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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない。 G01N
管理番号 1333043
審判番号 不服2016-18628  
総通号数 215 
発行国 日本国特許庁(JP) 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2017-11-24 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2016-12-12 
確定日 2017-10-02 
事件の表示 特願2014- 34936「X線検査装置およびX線検査装置の制御方法」拒絶査定不服審判事件〔平成27年 9月 7日出願公開、特開2015-161508〕について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 第1 手続の経緯
本願は、平成26年2月26日の出願であって、平成28年10月6日付けで拒絶査定(以下、「原査定」という。)がなされ、これに対して、同年12月12日に拒絶査定不服審判の請求がなされたものである。

第2 本願発明
本願の請求項1及び2に係る発明は、願書に最初に添付した特許請求の範囲の請求項1及び2に記載の事項により特定される発明であり、そのうち、本願の請求項1に係る発明(以下、「本願発明」という。)は、特許請求の範囲の請求項1に記載される以下のとおりのものと認める。

「【請求項1】
X線発生器と、ラインセンサと、前記X線発生器および前記ラインセンサが接続される制御部とを備え、
前記制御部は、前記X線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記X線発生器および前記ラインセンサが前記被検査体の外周側で1回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記X線画像を取得し、取得した複数枚の前記X線画像からCT画像を生成することを特徴とするX線検査装置。」

第3 原査定の概要
原査定は、請求項1に係る発明は、引用文献2及び3に記載された発明に基づいて、当業者が容易になし得たものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない、という理由を含むものである。

第4 当審の判断

1.引用文献2
原査定の理由において引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である特開2011-112650号公報(以下、「引用文献2」という。)には、以下の事項が記載されている。なお、下線は当審による。

(1-1)
「【0021】
図1に示されるコンピュータ断層撮影システムは、サンプル13の一連のX線投影を取るように構成されたX線システム10を含む。従って、X線システム10は、X線コーン14を放出するX線源11、特にX線管、撮像装置12、特にX線検出器および、好ましくは垂直軸を中心にサンプル13を回転させるように適合されたサンプルマニュピュレータ20を含む。本実施例におけるX線検出器12は二次元検出器であるが、一次元検出器を用いることも想定される。全360度のサンプル13の一連のX線投影は、所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を段階的に回転させ、各回転角においてX線投影を取ることによって行われる。その一例が図1に示されるX線投影18は一次元または二次元画像であり、i番目のピクセルの測定値P_(i)は、対象とするピクセル17に向かう対応する減衰X線19となる、X線源11の焦点16からサンプル13を通過する対応するX線15の減衰を表す。従って、P_(i)=∫(v1)であり、式中、(v1)はサンプル13の容積を通過するX線15の経路に沿ったサンプル13の密度を表す。通常、P_(i)は濃淡値でありうる。再構成の目的は、サンプル13を通過するX線15の経路に沿った密度v_(j)の、このX線の測定値P_(i)に対する次の関係P_(i)=Σ_(j)w_(ij)v_(j)(式中、w_(ij)はボクセルv_(j)の測定値P_(i)への相対的寄与度を示す重量である)を用いて、再構成されるサンプル容積のすべてのボクセルの密度v_(n)を見出すことである。一般に、サンプル13の一連のX線投影21は様々な方向から取られる複数のX線投影18であり、これは、好適な再構成法による全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含む。

