拒絶査定不服の審決｜2022-5482 - 特許審決データベース

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審決分類	審判査定不服 5項独立特許用件特許、登録しない。 G01B 審判査定不服 2項進歩性特許、登録しない。 G01B
管理番号	1393861
総通号数	14
発行国	JP
公報種別	特許審決公報
発行日	2023-02-24
種別	拒絶査定不服の審決
審判請求日	2022-04-12
確定日	2023-01-12
事件の表示	特願２０１６－２３９４３９号「超近接スイッチ」拒絶査定不服審判事件〔平成３０年６月２１日出願公開、特開２０１８－９６７４８号〕について、次のとおり審決する。
結論	本件審判の請求は、成り立たない。
理由	第１手続の経緯本願は、平成２８年１２月９日に出願された特許出願であって、その手続の経緯の概略は、次のとおりである。令和２年１１月４日付け：拒絶理由通知書令和３年１月１４日：意見書、手続補正書の提出同年７月２６日付け：拒絶理由通知書（最後）同年９月２１日：意見書、手続補正書の提出令和４年１月２５日付け：補正の却下の決定同日付け：拒絶査定（以下「原査定」という。）（同年２月１日：原査定の謄本の送達）同年４月１２日：審判請求書、手続補正書の提出第２令和４年４月１２日にされた手続補正についての補正の却下の決定［補正の却下の決定の結論］令和４年４月１２日にされた手続補正を却下する。［補正の却下の決定の理由］１本件補正の内容令和４年４月１２日にされた特許請求の範囲についての補正（以下「本件補正」という。）は、次の(１)に示す本件補正前の特許請求の範囲の請求項１の記載を、後記の(２)に示す本件補正後の特許請求の範囲の請求項１の記載に補正することを含むものである。下線は補正箇所を示す。 (１) 本件補正前の請求項１（令和３年１月１４日提出の手続補正書で補正された請求項１）「【請求項１】第１の物体の表面と第２の物体との間の近接距離が設定値に到達した際に到達信号を出力する超近接スイッチであって、前記第１の物体の表面に、前記設定値に相当する厚さの近接場光Ｌ０の局在領域を発生させる近接場光発生手段と、前記第２の物体が前記近接場光Ｌ０の局在領域に進入した際に生じる散乱光Ｓ１を検知する散乱光検知手段と、前記散乱光検知手段が前記散乱光Ｓ１を検知したことを受けて、前記到達信号を出力する判定手段とを有し、前記近接場光発生手段は、前記第１の物体の裏面側に配置される光源と、前記第１の物体と前記光源との間に配置され、前記光源からの光を屈折させて前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる入射光学系及び前記第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側に屈折させる反射光学系とを備え、前記散乱光検知手段は、前記第１の物体の裏面側に配置され、前記散乱光Ｓ１を受光する受光センサを備えることを特徴とする超近接スイッチ。」 (２) 本件補正後の請求項１「【請求項１】第１の物体の表面と第２の物体との間の近接距離が設定値に到達した際に到達信号を出力する超近接スイッチであって、透光性を有し前記第２の物体と対向する前記第１の物体の表面に、前記設定値に相当する厚さの近接場光Ｌ０の局在領域を発生させる近接場光発生手段と、前記第２の物体が前記近接場光Ｌ０の局在領域に進入した際に生じる散乱光Ｓ１を検知する散乱光検知手段と、前記散乱光検知手段が前記散乱光Ｓ１を検知したことを受けて、前記到達信号を出力する判定手段とを有し、前記近接場光発生手段は、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように前記第１の物体の裏面側に配置される光源と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体及び前記光源と重なるように前記第１の物体と前記光源との間に配置されて前記光源からの光を屈折させて前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる入射光学系と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように該第１の物体の裏面側に配置されて該第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側に屈折させる反射光学系とを備え、前記散乱光検知手段は、前記第１の物体の裏面側で前記入射光学系と前記反射光学系との間に前記局在領域と対向して配置され前記散乱光Ｓ１を集光する集光光学系と、前記第１の物体の裏面側に前記集光光学系を挟んで前記局在領域と対向し該集光光学系の集光部と中心が一致するように配置されて該集光光学系で集光された前記散乱光Ｓ１を受光する受光センサとを備え、前記入射光学系、前記反射光学系及び前記受光センサ側に凸面を有する前記集光光学系は、表面に前記近接場光Ｌ０が発生する前記第１の物体の裏面側に連続して形成されて該第１の物体と一体になっていることを特徴とする超近接スイッチ。」