を直接指示突起21で支持することにより、底面2とステージ7との平行度(なお、以下の説明において、ステージと対物レンズの水平方向への駆動平面との平行度は保たれているものとする)を保つことができる。
なお、この場合において、支持突起21の突起の量が0.3mm以上に設定されることが好ましい。また、支持突起の形状は先端にRを持った円筒形か円錐形、もしくは半球形状が望ましい。さらに、測定領域2a以外の部分である保持領域2bの寸法Aは、対物レンズ6との干渉を防ぐために、測定領域2aから2mm以上であることが好ましい。
【0016】
上記のようなマイクロプレート保持機構とマイクロプレートを用いることにより、マイクロプレートの透明部材のうち、測定領域2a以外の保持領域2bを支持突起21により支持することが可能となる。
図3は、マイクロプレートとそれを保持するステージ7の断面図である。図3において、図12と同じ部分には同じ符号を付している。図3に示すように、マイクロプレートは、その底面2の保持領域2bに支持突起21が当接することにより、その垂直方向の位置(すなわち底面2とステージ7との平行度)が決定されている。従って、支持突起21の先端部の形成する平面と、対物レンズ6の水平方向への駆動平面(すなわちステージ)との平行度が保たれていれば、対物レンズ6の水平方向への駆動平面と底面2との平行度は底面2の歪のみに依存することになる。従って、フレームの形状誤差や底面の透明部材の接着誤差があっても、それらは全く影響しない。このため、本実施形態によれば、対物レンズ6を図中矢印に示すように、水平方向に駆動した場合でも、焦点位置は変わることがないので、対物レンズ6の移動の度に合焦動作を行う必要がない。」

(アーオ)
「0020】
上記の構成において、底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整するために、ステージ7に取り付けられた支持突起21の先端位置を調整できることが好ましい。図7の(a)にその一例を示す。図7の(a)に示すように、支持突起21がステージ7本体と螺合しており、支持突起21が回転することにより支持突起21の高さを容易に変化させることが出来る。なお、全ての支持突起21の先端部の高さは、独立に可変であるものとする。ワッシャ28は突起の回転に負荷を与えるものであり、静止状態での支持突起のガタや回転を防ぐ。回転のための動力は、手動もしくは電動アクチュエータにより供給される。なお、支持突起21の上下の移動は、それぞれ独立して移動するようにしても良いし、連動して移動するようにしても良い。また、独立或いは連動を切り替えて移動制御することもできる。
また、図7の(b)に示すように、この形状では今回発明したマイクロプレート以外の従来マイクロプレートを使ったとしても、マイクロプレート形状の違いを問題とせずステージ部分29において支持し、計測することが可能である。」

上記(アーア)?(アーオ)の記載によれば、上記刊行物1には、次の発明が記載されていると認められる。
「マイクロプレートの底面2とステージ7との平行度を改善できるので、試料槽間での光軸方向位置の変化がおさえられる、マイクロプレートを装着して用いた蛍光測定装置のマイクロプレートを保持するための保持機構であって、
蛍光測定装置は、光源5として、アルゴン・レーザーを用い、対物レンズ6で集光した領域に試料が当たるように、マイクロプレートの水平位置、垂直位置をステージ7、及び対物レンズ縦軸調整機構8により調整するもので、
マイクロプレートは、水平方向には垂直位置決め面18および必要に応じてマイクロプレートを付勢し固定するレバー20によって位置が決まり、垂直方向は、水平位置決め面19で3点支持され、装置に対しての設置位置が決まっている、マイクロプレートを保持するステージ7と、
フレーム部1の外周が底面2より一段低く形成されているマイクロプレートと、
底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整するために、ステージ7に螺合して取り付けられた直接底面2を支持する少なくとも3個の支持突起21と、
を備え、
支持突起21が回転することにより支持突起21の高さを容易に変化させることが出来、全ての支持突起21の先端部の高さは、独立に可変であり、回転のための動力は、電動アクチュエータにより供給され、
測定領域以外の領域に少なくとも3個の支持突起21を当接することにより前記マイクロプレートを位置決めし、
ステージ7と対物レンズの水平方向への駆動平面との平行度は保たれており、底面2とステージ7との平行度を保つことができる、
マイクロプレートを装着して用いた蛍光測定装置のマイクロプレートを保持するための保持機構。」
(以下、「引用発明」という。)