(1-2)
「【0023】
X線投影は撮像装置12から読み取られ、コンピュータ装置40に送られ、そこでその後の評価および更なる処理のためにメモリ44に保存される。コンピュータ装置40は、特にマイクロプロセッサもしくはプログラマブル論理制御装置を含む計算装置41および表示装置43を含むユーザ端末42を含む。計算装置41は、図2?4を参照して下述されるコンピュータ断層撮影法を行うためにソフトウェアでプログラムされる。あるいは、X線システム10で行われるX線投影を評価するために別個のコンピュータ装置が用いられうる。
【0024】
図1に示される実施形態では、計算装置41はサンプル13のX線投影を取るためにX線システム10、特にX線源11およびサンプルマニピュレータ20を制御するように構成される。あるいは、サンプル13のX線投影を取るため、X線システム10を制御するために別個の制御装置が用いられうる。
【0025】
計算装置41において、X線システム10によってサンプル13から取られる一連のX線投影21はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム22に入力される。再構成アルゴリズム22はサンプル13の再構成容積データ23を計算するように適合される。再構成容積データ23において、各ボクセルまたは容積要素の値v_(n)は、サンプル13の対応するn番目の容積要素における減衰係数または密度を表す。サンプル13の完全な容積データ23は、全サンプル13を通じた一連のその後の容積スライスによって得られる。再構成アルゴリズム22はそれ自体周知であり、分析法、例えば、Feldkamp法もしくはヘリカル再構成、代数法のような反復法、例えば、ART,SARTなど、または最大尤度のような統計的手法を含むがこれに限定されない任意好適な数学的方法に基づきうる。特定のサンプルの容積スライス31の一例が図5に示されている。」

(1-3)
「【0035】
サンプル容積の信頼度28は自動欠陥認識(ADR)システムにおいて用いられ得、検査中のサンプル13の欠陥を判定するためにADRアルゴリズムが再構成容積データ23に適用される。ADRシステムはコンピュータ装置40におけるADRソフトウェアによって実現されうる。」

(1-4)図1


2.引用文献3
原査定の理由において引用された、本願の出願前に頒布された刊行物である特開2010-210625号公報(以下、「引用文献3」という。)には、以下の事項が記載されている。

(2-1)
「【0029】
本発明によると、検査装置15は、上記に名づけられた同期化された動きと同期的に動作し、この場合、走査またはX線透視法の両方とも、充填周期において、および、オフセット周期において、すなわち、充填の一時停止中にも可能である。
【0030】
有利には、該走査は、検査装置15と方向Bから見た製品の動きBとの間の相対停止の時に実行され、その結果、必要な放射強度がこのような方法で低減され、画像精度が高まり、およびスロッシング効果を低減、またはさらに防止することができる。
【0031】
検査装置15は、例えば、製品フローの上方に配置されたX線放射線源17から成り、その走査範囲は、有利には鋭角で下向きに広がり、およびカメラまたはラインセンサ19は、例えば、この走査範囲21の領域内で製品フローの下方に配置されている。
【0032】
図2よりわかるように、例えば、2行のカップは製品フローの方向Bではカバーで覆われており、製品フローの幅方向においては、小さい広がりのみ、とりわけ、直線的な広がり22のみが存在する。製品フローを幅方向においても走査するために、源17は、ラインセンサ19と同期的に、図示されるように、図2中の下側の第1の位置から、源17’、ラインセンサ19’、および走査ライン22’の上側の第2の端部位置へと製品フロー全体にわたって方向Aと垂直に、移動させられ、その結果、製品フローの全幅はこのような方法で、範囲20内において走査できる。
【0033】
図3からわかるように、検査装置15は、方向Aにおける直線的な一定の動きに対する源17用の上側直線棒27と、ラインセンサ19用の下側直線棒29とを有しており、これらの棒は、適切な方策を用いることによって、走査範囲20全体にわたる源17およびセンサ19の互いに同期的な連続した動きを可能にする。」

3.引用発明
上記(1-1)?(1-4)より、引用文献2には次の発明(以下、「引用発明」という。)が記載されていると認められる。
ここで、「X線投影」を「X線投影18」に、「一連のX線投影」を「一連のX線投影21」に符号を統一し、また、「X線源11」を「X線管11」に、「撮像装置12」を「X線検出器12」に記載を統一した。

「サンプル13の一連のX線投影21を取るように構成されたX線システム10を含むコンピュータ断層撮影システムであって、
X線システム10は、X線コーン14を放出するX線管11、X線検出器12および、垂直軸を中心にサンプル13を回転させるように適合されたサンプルマニュピュレータ20を含み、X線検出器12は二次元検出器であり、全360度のサンプル13の一連のX線投影21は、所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を段階的に回転させ、各回転角においてX線投影18を取ることによって行われ、X線投影18は二次元画像であり、サンプル13の一連のX線投影21は様々な方向から取られる複数のX線投影18であり、これは、好適な再構成法による全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含むものであり、
X線投影18はX線検出器12から読み取られ、コンピュータ装置40に送られ、コンピュータ装置40は、計算装置41を含み、
計算装置41はサンプル13のX線投影18を取るためにX線システム10、特にX線管11およびサンプルマニピュレータ20を制御するように構成され、
計算装置41において、X線システム10によってサンプル13から取られる一連のX線投影21はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム22に入力され、サンプル13の完全な容積データ23は、全サンプル13を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ、
検査中のサンプル13の欠陥を判定するために自動欠陥認識(ADR)アルゴリズムが再構成容積データ23に適用される、
コンピュータ断層撮影システム。」