２本件補正の目的 (１) 本件補正による請求項１の補正は、本件補正前の発明特定事項について、次のア～キの限定をしたものである。ア「第１の物体」が「透光性を有し前記第２の物体と対向する」ことイ「前記第１の物体の裏面側に配置される光源」が「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように」配置されることウ「前記第１の物体と前記光源との間に配置され、前記光源からの光を屈折させて前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる入射光学系」が「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体及び前記光源と重なるように」配置されることエ「第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側に屈折させる反射光学系」が「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように該第１の物体の裏面側に配置」されることオ「散乱光検知手段」が「前記第１の物体の裏面側で前記入射光学系と前記反射光学系との間に前記局在領域と対向して配置され前記散乱光Ｓ１を集光する集光光学系」を備えることカ「前記第１の物体の裏面側に配置され、前記散乱光Ｓ１を受光する受光センサ」が「前記集光光学系を挟んで前記局在領域と対向し該集光光学系の集光部と中心が一致するように配置されて該集光光学系で集光された前記散乱光Ｓ１を受光する」ものであることキ「前記入射光学系、前記反射光学系及び前記受光センサ側に凸面を有する前記集光光学系は、表面に前記近接場光Ｌ０が発生する前記第１の物体の裏面側に連続して形成されて該第１の物体と一体になっていること」 (２) そして、本件補正前の請求項１に記載された発明と、本件補正後の請求項１に記載される発明は、産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一である。 (３) よって、本件補正は、特許法17条の2第5項2号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。３独立特許要件についての当審の判断本件補正は、特許法17条の2第5項2号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するから、本件補正後における請求項１に記載されている事項により特定される発明（以下「本件補正発明」という。）が特許法17条の2第6項において準用する同法126条7項の規定に適合するか、すなわち、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否かについて、以下検討を行う。 (１) 本件補正発明本件補正発明は、前記１(２)に摘記した本件補正後の請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものである。 (２) 引用文献に記載された事項及び引用発明等の認定ア引用文献２に記載された事項及び引用発明の認定 (ア) 引用文献２に記載された事項原査定の拒絶の理由において引用された文献である特開２００１－１９４１１８号公報（以下「引用文献２」という。）には、次の事項が記載されている。下線は合議体が付した。以下同様である。ａ段落【００１９】～【００２６】、【図１】「【００１９】＜１．第１の実施の形態＞まず、この発明の第１の実施の形態について説明する。図１は第１の実施の形態である光記録装置１の概略構成図である。【００２０】光記録装置１は、光ディスク等の同心円状または螺旋状にデータが記録された円盤形状の記録媒体９を保持した状態で、記録媒体９を所定方向に回転させる回転機構部２と、記録媒体９の記録面にデータ記録または再生のための光を照射する光ヘッド３と、その光ヘッド３を移動させるアーム駆動機構４と、光ヘッド３に記録用または再生（読み取り）用等としての光を入射させるとともに、記録媒体９と光ヘッド３との間隔検出用としての光を光ヘッド３に入射させる光照射部５と、記録すべきデータをもとに記録光学系５１に対して記録信号を与えたり、記録光学系５１にて得られる再生信号に基づいてデータの再生を行う信号処理部６と、外部機器９０から記録すべきデータを受け取ってコントローラ８を介して信号処理部６に送ったり、再生信号を外部機器９０に出力する入出力部７と、上記各部を制御するコントローラ８とを備えて構成される。