ポートフォリオ機能
| ポートフォリオを新規に作成して保存 |
|
|
| 既存のポートフォリオに追加保存 |
|
PDFをダウンロード
|
| 審決分類 |
審判 査定不服 特174条1項 取り消して特許、登録 G01N 審判 査定不服 特36条6項1、2号及び3号 請求の範囲の記載不備 取り消して特許、登録 G01N 審判 査定不服 2項進歩性 取り消して特許、登録 G01N 審判 査定不服 1項3号刊行物記載 取り消して特許、登録 G01N |
|---|---|
| 管理番号 | 1338652 |
| 審判番号 | 不服2017-1649 |
| 総通号数 | 221 |
| 発行国 | 日本国特許庁(JP) |
| 公報種別 | 特許審決公報 |
| 発行日 | 2018-05-25 |
| 種別 | 拒絶査定不服の審決 |
| 審判請求日 | 2017-02-03 |
| 確定日 | 2018-04-03 |
| 事件の表示 | 特願2013- 69440「ICP発光分光分析装置」拒絶査定不服審判事件〔平成26年10月 6日出願公開、特開2014-190958、請求項の数(3)〕について、次のとおり審決する。 |
| 結論 | 原査定を取り消す。 本願の発明は、特許すべきものとする。 |
| 理由 |
第1 手続の経緯 本願は、平成25年3月28日の出願であって、平成28年9月14日付けで拒絶理由が通知され、同年11月8日に意見書及び手続補正書が提出され、同年11月29日付けで拒絶査定(以下、「原査定」という。)されたところ、平成29年2月3日に拒絶査定不服審判の請求がなされ、同時に手続補正がなされたものである。 その後当審において同年12月27日付けで拒絶理由(以下、「当審拒絶理由」という。)が通知され、平成30年2月8日に意見書及び手続補正書が提出されたものである。 第2 原査定の概要 原査定の概要は、以下のとおりである。 1 請求項1、3に係る発明は、引用文献1に記載された発明であるから、特許法第29条第1項第3号の規定により特許を受けることができない。 2 請求項1、3に係る発明は引用文献1に基づいて、請求項2に係る発明は引用文献1-3に基づいて、請求項4-5に係る発明は引用文献1-4に基づいて、それぞれ、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法第29条第2項の規定により特許を受けることができない。 ＜引用文献等一覧＞ 1.特開昭59-94042号公報 2.実願昭62-35391号(実開昭63-141912号)のマイクロフィルム 3.特開平11-95066号公報 4.特開平6-123825号公報 第3 本願発明 本願請求項1-3に係る発明(以下、それぞれ「本願発明1」-「本願発明3」という。)は、平成30年2月8日付けの手続補正により補正された特許請求の範囲の請求項1-3に記載された事項により特定される発明であり、本願発明1は当審にて分説し、以下のとおりA)-F)の見出しを付した。 「 【請求項1】 A)分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置と、 B)前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器と、 C)前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバーと、を備えるICP発光分光分析装置であって、 D)前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴が設けられ、 E)前記光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である、 F)ICP発光分光分析装置。」 なお、本願発明2-3は、本願発明1を減縮した発明である。 第4 引用文献、引用発明等 1 引用文献1について (1)引用文献1に記載された事項 原査定の拒絶の理由に引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献1(特開昭59-94042号公報)には、図面とともに次の事項が記載されている(下線は当審にて付した。以下同様。)。 (引1a)「〔技術分野〕 本発明は、分析試料を直流アーク(DCA)、高圧スパーク(HVS)及び直流プラズマ(DCP)、誘導結合高周波プラズマ(ICP)等の発光源により励起発光させて得た発光スペクトルを光学繊維を介して検出する発光分光分析装置に関する。」(第1頁右下欄13-19行目) (引1b)「〔発明の開示〕 本発明は、上述の点に鑑み高放射線環境下のホットセル内における高放射性物質等の遠隔分析が可能な、また、被測定物の周囲環境の影響を受けずに正確な分析を行なえる発光分光分析装置を提供するもので、直流アーク、高圧スパーク、直流プラズマ、誘導結合高周波プラズマ等の発光源により、分析試料を励起発光させ、発光スペクトル線を検出し、該検出したスペクトル線から分析試料の成分を判定し、また分析試料の成分の含有量を定量する発光分光分析装置において、前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に光伝送路を配設させたことを特徴とするものである。」