イ 刊行物2には、「運動学的ウエルプレート取付け方法」について、図面とともに次の事項が記載されている(下線は当審で付与した。)。

(イ-ア)
「【技術分野】
【0002】
本発明は、概してマイクロプレートを固定位置に拘束するための機構に関するものである。」

(イ-イ)
「【0015】
本発明の別の実施の形態においては、特定の嵌合部が無い場合の拘束機構の一つまたは複数の二次的表面から支持体が突出している。この二次的表面は、入れ子状に収容するリセプタクルの検出開口部の周縁にさらに棚を形成している端壁および側壁上に嵌めこまれているのが好ましい。これに加えて、支持体は、マイクロプレートの少なくとも一つの下面に接触することができる一つまたは複数の点接点を備えている。この実施の形態においては、3個の支持体が上記二次的表面上で用いられ、かつ複数の位置決め構造が端壁および側壁上に配置されてマイクロプレートを固定された場所に拘束する。6個の自由度を拘束するためには、最少限の6個の点接点が設けられなければならない。設けられている接点に予め負荷を与えるためには、それ以上の接点が必要である。このような実施の形態は、少なくとも1個のX方向接点および少なくとも1個のY方向接点をそれぞれ端壁および側壁上に備え、すなわち、X方向接点を有する端壁は、Y方向接点を有する側壁に対し直角である。この拘束機構は、上記端壁および側壁上にそれぞれ少なくとも2個のX方向接点および少なくとも1個のY方向接点を備え、これに加えて、上記X方向接点に対向する上記端壁上に少なくとも1個のバネ付勢された接点を、上記Y方向接点に対向する上記側壁上に少なくとも1個のバネ付勢された接点を備えていることが好ましい。」

(イ-ウ)
「【0033】
本発明のさらに別の実施の形態が図5?図5Eに示されている。この実施の形態においては、拘束機構500が、一次的表面510および二次的表面512の二つの表面を備えた基板502を備えている。二次的表面512は、基板502内に開口部/検出開口部506を形成する両端壁514および両側壁516上に嵌めこまれている。二次的表面512は、検出開口部506の周囲に棚512を形成し、かつ入れ子状に収容するリセプタクル520を画成する。前述の実施の形態と同様に、拘束されるマイクロプレート501によって占められる領域は、入れ子状に収容するリセプタクル520を画成する(図5Aにおける拘束機構500の透明な平面図に示されているように)。入れ子状に収容するリセプタクル520は、その上にマイクロプレート501がしっかりと保持される拘束機構500内の場所によって画成されている。入れ子状に収容するリセプタクル520はさらに、マイクロプレート501をZ方向の面において支持しかつ接することができる3個の支持体530を有する二次的表面512によって画成されている。しかしながら、本実施の形態における拘束機構500が8個の接触点を有して、図5Bにおける好ましい実施の形態の平面図に示されているように、X,YおよびZ面方向にマイクロプレートの位置を確定することが好ましい。好ましい拘束機構500における8個の接触点は、入れ子状に収容するリセプタクル520内部の三角形に配置されかつ表面512から突出する3個の支持体530と、5個の付加的位置決め構造とを含み、これら5個の付加的位置決め構造は、一方の端壁514上に配置された2個のX方向接点540xと、一方の側壁516上に配置された1個のY方向接点540yと、対向する端壁514および側壁516上に配置された、それぞれX方向接点およびY方向接点の反対側から力を加えるそれぞれバネ付勢された2個の接点550xおよび550yである。本実施の形態においては、入れ子状に収容するリセプタクル520は、上記のように5個の付加的位置決め構造を備えている。これらの位置決め接点540x/yのそれぞれに対する調整手段517が拘束機構500の外面521に配置されている。板バネ調整手段519は印加するバネ付勢力を調整するのに用いられる。このような調整手段517または板バネ調整手段519は、マイクロプレートに加える力を調整するためにねじまたはその他の手段を用いている。さらなる調整手段が、寸法の異なるマイクロプレートに対応するために用いられる(すなわち、支持体530の高さ調整のため)。」