4.対比
本願発明と引用発明とを対比する。


(ア)引用発明の「X線コーン14を放出するX線管11」は、本願発明の「X線発生器」に相当する。
(イ)引用発明の「二次元検出器」は、「X線検出器12」であるから、引用発明の「二次元検出器」と本願発明の「ラインセンサ」とは、「X線センサ」である点で共通する。
(ウ)引用発明は、「X線投影18はX線検出器12から読み取られ、コンピュータ装置40に送られ」、「コンピュータ装置40」の「計算装置41は」、「X線管11」「を制御するように構成されており」、(1-4)の図1をみても、「コンピュータ装置40」に「X線管11」及び「二次元検出器」が接続されていることは明らかであるから、引用発明の「コンピュータ装置40」と本願発明の「前記X線発生器および前記ラインセンサが接続される制御部」とは、「前記X線発生器および前記X線センサが接続される制御部」である点で共通する。


(ア)引用発明は、「サンプル13の一連のX線投影21を取る」ものであり、(1-4)の図1をみても、引用発明の「サンプル13」と、本願発明の「前記X線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体」とは、「前記X線発生器と前記X線センサとの間に配置される被検査体」である点で共通する。
(イ)引用発明の「サンプル13の一連のX線投影21は」、「全サンプル容積の容積構造の再構成を可能にするのに十分な情報を含むものであ」るから、引用発明における「サンプル13の」「二次元画像」は、「サンプル13の」全体の「二次元画像」であるといえ、本願発明の「被検査体の全体の二次元のX線画像」に相当する。
(ウ)上記(ア)及び(イ)を踏まえると、引用発明の「二次元検出器」を用いて「サンプル13の」「二次元画像」「を取ること」と、本願発明の「前記X線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作」とは、「前記X線発生器と前記X線センサとの間に配置される被検査体に対して前記X線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作」である点で共通する。

ウ 引用発明において、「サンプルマニュピュレータ20」は「垂直軸を中心にサンプル13を回転させる」ものであり、「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を」「回転させ」ることは、「所定の小さな」回転角で「垂直軸を中心にサンプル13を回転させる」ことであるから、引用発明の「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を」「回転させ」ることと、本願発明の「前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作」とは、「前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記X線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作」である点で共通する。

エ 引用発明において、「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を段階的に回転させ、各回転角においてX線投影18を取ることによって」、「全360度のサンプル13の一連のX線投影21」を取得することは、上記イのX線画像取得動作と上記ウの回動動作とを交互に繰り返して「様々な方向から」「複数のX線投影18」を取ることであるから、引用発明の「所定の小さなステップ幅でサンプルマニュピュレータ20を段階的に回転させ、各回転角においてX線投影18を取ることによって」、「全360度のサンプル13の一連のX線投影21」を取得することと、本願発明の「前記X線発生器と前記ラインセンサとの間に配置される被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記ラインセンサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記X線発生器および前記ラインセンサが前記被検査体の外周側で1回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記X線画像を取得」することとは、「前記X線発生器と前記X線センサとの間に配置される被検査体に対して前記X線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記X線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記X線発生器および前記X線センサが前記被検査体の外周側で1回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記X線画像を取得」する点で共通する。

オ 引用発明では、「計算装置41において、X線システム10によってサンプル13から取られる一連のX線投影21はコンピュータ断層撮影再構成アルゴリズム22に入力され、サンプル13の完全な容積データ23は、全サンプル13を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ」ており、ここでの「容積スライス」は、本願発明の「CT画像」に相当するところ、引用発明の「サンプル13の完全な容積データ23は、全サンプル13を通じた一連のその後の容積スライスによって得られ」ることは、本願発明の「取得した複数枚の前記X線画像からCT画像を生成する」ことに相当する。