【００２１】回転機構部２は回転駆動部２１と回転部材２２とを備えており、コントローラ８から与えられる駆動制御信号に基づいて回転駆動部２１が回転部材２２を所定方向に回転させる。回転部材２２は記録媒体９を所定位置にて保持するような構造を有しており、装着された記録媒体９と一体となって回転動作を行う。【００２２】アーム駆動機構４はアーム部４１と駆動部４２とを備えており、アーム部４１の先端部には光ヘッド３が取り付けられている。駆動部４２は、アーム部４１を記録媒体９の径方向に旋回させることによって、記録媒体９の記録面に対する光ヘッド３での記録位置を記録媒体９の中心方向に進退させることができるように構成されている（±Ｒ方向）とともに、アーム部４１を記録媒体９の記録面に垂直な方向（Ｚ方向）に昇降移動させることも可能なように構成されている。つまり、駆動部４２は、光ヘッド３による記録位置を記録媒体９の径方向に沿って移動させる水平移動手段として機能するとともに、光ヘッド３と記録媒体９との間隔を調整する間隔調整手段としても機能するのである。そして、制御手段となるコントローラ８がアーム駆動機構４に対して駆動制御信号を与えることによって、光ヘッド３の記録媒体９の記録面に対する位置が制御され、また、記録媒体９に対する光ヘッド３の高さ位置が制御される。なお、アーム駆動機構４は記録媒体９の径方向に対してアーム部４１を旋回しながら光ヘッド３を進退する構成に限らず、直進的に進退するように水平移動手段を構成してもよい。【００２３】光照射部５は、記録光学系５１と第１の間隔検出用光学系５２と第２の間隔検出用光学系５３とを備えている。第１の間隔検出用光学系５２と第２の間隔検出用光学系５３とは、間隔検出のための光を光ヘッド３に設けられる近接場光発生手段に入射させるための入射光学系である。【００２４】記録光学系５１は、レーザ光源５１１から発せられたレーザ光を集光レンズ系５１２により集光して光ヘッド３の所定位置に導くように構成されている。第１の間隔検出用光学系５２および第２の間隔検出用光学系５３も上記と同様に、それぞれレーザ光源５２１，５３１と集光レンズ系５２２，５３２とを備えており、それぞれのレーザ光源５２１，５３１から発せられるレーザ光を光ヘッド３の所定位置に導くように構成されている。なお、図示しないが光照射部５を光ヘッド３と同期させて移動させるための光照射部駆動機構も設けられている。【００２５】そして、光ヘッド３では、記録光学系５１からのレーザ光によって記録用や再生用となる近接場光を発生させ、それによって記録媒体９の記録面にデータを記録したり、または既に記録されているデータを再生することができるようになっている。【００２６】コントローラ８は上記のように、アーム駆動機構４および回転機構部２に対して駆動制御信号を与えたり、信号の入出力等の各部の動作を制御したり、光ヘッド３と記録媒体９との間隔を制御するように構成されている。」「【図１】」ｂ段落【００２７】～【００３６】、【図２】「【００２７】つぎに、光ヘッド３の構造について説明する。図２は、光ヘッド３の構造を示す断面図である。【００２８】図２に示すように、光ヘッド３はアーム部４１の先端部に取り付けられており、ヘッド本体３１と固浸レンズ３２と光量検出手段３３とを備えている。【００２９】固浸レンズ３２は記録や再生のための近接場光や間隔検出用の近接場光を発生させるための近接場光発生手段として機能する部材であり、上部側が球面状に形成されており、記録光学系５１からのレーザ光ＲＬが記録媒体９の記録面に垂直な上方側より入射するように構成されている（入射角度＝０°）。また、第１の間隔検出用光学系５２からのレーザ光Ｌ１は入射角度θ１で固浸レンズ３２に入射し、第２の間隔検出用光学系５３からのレーザ光Ｌ２は入射角度θ２で入射するように構成されている。そして各レーザ光ＲＬ，Ｌ１，Ｌ２は、それぞれの集光レンズ系５１２，５２２，５３２によって固浸レンズ３２の底面側の同一位置に集光されており、第１および第２の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１，Ｌ２は、固浸レンズ３２の底面にて全反射するように設定されている。ここで、レーザ光Ｌ１，Ｌ２の入射角度θ１，θ２としては、それぞれ固浸レンズ３２の底面にて全反射するような角度が選択され、入射角度θ１とθ２とはそれぞれ異なる角度に設定される。