(第2頁右上欄9行目-同頁左下欄3行目) (引1c)「〔実施例〕 以下、図面を参照して、本発明の一実施例につき説明する。 第1図は本発明の発光分光分析装置の説明図である。第1図において、1は直流プラズマ発生装置で、11はタングステンカソード電極、12は黒鉛電極、13は試料噴出ノズルを示す。プラズマ発生装置1においては、黒鉛電極12に沿わせたノズルから不活性ガスよりなる電離性ガスとしてのアルゴン(Aｒ)を吹き込むとともに、カソード11と黒鉛電極12間に直流アークを発生させ、吹き込まれたアルゴン(Aｒ)を電離し、アルゴンプラズマ(P)を形成させる。 次いで、セラミックネブライザにより霧化した分析試料を試料噴出ノズル13からアルゴンプラズマ(P)中に導き、励起発光(S)させる。2は集光レンズで、励起発光(S)している領域の像を光伝送路3に入射させる。光伝送路3としては、光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μm?数10μmからなる光学繊維を数千本?数万本を束ね光学繊維束とし、この光学繊維束の各光学繊維の両端部における位置が一対一に対応するように整列させてなるイメージガイドを用いる。試料が励起発光(S)している領域の像を集光レンズ2でイメージガイド3の端面に結像させる。 イメージガイド3の端面に結像された試料が励起発光(S)している領域の像はイメージガイド3中を伝播し、出射側端面まで導かれる。更に分光器4に設けたスリット6を通して試料の励起発光(S)を選択的に分光器まで導く。分光器4において従来から行なわれている方法により測定された発光スペクトル線および発光スペクトル線強度から分析試料の成分元素および各元素の濃度を定量する。 ところで、本実施例におけるイメージガイド3を用いた発光分光分析装置にて作成した検量線の一例としてB(2496Å)、Si(2881Å)、Mｏ(3132Å)、Pd(3403Å)、Al(3961Å)、Ce(4186Å)、Li(6103Å)およびK(7698Å)についての検量線を第2図(A)?(H)に示す。光検出強度と各種元素の含有量との関係を検量線として電算機に記憶させておくことにより分光分析器4にて分析試料の励起発光(S)のスペクトル線の波長により分析試料に含まれる成分を判定し、またそのスペクトル線およびスペクトル線の強度から含有成分の含有量を定量することができる。 第1図において5はイメージガイド3の位置調整用微動台を示す。」(第2頁左下欄4行目-第3頁左上欄16行目) (引1d)「上述の実施例では光伝送路として発光を像として捕え伝送するイメージガイドを使用する例を示したが、これに限るものではなく、多数本の光学繊維を単に束ねただけの、光の強度のみを伝送するライトガイド、またはライトガイドと同様に光の強度のみを伝送するための大口径のコアを有する単一のロッドファイバまたは、光学繊維そのもの等をも用いることもできる。」(第3頁右上欄5-12行目) (引1e)図1は、以下のようなものである。  図1から、スリット6が光伝送路3の出射側端面に隣接して設けられていること、及び分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光(S)が照射されることが読み取れる。 (2)引用文献1に記載された発明 上記(引1b)-(引1c)の下線部の事項に、上記(2)での検討を加えて整理すると、引用文献1には、以下の発明(以下「引用発明」という。)が記載されている。 なお、引用発明の認定の根拠となった対応する摘記箇所等を付記し、a)-h)の見出しを付した。 「a)誘導結合高周波プラズマの発光源により、分析試料を励起発光させ、発光スペクトル線を検出し、該検出したスペクトル線から分析試料の成分を判定し、また分析試料の成分の含有量を定量する発光分光分析装置において(引1b)、 b)前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に光伝送路を配設させ(引1b)、 c)光伝送路3としては、光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μm?数10μmからなる光学繊維を数千本?数万本を束ね光学繊維束とし、この光学繊維束の各光学繊維の両端部における位置が一対一に対応するように整列させてなるイメージガイドを用い(引1c)、 d)イメージガイド3の端面に結像された試料が励起発光(S)している領域の像はイメージガイド3中を伝播し、出射側端面まで導かれ、更に分光器4に設けたスリット6を通して試料の励起発光(S)を選択的に分光器まで導き、(引1c)、 e)スリット6が光伝送路3の出射側端面に隣接して設けられ(引1e)、 f)分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光(S)が照射され(引1e)、 g)光伝送路としてイメージガイドに限るものではなく、光学繊維そのものを用いることもできる(引1d)、 h)発光分光分析装置。」 