上記(イ-ア)?(イ-ウ)の記載によれば、上記刊行物2には、次の発明が記載されていると認められる。
「基板502内に開口部/検出開口部506を形成する両端壁514および両側壁516と、
開口部/検出開口部506の一方の端壁514上に配置された2個のX方向接点540xと、一方の側壁516上に配置された1個のY方向接点540yと、対向する端壁514および側壁516上に配置された、それぞれX方向接点およびY方向接点の反対側から力を加えるそれぞれバネ付勢された2個の接点550xおよび550yと、
両端壁514および両側壁516上に嵌めこまれて検出開口部506の周囲に形成した二次的表面(棚)512と、
該二次的表面(棚)512が有する、Z方向の面において支持しかつ接することができる3個の支持体530と、からなる
マイクロプレート501がしっかりと保持される拘束機構500。」
(以下、「引用発明2」という。)

(2)対比
本願発明1と引用発明とを対比する。

ア-1 引用発明の「蛍光測定装置」は、蛍光を光学系を用いて測定するから、本願発明1の「光学式読取装置」に相当する。
また、引用発明の「マイクロプレートを装着して用いた蛍光測定装置」は、本願発明1の「光学式読取装置に対してマイクロプレートを取り付け」るものに相当する。
さらに、引用発明の「蛍光測定装置」の「対物レンズ6で集光した」「アルゴン・レーザー」は、測定のために「試料」に当てるのであるから、本願発明1の「問合わせビーム」に相当することは明らかである。

ア-2 引用発明は「ステージ7と対物レンズの水平方向への駆動平面との平行度は保たれており、底面2とステージ7との平行度を保つことができる」ものであり、「試料槽間での光軸方向位置の変化がおさえられる」ものであるから、ステージ7、対物レンズの水平方向への駆動平面、底面2、それぞれが平行となっており、その結果として底面2と対物レンズの光軸がなす角は一定に保たれるものとなる。
そうすると、引用発明は、多数の試料槽から成るマイクロプレート平面と「問い合わせビーム」の成す角度が変化しないように、試料槽への「問い合わせビーム」の入射角度を制御するものといえる。

ア-3 引用発明の「保持機構」は、「マイクロプレートを保持するための」ものであり、「蛍光測定装置」が備えるものであるから、「蛍光測定装置」の備えるマイクロプレートを取り付ける装置といえる。
そうすると、上記アー1、アー2に鑑みると、引用発明の「試料槽間での光軸方向位置の変化がおさえられる、
マイクロプレートを装着して用いた蛍光測定装置の
マイクロプレートを保持するための保持機構」は、本願発明1の「光学式読取装置に対してマイクロプレートを取り付けて、前記マイクロプレートにおける問合わせビームの入射角度を制御するマイクロプレート取り付けシステム」に相当する。

イ 引用発明の「マイクロプレートは、水平方向には垂直位置決め面18および必要に応じてマイクロプレートを付勢し固定するレバー20によって位置が決まり、垂直方向は、水平位置決め面19で3点支持され、装置に対しての設置位置が決まっている、マイクロプレートを保持するステージ7」は、本願発明1の「マイクロプレートを受容するための嵌め込み部材」に相当する。

ウ マイクロプレートのフレーム部の外周で底面より一段低く形成されているものは「スカート」と呼ばれることは技術常識であるから、引用発明の「フレーム部1の外周が底面2より一段低く形成されているマイクロプレート」は、本願発明1の「底部およびスカートを有するマイクロプレート」に相当するものであることは明らかである。

エ 引用発明の「支持突起21」は、底面2と「当接することにより前記マイクロプレートを位置決めする」ものであるから、引用発明の「3個の支持突起21」は、本願発明1の「一組の取り付け機構要素」に相当する。

オ 引用発明は「底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整する」ものであるから、「ステージ7」は底面2との平行度を調整する「基準となる面」といえる。
さらに、ステージと対物レンズの水平方向への駆動平面との平行度は保たれていることから、「ステージ7」は「底面2との平行度を調整し」「試料槽間での光軸方向位置の変化がおさえられる」ための「基準となる面」といえる。

そうすると、引用発明の「底面2と」「の平行度をより正確、容易に調整する」「ステージ7」であって「底面2を支持する少なくとも3個の支持突起21」が「螺合して取り付けられた」「ステージ7」と、
本願発明1の「少なくとも一組の取り付け機構要素を有し、前記光学式読取装置に対する機械的基準を提供する基準平面」とは、
「少なくとも一組の取り付け機構要素を有し、前記光学式読取装置に対する機械的基準を提供する基準となる面」の点で共通する。