【００３０】高屈折率媒質で形成された固浸レンズ３２の底面付近には、空気中よりも小さなスポットが形成され、全反射面となる固浸レンズ３２の底面より垂直下方向きに微小スポットの近接場光ＲＮ，Ｎ１，Ｎ２が浸み出す。近接場光ＲＮはレーザ光ＲＬによって生じた近接場光であり、近接場光Ｎ１，Ｎ２はそれぞれ第１および第２の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１，Ｌ２によって生じた近接場光である。【００３１】図２に示すように近接場光は、一般に、固浸レンズ３２底面への入射角度に応じて浸み出し深さが異なるという特性を有しており、全反射する際の入射角度が小さいほど近接場光の浸み出し深さが大きく、逆に入射角度が大きいほど近接場光の浸み出し深さが小さくなる。つまり、近接場光は非伝搬光であり、その到達距離が全反射の際の入射角度によって異なるものとなるのである。【００３２】そして、この実施の形態では、近接場光Ｎ１，Ｎ２の到達距離を異なるものとするために、全反射浸み出しによる近接場光を利用して、例えば、近接場光Ｎ１の到達距離をｄ１となるように入射角度θ１を設定するとともに、近接場光Ｎ２の到達距離をｄ２（ただし、ｄ１＞ｄ２）となるように入射角度θ２（ただし、θ２＞θ１）を設定する。そして、距離ｄ１とｄ２との間に物体が存在すれば、近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達することになる。なお、近接場光ＲＮは、全反射するような角度で入射するものではないが、入射角度が最も小さいので到達距離が最も大きくなる。【００３３】また一般に、近接場光は何らかの媒質（物体）に到達すると、その媒質とカップリングし、非伝搬光である微弱な光が伝搬光になる。よって、上記のように近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達すれば、その近接場光Ｎ１に応じた光の強度（光量）成分を検出することが可能になる。なお、この強度成分は、カップリングが生じる位置によっても変化し、近接場光の浸み出し位置に近い位置でカップリングが生じる程、大きくなる。【００３４】そこでこの実施の形態では、近接場光Ｎ１，Ｎ２のそれぞれの到達距離ｄ１，ｄ２を、光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔に一致させて設定しておく。光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔を４０ｎｍ～１００ｎｍとして定める場合には、近接場光Ｎ１の到達距離ｄ１を１００ｎｍに設定し、近接場光Ｎ２の到達距離ｄ２を４０ｎｍに設定しておく。【００３５】このように設定しておくことにより、例えば、近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが記録媒体９とカップリングすれば、そのカップリングした光成分が記録媒体９の表面で反射することになり、その反射光の光量を検出することが可能になる。【００３６】図２に示すように、光ヘッド３には、間隔検出用となる近接場光Ｎ１，Ｎ２が記録媒体９とカップリングした結果生じる反射光の光量を検出するために光量検出手段３３が設けられている。光量検出手段３３は、固浸レンズ３２の底面の周囲近傍に設けられている。」「【図２】」ｃ段落【００３７】～【００４３】、【図３】「【００３７】図３は、光ヘッド３を上方側からみた図である。図３に示すように、第１および第２の間隔検出用光学系５２，５３によって固浸レンズ３２に入射するレーザ光Ｌ１，Ｌ２は、光ヘッド３を上方側から見ても所定角度隔てて配置されており、光量検出手段３３となる２つの検出器３３１，３３２がそれぞれの光路の延長線上に配置されている。検出器３３１，３３２はそれぞれフォトダイオード等の光電変換素子によって構成されており、受光面が記録媒体９に対向するように配置されている。検出器３３１はレーザ光Ｌ１によって生じた近接場光Ｎ１が記録媒体９の記録面に到達し、それによって伝搬光となった光成分の反射光量を検出するように構成されている。同様に、検出器３３２はレーザ光Ｌ２によって生じた近接場光Ｎ２が記録媒体９の記録面に到達し、それによって伝搬光となった光成分の反射光量を検出するように構成されている。【００３８】ここで、近接場光Ｎ１，Ｎ２が記録媒体９に到達して反射する光は拡散反射する。