2 引用文献2-4について (1)引用文献2について 原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献2(実願昭62-35391号(実開昭63-141912号)のマイクロフィルム)には、その「産業上の利用分野」(明細書第1頁12-15行目)の記載からみて、「光ファイバケーブルを、光パワーメーター等の計測器に装備されているセンサ部に接続する際にアダプタキャップを用いる」という技術的事項が記載されている。 (2)引用文献3について 原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献3(特開平11-95066号公報)には、その請求項1、3の記載からみて、「光ファイバを収容する本体部を有するフェルールをハウジング本体のフェルール収容室に挿着した光コネクタにおいて、前記ハウジング本体が光絞り部を有し、前記光絞り部がキャップである」という技術的事項が記載されている。 (3)引用文献4について 原査定で引用された、本願出願前に頒布された刊行物である引用文献4(特開平6-123825号公報)には、その【0018】、【0020】段落の記載からみて、「光ファイバ1の端部に装着されたフェルール2と嵌合するレセプタクル部と、受光素子5を収容したハウジング部とから構成され、レセプタクル部とハウジング部との間には光ファイバ1から出射された光が通過する孔4aが形成されている光コネクタアダプタにおいて、孔4のテーパ状の形状は、光ファイバ1の端面から出射された光の拡散が妨げられないように形状が決定されている」という技術的事項が記載されている。 3 その他の文献について 平成29年4月19日付け前置報告書において、新たに、 引用文献5:厚生労働省告示平成23年第65号,日本,2011年 3月24日,PP.1976-1980、 引用文献6:特開2006-153763号公報 が提示されている。 (1)引用文献5について 本願出願前に頒布された刊行物である引用文献5(厚生労働省告示平成23年第65号,日本,2011年 3月24日,PP.1976-1980)には、その第1978頁左欄下から2-6行目の記載からみて、「プラズマの測定位置は、横方向観測方式の場合は、誘導コイルの上端より10?25mmの範囲であり、軸方向観測方式の場合は、測定される発光強度の最大値が得られるように光軸の調整を行う」という技術的事項が記載されている。 (2)引用文献6について 本願出願前に頒布された刊行物である引用文献6(特開2006-153763号公報)には、「高いSN比を得るには、光ファイバ218により導入された信号光束を高い効率で利用する必要がある。そこで、コリメート光学系231の役割は、光ファイバ218により導入された信号光束(発散光)をロスすることなく、例えば、遮る、無駄にするなどなく、取り込んで、後ろ側に続く回折格子233、234、235に導くことである」(【0023】段落)、「光ファイバのコネクタは、FC型コネクタであるほうが、位置再現精度が高いので好ましい」(【0060】段落)との記載がある。 第5 対比・判断 1 本願発明1について (1)対比 本願発明1と引用発明とを対比する。 ア A)について 引用発明のa)「誘導結合高周波プラズマの発光源により、分析試料を励起発光させ」ることは、本願発明1のA)「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る」ことに相当するから、引用発明のa)「分析試料を励起発光させ」る「誘導結合高周波プラズマの発光源」であるb)「前記分析試料の発光部」は、本願発明1の「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置」に相当する。 イ B)について 引用発明のb)「前記発光スペクトルの検出部である分光器」は、本願発明1のB)「前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器」に相当する。 ウ C)について 引用発明のg)「光学繊維そのものを用いる」「光伝送路」は、c)「光伝送のための高純度石英系ガラスよりなるコアと、コアの外周上に設けられたコアより低屈析率の石英系ガラスクラッドとを有する直径数μm?数10μmからなる」ものであるから、本願発明1の「光ファイバー」に相当する。 したがって、引用発明のb)「前記分析試料の発光部と、前記発光スペクトルの検出部である分光器との間に」「配設」されたg)「光学繊維そのものを用いる」「光伝送路」は、本願発明1のC)「前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバー」に相当する。 エ D)について 引用発明のe)「光伝送路3の出射側端面に隣接して設けられ」、d)「出射側端面まで導かれ」た「試料が励起発光(S)している領域の像」を「選択的に分光器まで導」く「スリット6」は、本願発明1のD)「前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴」に相当する。 オ E)について 引用発明のf)「分光器内に設けられた凹面鏡に試料の励起発光(S)が照射され」ることと、本願発明1のE)「前記光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」こととは、分光器内に設けられた凹面鏡に原子発光線が照射される点で共通する。 