カー1 引用発明の「マイクロプレートは、」「マイクロプレートを保持するステージ7」により「水平方向には」「位置が決まり、垂直方向は、水平位置決め面19で3点支持され、装置に対しての設置位置が決まって」いることは、ステージ7の水平位置決め面19により底面2に直交する垂直方向に拘束されているといえる。
さらに、引用発明は「底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整するために、ステージ7に螺合して取り付けられた直接底面2を支持する少なくとも3個の支持突起21と、を備え、
支持突起21が回転することにより支持突起21の高さを容易に変化させることが出来、」「測定領域以外の領域に少なくとも3個の支持突起21を当接することにより前記マイクロプレートを位置決めする」ものであり、「支持突起21の高さを」「変化させ」「マイクロプレートを位置決め」することは、「マイクロプレートを」「ステージ7」上の垂直方向の位置を変えることであるから、「マイクロプレート」がステージ7の水平位置決め面19により底面2に直交する垂直方向に拘束された状態から、もはやステージ7の水平位置決め面19により底面2に直交する垂直方向に拘束されない状態となることといえる。

カー2 引用発明は「底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整するために、」「ステージ7に螺合して取り付けられた直接底面2を支持する少なくとも3個の支持突起21」「の先端部の高さは、独立に可変であり、」「3個の支持突起21を当接することにより前記マイクロプレートを位置決めする」ものであるから、位置決めのための機構を備えることは自明である。
また、上記「前記マイクロプレートを位置決めする」と、マイクロプレートと蛍光測定装置の光学系との位置が定まるので、定めるそれらの間の距離を,所定の距離といえることも自明である。

カー3 そうすると、上記、アー2、カー1、カー2に鑑みると、引用発明の「マイクロプレートは、水平方向には垂直位置決め面18および必要に応じてマイクロプレートを付勢し固定するレバー20によって位置が決まり、垂直方向は、水平位置決め面19で3点支持され、装置に対しての設置位置が決まっているマイクロプレートを保持するステージ7と」、「底面2とステージ7との平行度をより正確、容易に調整するために、ステージ7に螺合して取り付けられた直接底面2を支持する少なくとも3個の支持突起21と、を備え、
支持突起21が回転することにより支持突起21の高さを容易に変化させることが出来、全ての支持突起21の先端部の高さは、独立に可変であり、回転のための動力は、電動アクチュエータにより供給され、
測定領域以外の領域に少なくとも3個の支持突起21を当接することにより前記マイクロプレートを位置決め」するものと、
本願発明1の「前記マイクロプレートがもはや前記嵌め込み部材により前記基準平面に直交するZ方向に拘束されないように前記マイクロプレートの前記底部および前記マイクロプレートの前記スカートの一方または双方と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の1組との間の係合を通じて、前記Z方向において前記マイクロプレートの相対的位置決めを可逆的に制御することにより前記マイクロプレートにおける前記問合わせビームの前記入射角度を制御するために、前記マイクロプレートの前記底部により形成された平面と前記光学式読取装置との間に前記Z方向に可逆的に所定の離隔距離を提供する、第1の位置決め機構」とは、
「前記マイクロプレートがもはや前記嵌め込み部材により基準となる面に直交するZ方向に拘束されないように前記マイクロプレートの前記底部と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の1組との間の係合を通じて、前記Z方向において前記マイクロプレートの相対的位置決めを可逆的に制御することにより前記マイクロプレートにおける前記問合わせビームの前記入射角度を制御するために、前記マイクロプレートの前記底部により形成された平面と前記光学式読取装置との間に前記Z方向に可逆的に所定の離隔距離を提供する」「位置決めのための機構」の点で共通する。