このため、検出器３３１が近接場光Ｎ１による反射光量のみを検出し、また、検出器３３２が近接場光Ｎ２による反射光量のみを検出しようとするには、例えば、レーザ光源５２１，５３１がそれぞれ異なる波長のレーザ光（６３０ｎｍと４１０ｎｍ等）を出射するように構成し、各検出器３３１，３３２の受光面側にそれぞれ検出対象となる波長域の光成分のみを透過するための光学フィルタを配置するようにすればよい。その他にも、レーザ光源５２１，５３１が同一波長のレーザ光（６３０ｎｍ等）を出射するように構成されている場合に、各レーザ光源５２１，５３１からのレーザ光にそれぞれ異なる周波数変調を与え、各検出器３３１，３３２で得られる電気信号から特定周波数成分のみを抽出するように構成してもよい。【００３９】なお、固浸レンズ３２の底面にて全反射した光成分は、固浸レンズ３２を透過して固浸レンズ３２から遠ざかったり、または何らかの部材で吸収されるので、各検出器３３１，３３２に入射することはない。【００４０】そして光量検出手段３３で検出された各近接場光Ｎ１，Ｎ２による各反射光の光量成分は光電変換されて電気信号となり、アーム部４１内部を配線された図示しない導電線を介してコントローラ８に送られる。【００４１】そして、コントローラ８は、間隔検出用の各近接場光Ｎ１，Ｎ２による反射光の光量に基づいて記録媒体９と光ヘッド３（特に固浸レンズ３２における近接場光の浸み出し位置である底面位置）との間隔が適正間隔となっているかどうかを判断し、適正間隔にない場合にはアーム駆動機構４の駆動部４２を駆動させ、光ヘッド３の記録媒体９に対する高さ位置を調整するように構成されている。【００４２】具体的には、コントローラ８は、検出器３３１，３３２を介して到達距離ｄ１の近接場光Ｎ１による反射光と、到達距離ｄ２の近接場光による反射光とを検出し、検出された反射光が近接場光Ｎ１による反射光のみであれば、光ヘッド３（特に固浸レンズ３２の底面位置）に対する記録媒体９の表面位置が到達距離ｄ２よりも遠く、かつ、到達距離ｄ１よりも近い位置にあり、光ヘッド３と記録媒体とが適正間隔であることが判明する。【００４３】また、上記以外の場合には、光ヘッド３と記録媒体９との間隔が適正間隔でないため、コントローラ８がアーム駆動機構４を駆動することによって、光ヘッド３と記録媒体９との間隔の適正化が行われる。例えば、検出された反射光が近接場光Ｎ１とＮ２との双方による反射光である場合には、記録媒体９の表面位置は近接場光Ｎ２による到達距離ｄ２以下の距離にあることになり、また、いずれの反射光も検出できない場合には、記録媒体９の表面位置は近接場光Ｎ１による到達距離ｄ１よりも離れた位置にあることになる。このため、コントローラ８がアーム駆動機構４を駆動することによって、それぞれの場合に応じて、光ヘッド３の記録媒体９に対する高さ位置を調整すればよい。」「【図３】」（当審注：段落【００３７】及び【００３８】の記載から、【図３】に示された符号「５１」は「５２」の誤記であり、符号「５２」は「５３」の誤記であることは明らかである。）ｄ段落【００６６】～【００６９】、【図６】「【００６６】＜３．第３の実施の形態＞次に、この発明の第３の実施の形態について説明する。上記第１および第２の実施の形態では、間隔検出用の近接場光Ｎ１，Ｎ２がカップリングして伝搬光となった際の反射光成分や透過光成分を検出するために光量検出手段３３として２つの検出器３３１，３３２（または３３１ａ，３３２ａ）を設けていたが、この実施の形態では一の検出器によって光ヘッド３と記録媒体９との間隔検出および間隔制御を行う形態について説明する。なお、光記録装置１の全体構成等は図１に示したものと同様であるので、ここではその説明を省略する。【００６７】図６は、この実施の形態における光ヘッド３ｂの構造を示す断面図である。図６では、上記各実施の形態において説明した部材と同様の部材については同一符号を付している。【００６８】図６に示すように、光ヘッド３ｂはヘッド本体３１ｂに半球状の固浸レンズ３２ｂが取り付けられて構成される。そして、第２の実施の形態と同様に記録媒体９を挟んで固浸レンズ３２ｂの底面側と対向する位置に光量検出手段３３が設けられている。なお、この実施の形態においても図１におけるアーム部４１が記録媒体９の裏面側にも延びるように配置されており、そのアーム部４１の先端部に光量検出手段３３が取り付けられる。【００６９】この実施の形態において固浸レンズ３２ｂは間隔検出用となる近接場光を発生させるように構成された近接場光発生手段であり、データの記録や再生のための近接場光ＲＮは光ヘッド３ｂに別途設けられた光ファイバ３６の先端部より記録媒体９に向けて浸み出すように構成されている。具体的には、光ファイバ３６の先端部は先鋭化されるとともに微小開口が形成されており、他端側より入射するデータの記録や再生等のためのレーザ光がその微小開口より近接場光となって浸み出すように構成されているのである。」