カ 引用発明の「コンピュータ断層撮影システム」は、「検査中のサンプル13の欠陥を判定する」ものであるから、本願発明の「X線検査装置」に相当する。

以上から、両者は、
「X線発生器と、X線センサと、前記X線発生器および前記X線センサが接続される制御部とを備え、
前記制御部は、前記X線発生器と前記X線センサとの間に配置される被検査体に対して前記X線センサを用いて前記被検査体の全体の二次元のX線画像を取得するX線画像取得動作と、前記被検査体の外周側で前記X線発生器および前記X線センサを一定角度で前記被検査体に対して相対的に回動させる回動動作とを、前記X線発生器および前記X線センサが前記被検査体の外周側で1回転するまで交互に繰り返して複数枚の前記X線画像を取得し、取得した複数枚の前記X線画像からCT画像を生成する、X線検査装置。」
である点で一致し、以下の点で相違する。

(相違点)
本願発明では、X線センサとして「ラインセンサ」を用い、「被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させて」二次元のX線画像を取得するのに対し、引用発明では、「二次元検出器」を用いて二次元のX線画像を取得する点。

5.判断
上記相違点について検討する。

引用文献3(括弧内には、対応する本願発明の発明特定事項を示す。)には、上記(2-1)から、X線透視法を用いた検査装置15(X線検査装置)であって、製品フロー(被検査体)の上方に配置されたX線放射線源17(X線発生器)と、製品フローの下方に配置されたラインセンサ19(ラインセンサ)とを、同期的して、製品フロー全体にわたって直線移動さることによってX線透視画像(二次元のX線画像)を取得することが、技術的事項として記載されていることが把握できる。
また、X線検査装置において、ラインセンサを使用して被検査体を相対的に移動させることによって被検査体の二次元のX線画像を取得することも、二次元検出器を使用して被検査体を移動させることなく被検査体の二次元のX線画像を取得することも、いずれも本願出願時の技術常識(例えば、特開2012-103031の段落【0021】を参照)であり、当該技術常識を踏まえると、引用文献2の(1-1)における「X線検出器12は二次元検出器であるが、一次元検出器を用いることも想定され・・・X線投影18は一次元または二次元画像であ」るとの記載は、「一次元検出器」を用いて、「一次元」画像を取得する態様以外に、「二次元画像」を取得する態様を含むものと理解できることから、引用文献2には、「一次元検出器」を用いて「二次元のX線画像を取得する」ことが示唆されており、そのための手段を具体的に設計する動機が存在するといえる。また、X線検査装置において、同じ時間、同じ精度で、二次元のX線画像を取得できる場合、一般的により安価なデバイス、すなわち二次元検出器から一次元検出器に設計変更することは、普遍的に存在する課題要請であるといえる。
してみると、引用発明において、上記動機の存在及び/又は上記課題要請を契機に上記引用文献3に記載された技術的事項を適用し、二次元のX線画像を取得するために、X線センサとして「ラインセンサ」を用い、「被検査体に対して前記ラインセンサを相対的に直線移動させ」ること、すなわち、上記相違点に係る本願発明の発明特定事項のように構成することは、当業者が容易に為し得たことである。
そして、本願発明において、引用文献2、3から予測できない効果が奏されたとは認められない。

6.小活
よって、本願発明は引用文献2及び3に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。

第5 むすび
以上のとおり、この出願の請求項1に係る発明は、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができないものであるから、他の請求項に係る発明について言及するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。

よって、結論のとおり審決する。
 
審理終結日 2017-08-03 
結審通知日 2017-08-07 
審決日 2017-08-21 
出願番号 特願2014-34936(P2014-34936)
審決分類 P 1 8・ 121- Z (G01N)
最終処分 不成立  
前審関与審査官 越柴 洋哉  
特許庁審判長 福島 浩司
特許庁審判官 ▲高▼見 重雄
渡戸 正義
発明の名称 X線検査装置およびX線検査装置の制御方法  
代理人 小平 晋  
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