そうすると、両者は
<一致点>
「光学式読取装置に対してマイクロプレートを取り付けて、前記マイクロプレートにおける問合わせビームの入射角度を制御するマイクロプレート取り付けシステムであって、
前記マイクロプレートを受容するための嵌め込み部材と、
底部およびスカートを有するマイクロプレートと、
少なくとも一組の取り付け機構要素を有し、前記光学式読取装置に対する機械的基準を提供する基準となる面と、
位置決めのための機構構であって、前記位置決めのための機構は、前記マイクロプレートがもはや前記嵌め込み部材により基準となる面に直交するZ方向に拘束されないように前記マイクロプレートの前記底部と前記少なくとも一組の取り付け機構要素の1組との間の係合を通じて、前記Z方向において前記マイクロプレートの相対的位置決めを可逆的に制御することにより前記マイクロプレートにおける前記問合わせビームの前記入射角度を制御するために、前記マイクロプレートの前記底部により形成された平面と前記光学式読取装置との間に前記Z方向に可逆的に所定の離隔距離を提供する、マイクロプレート取り付けシステム。」である点で一致し,以下の点で相違するといえる。

<相違点1>
取り付け機構要素を有する基準となる面が、本願発明では「マイクロプレートを受容するための嵌め込み部材」とは別の「基準平面」であるのに対して、引用発明では「マイクロプレートを保持する」「ステージ7」である点。

<相違点2>
マイクロプレートの前記底部と係合する位置決めのための機構 について、本願発明では、「前記マイクロプレートの前記スカートの一方または双方」とも係合する第1の位置決め機構であるのに対して、引用発明では、そのような特定がされていない点。

<相違点3>
位置決め機構について、本願発明は、「前記マイクロプレートと前記基準平面との間に相対的な横方向の位置合わせの運動を提供する第2の位置決め機構とを含み、前記第2の位置決め機構が、前記基準平面の開口の少なくとも一部の回りに前記マイクロプレートを移動させる」のに対して、引用発明は、そのような構成を備えていない点。

(3)判断
上記相違点について検討する。
ア 相違点3について
相違点3について検討するに、当審拒絶理由で引用した刊行物2、及び原査定で引用された引用文献1、3のいずれにも「マイクロプレートと基準平面との間に相対的な横方向の位置合わせの運動を提供する第2の位置決め機構とを含み、前記第2の位置決め機構が、前記基準平面の開口の少なくとも一部の回りに前記マイクロプレートを移動させる」構成は記載されてなく、また、そのような構成を示唆する記載もない。
また、そのような構成が周知であるともいえない。
したがって、引用発明1において、本願発明1の上記相違点3に係る構成は、刊行物2、及び引用文献1、3に記載の技術事項に基づいて、当業者が容易に想到し得るものとはいえない。

(4)小括
以上のとおりであるから、相違点1、2を検討するまでもなく、本願発明1は、当業者が引用発明及び刊行物2、並びに引用文献1、3に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
また、本願発明2-16は、本願発明1をさらに限定したものであるので、本願発明1と同様に、当業者が引用発明及び刊行物2、並びに引用文献1、3に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
さらに、本願発明17は、物の発明である本願発明1を使用する方法の発明であり、物の発明の本願発明1のカテゴリーを変えて方法の発明として構成した発明であるから、本願発明1と同様に、当業者が引用発明及び刊行物2、並びに引用文献1、3に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。
また、本願発明18-22は、本願発明17をさらに限定したものであるので、本願発明17と同様に、当業者が引用発明及び刊行物2、並びに引用文献1、3に記載の技術事項に基づいて容易に発明をすることができたとはいえない。

5 原査定及び当審拒絶理由についてのまとめ
上記2及び3で検討したとおり当審で通知した拒絶理由は解消した。
また、上記4で検討したとおり原査定と当審で通知した拒絶理由は解消した。

第5 むすび
以上のとおりであるから、原査定及び当審で通知した拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。
また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。
よって、結論のとおり審決する。
 
審決日 2017-02-07 
出願番号 特願2012-554999(P2012-554999)
審決分類 P 1 8・ 537- WY (G01N)
P 1 8・ 121- WY (G01N)
最終処分 成立  
前審関与審査官 東松 修太郎山口 剛  
特許庁審判長 郡山 順
特許庁審判官 小川 亮
信田 昌男
発明の名称 マイクロプレート取り付けシステム及び検出方法  
代理人 西山 清春  
代理人 大西 昭広  
代理人 西山 清春  
代理人 細井 玲  
代理人 古谷 聡  
代理人 古谷 聡  
代理人 大西 昭広  
代理人 細井 玲  
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