「【図６】」ｅ段落【０１０５】～【０１０６】「【０１０５】＜６．変形例＞以上、この発明の実施の形態について説明したが、この発明は上記各実施の形態で説明した内容のものに限定されるものではない。【０１０６】上記各実施の形態では、光記録装置における光ヘッドと記録媒体との間隔検出および間隔制御について主として説明したが、この発明の原理に着目すれば、上記の間隔検出方法および間隔制御方法を他の装置に適用することも可能である。例えば、上述したような近接場光発生手段を第１の物体に設け、その第１の物体からそれぞれ到達距離の異なる少なくとも２つの近接場光を第２の物体に向けて浸み出させるように構成するとともに、それらの近接場光が第２の物体に到達することによって検出可能となる光量であって第１の物体と第２の物体との間隔に応じて異なる光量を、それぞれの近接場光成分ごとに検出するように構成することで、近接センサ等のような第１の物体と第２の物体との微小な間隔（光の波長よりも短いような間隔）を検出する間隔検出装置を実現することができる。そして、このように実現される間隔検出装置では、数十ｎｍのオーダーで間隔が変化した場合であっても検出可能となる。」 (イ) 引用発明の認定前記(ア)において摘記した事項を総合すると、引用文献２には次の発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。［引用発明］「光ディスク等の同心円状または螺旋状にデータが記録された円盤形状の記録媒体９を保持した状態で、記録媒体９を所定方向に回転させる回転機構部２と、記録媒体９の記録面にデータ記録または再生のための光を照射する光ヘッド３と、その光ヘッド３を移動させるアーム駆動機構４と、光ヘッド３に記録用または再生（読み取り）用等としての光を入射させるとともに、記録媒体９と光ヘッド３との間隔検出用としての光を光ヘッド３に入射させる光照射部５と、記録すべきデータをもとに記録光学系５１に対して記録信号を与えたり、記録光学系５１にて得られる再生信号に基づいてデータの再生を行う信号処理部６と、外部機器９０から記録すべきデータを受け取ってコントローラ８を介して信号処理部６に送ったり、再生信号を外部機器９０に出力する入出力部７と、上記各部を制御するコントローラ８とを備えて構成される光記録装置１であって、（【００２０】）光照射部５は、記録光学系５１と第１の間隔検出用光学系５２と第２の間隔検出用光学系５３とを備えており、第１の間隔検出用光学系５２と第２の間隔検出用光学系５３とは、間隔検出のための光を光ヘッド３に設けられる近接場光発生手段に入射させるための入射光学系であり、（【００２３】）記録光学系５１は、レーザ光源５１１から発せられたレーザ光を集光レンズ系５１２により集光して光ヘッド３の所定位置に導くように構成されており、第１の間隔検出用光学系５２および第２の間隔検出用光学系５３は、それぞれレーザ光源５２１，５３１と集光レンズ系５２２，５３２とを備えており、それぞれのレーザ光源５２１，５３１から発せられるレーザ光を光ヘッド３の所定位置に導くように構成されており、（【００２４】）コントローラ８は、アーム駆動機構４および回転機構部２に対して駆動制御信号を与えたり、信号の入出力等の各部の動作を制御したり、光ヘッド３と記録媒体９との間隔を制御するように構成されており、（【００２６】）光ヘッド３はアーム部４１の先端部に取り付けられており、ヘッド本体３１と固浸レンズ３２と光量検出手段３３とを備えており、（【００２８】）固浸レンズ３２は記録や再生のための近接場光や間隔検出用の近接場光を発生させるための近接場光発生手段として機能する部材であり、上部側が球面状に形成されており、記録光学系５１からのレーザ光ＲＬが記録媒体９の記録面に垂直な上方側より入射するように構成されており（入射角度＝０°）、第１の間隔検出用光学系５２からのレーザ光Ｌ１は入射角度θ１で固浸レンズ３２に入射し、第２の間隔検出用光学系５３からのレーザ光Ｌ２は入射角度θ２で入射するように構成されており、各レーザ光ＲＬ，Ｌ１，Ｌ２は、それぞれの集光レンズ系５１２，５２２，５３２によって固浸レンズ３２の底面側の同一位置に集光されており、第１および第２の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１，Ｌ２は、固浸レンズ３２の底面にて全反射するように設定されており、レーザ光Ｌ１，Ｌ２の入射角度θ１，θ２としては、それぞれ固浸レンズ３２の底面にて全反射するような角度が選択され、入射角度θ１とθ２とはそれぞれ異なる角度に設定されており、（【００