カ F)について 引用発明のa)「誘導結合高周波プラズマの発光源」を備えるh)「発光分光分析装置」は、本願発明のF)「ICP発光分光分析装置」に相当する。 キ 上記ア-カから、本願発明1と引用発明との間には、次の一致点、相違点がある。 (一致点) 「分析対象の元素を誘導結合プラズマにより原子化またはイオン化し、原子発光線を得る誘導結合プラズマ装置と、 前記原子発光線を取り入れた後、分光して検出する分光器と、 前記誘導結合プラズマ装置と前記分光器とを接続する光ファイバーと、を備えるICP発光分光分析装置であって、 前記光ファイバーの端面に隣接して、前記光ファイバーから原子発光線を前記分光器に向けて出射する光出射穴が設けられ、 分光器内に設けられた凹面鏡に原子発光線が照射される、 ICP発光分光分析装置。」 (相違点) 光出射穴と光ファイバーの端面の距離について、本願発明1は、E)「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が、前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」のに対して、引用発明には、「スリット6」と「光伝送路3の出射側端面」との距離に関する特定がない点。 (2)相違点についての判断 「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」ようにすることは、引用文献1-6には記載も示唆もされていない。 特に、引用文献1の図1(上記第4の1(1)(引1e)を参照。)は、「分光器内に設けられた凹面鏡に」「照射され」る「試料の励起発光(S)」の大きさと「凹面鏡」の反射有効口径の大きさとの大小関係を正確に反映させたものであるか不明であるから、図1から、「分光器内に設けられた凹面鏡に」「照射され」る「試料の励起発光(S)」が「凹面鏡」の反射有効口径よりも大きいことは、読み取れない。 したがって、本願発明1は、当業者であっても、引用発明及び引用文献1-6に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 2 本願発明2-3について 本願発明2-3も、本願発明1の「光出射穴と前記光ファイバーの端面の距離が前記分光器内に設けられた凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなるような距離の範囲である」ことと同一の構成を備えるものであるから、本願発明1と同じ理由により、当業者であっても、引用発明及び引用文献1-6に記載された技術的事項に基づいて容易に発明をすることができたものであるとはいえない。 第6 原査定についての判断 上記「第3 本願発明」から「第5 対比・判断」に示したとおり、本願発明1は、拒絶査定において引用された引用文献1に記載された発明ではなく、また、本願発明1-3は、当業者であっても、拒絶査定において引用された引用文献1-4に基づいて、容易に発明をすることができたものともいえない。 したがって、原査定の理由を維持することはできない。 第7 当審拒絶理由について 1 特許法第36条第6項第1号について 当審では、請求項1-3に係る発明は、発明の詳細な説明に開示がない「照射領域」が「凹面鏡の反射有効口径」と等くなるような距離とすることが含まれているとの拒絶の理由を通知しているが、平成30年2月8日付けの補正によって、「照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径より大きくなる」と補正された結果、この拒絶の理由は解消した。 2 特許法第17条の2第3項について 当審では、平成29年2月3日付け手続補正によって請求項1に対して追加された発明特定事項である「前記光出射穴の中心軸と前記光ファイバーの端面の中心軸とのずれが、前記凹面鏡に照射される原子発光線の照射領域が、前記凹面鏡の反射有効口径から外れないような範囲である」ことは、当初明細書等のすべての記載を総合することにより導かれる技術的事項との関係において、新たな技術的事項を導入しないものであるとはいえないとの拒絶の理由を通知しているが、平成30年2月8日付けの補正によって、当該発明特定事項に関する記載が削除された結果、この拒絶の理由は解消した。 第8 むすび 以上のとおり、原査定の理由及び当審拒絶理由によっては、本願を拒絶することはできない。 また、他に本願を拒絶すべき理由を発見しない。 よって、結論のとおり審決する。 |
| 審決日 | 2018-03-19 |
| 出願番号 | 特願2013-69440(P2013-69440) |
| 審決分類 |
P
1
8・
55-
WY
(G01N)
P 1 8・ 537- WY (G01N) P 1 8・ 121- WY (G01N) P 1 8・ 113- WY (G01N) |
| 最終処分 | 成立 |
| 前審関与審査官 | 吉田 将志 |
| 特許庁審判長 |
伊藤 昌哉 |
| 特許庁審判官 |
信田 昌男 松岡 智也 |
| 発明の名称 | ICP発光分光分析装置 |
| 代理人 | 特許業務法人栄光特許事務所 |