２９】）高屈折率媒質で形成された固浸レンズ３２の底面付近には、空気中よりも小さなスポットが形成され、全反射面となる固浸レンズ３２の底面より垂直下方向きに微小スポットの近接場光ＲＮ，Ｎ１，Ｎ２が浸み出し、近接場光ＲＮはレーザ光ＲＬによって生じた近接場光であり、近接場光Ｎ１，Ｎ２はそれぞれ第１および第２の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１，Ｌ２によって生じた近接場光であり、（【００３０】）近接場光Ｎ１，Ｎ２の到達距離を異なるものとするために、全反射浸み出しによる近接場光を利用して、例えば、近接場光Ｎ１の到達距離をｄ１となるように入射角度θ１を設定するとともに、近接場光Ｎ２の到達距離をｄ２（ただし、ｄ１＞ｄ２）となるように入射角度θ２（ただし、θ２＞θ１）を設定し、距離ｄ１とｄ２との間に物体が存在すれば、近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達することになり、（【００３２】）近接場光Ｎ１，Ｎ２のそれぞれの到達距離ｄ１，ｄ２を、光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔に一致させて設定しておき、光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔を４０ｎｍ～１００ｎｍとして定める場合には、近接場光Ｎ１の到達距離ｄ１を１００ｎｍに設定し、近接場光Ｎ２の到達距離ｄ２を４０ｎｍに設定しておき、（【００３４】）このように設定しておくことにより、例えば、近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが記録媒体９とカップリングすれば、そのカップリングした光成分が記録媒体９の表面で反射することになり、その反射光の光量を検出することが可能になり、（【００３５】）光ヘッド３には、間隔検出用となる近接場光Ｎ１，Ｎ２が記録媒体９とカップリングした結果生じる反射光の光量を検出するために光量検出手段３３が設けられており、光量検出手段３３は、固浸レンズ３２の底面の周囲近傍に設けられており、（【００３６】）第１および第２の間隔検出用光学系５２，５３によって固浸レンズ３２に入射するレーザ光Ｌ１，Ｌ２は、光ヘッド３を上方側から見ても所定角度隔てて配置されており、光量検出手段３３となる２つの検出器３３１，３３２がそれぞれの光路の延長線上に配置されており、検出器３３１はレーザ光Ｌ１によって生じた近接場光Ｎ１が記録媒体９の記録面に到達し、それによって伝搬光となった光成分の反射光量を検出するように構成されており、検出器３３２はレーザ光Ｌ２によって生じた近接場光Ｎ２が記録媒体９の記録面に到達し、それによって伝搬光となった光成分の反射光量を検出するように構成されており、（【００３７】）近接場光Ｎ１，Ｎ２が記録媒体９に到達して反射する光は拡散反射するものであり、検出器３３１が近接場光Ｎ１による反射光量のみを検出し、検出器３３２が近接場光Ｎ２による反射光量のみを検出しようとするには、例えば、レーザ光源５２１，５３１がそれぞれ異なる波長のレーザ光（６３０ｎｍと４１０ｎｍ等）を出射するように構成し、各検出器３３１，３３２の受光面側にそれぞれ検出対象となる波長域の光成分のみを透過するための光学フィルタを配置するようにすればよく、（【００３８】）固浸レンズ３２の底面にて全反射した光成分は、固浸レンズ３２を透過して固浸レンズ３２から遠ざかるので、各検出器３３１，３３２に入射することはなく、（【００３９】）光量検出手段３３で検出された各近接場光Ｎ１，Ｎ２による各反射光の光量成分は光電変換されて電気信号となり、アーム部４１内部を配線された導電線を介してコントローラ８に送られ、（【００４０】）コントローラ８は、間隔検出用の各近接場光Ｎ１，Ｎ２による反射光の光量に基づいて記録媒体９と光ヘッド３（特に固浸レンズ３２における近接場光の浸み出し位置である底面位置）との間隔が適正間隔となっているかどうかを判断し、適正間隔にない場合にはアーム駆動機構４の駆動部４２を駆動させ、光ヘッド３の記録媒体９に対する高さ位置を調整するように構成されており、（【００４１】）コントローラ８は、検出器３３１，３３２を介して到達距離ｄ１の近接場光Ｎ１による反射光と、到達距離ｄ２の近接場光による反射光とを検出し、検出された反射光が近接場光Ｎ１による反射光のみであれば、光ヘッド３（特に固浸レンズ３２の底面位置）に対する記録媒体９の表面位置が到達距離ｄ２よりも遠く、かつ、到達距離ｄ１よりも近い位置にあり、光ヘッド３と記録媒体とが適正間隔であることが判明し、（【００４２】）上記以外の場合には、光ヘッド３と記録媒体９との間隔が適正間隔でないため、コントローラ８がアーム駆動機構４を駆動することによって、光ヘッド３と記録媒体９との間隔の適正化が行われ、検出された反射光が近接場光Ｎ１とＮ２との双方による反射光である場合には、記録媒体９の表面位置は近接場光Ｎ２による到達距離ｄ２以下の距離にあることになり、いずれの反射光も検出できない場合には、記録媒体９の表面位置は近接場光Ｎ１による到達距離ｄ１よりも離れた位置にあることになり、コントローラ８がアーム駆動機構４を駆動することによって、それぞれの場合に応じて、光ヘッド３の記録媒体９に対する高さ位置を調整すればよく、（【００４３】）データの記録や再生のための近接場光ＲＮは光ヘッド３ｂに別途設けられた光ファイバ３６の先端部より記録媒体９に向けて浸み出すように構成されてもよく、光ファイバ３６の先端部は先鋭化されるとともに微小開口が形成されており、他端側より入射するデータの記録や再生等のためのレーザ光がその微小開口より近接場光となって浸み出すように構成されており、（【００６９】）光記録装置における光ヘッドと記録媒体の間隔検出方法および間隔制御方法は、他の装置に適用することも可能であり、近接場光発生手段を第１の物体に設け、その第１の物体からそれぞれ到達距離の異なる少なくとも２つの近接場光を第２の物体に向けて浸み出させるように構成するとともに、それらの近接場光が第２の物体に到達することによって検出可能となる光量であって第１の物体と第２の物体との間隔に応じて異なる光量を、それぞれの近接場光成分ごとに検出するように構成することで、近接センサ等のような第１の物体と第２の物体との微小な間隔（光の波長よりも短いような間隔）を検出する間隔検出装置を実現することができ、数十ｎｍのオーダーで間隔が変化した場合であっても検出可能となる、（【０１０６】）光記録装置１。」イ引用文献５に記載された事項と周知技術１及び引用文献５技術事項の認定 (ア) 引用文献５記載された事項令和４年１月２５日付け補正の却下の決定において引用された文献である特開２００３－２７０５２４号公報（以下「引用文献５」という。）には、次の事項が記載されている。「【００１６】第１の実施の形態の顕微鏡は、図６のように、落射照明光源８５、透過照明光源２０、試料を搭載するステージ８２、ステージ８２の下部に配置された対物レンズ５、ベース８３、接眼レンズ部８４、および、撮像装置２５を有する。ベース８３の内部には、図４のように光源８５の光軸に沿って順に、投光管（レンズ群）６１、ダイクロイックミラー２７、結像光学系６２、フィルタ２３が配置されている。落射照明光源８５は、予め定めた波長の励起光（紫外光）の光束２６を発する光源である。ダイクロイックミラー２７は、励起光束２６を反射し、試料１が発する蛍光を透過する特性を有する。これらは、蛍光顕微鏡を構成している。【００１７】さらに、ベース８３の内部には、図４に示した焦点検出用光源１５，ダイクロックミラー６，投光管（レンズ群）１８，フィルタ２２，受光素子１９、制御部４０、および、対物レンズ５をその光軸に沿って上下動させる位置調整部４１が配置されている。焦点検出用光源１５は、上記励起光とは異なる波長の光、ここでは赤外光束１６を出射する。ダイクロックミラー６は、焦点検出用光束１６を反射し、他の波長の光（励起光、蛍光）を透過する特性を有する。これらは、焦点検出装置１００を構成している。【００１８】図２のように、試料１を含む試料溶液２は、スライドガラス３に載せられてステージ８２に搭載されている。対物レンズ５としては、試料１近傍においてエバネッセント現象を発生させるために、スライドガラス３と試料溶液２との界面２ａに対して、全反射される角度で焦点検出用の赤外光束１６を照射することができるような高開口数の対物レンズを使用する。このとき、対物レンズ５とスライドガラス３との間を図２の様にオイル４で満たす油浸にすることができる。なお、赤外光束１６としては、光束径の小さい平行光束を用いる。光束１６の径は、対物レンズ５の瞳の高開口の部分であって全反射の角度でスライドガラス３に光を出射する領域３１（図２参照）の幅と同等もしくはそれ以下とすることが望ましい。焦点検出用光源１５としては、レーザ光源、もしくは、通常の光源と絞りとの組み合わ等を用いる。本実施の形態では焦点検出用光源１５およびダイクロックミラー６は、対物レンズ５の瞳の最も端の領域３１に赤外光束１６を入射するように位置合わせされている。【００１９】よって、焦点検出用光源１５から出射された赤外光束１６は、図２のようにダイクロイックミラー６で反射され、対物レンズ５の領域３１に入射し、対物レンズ５によって集光され、全反射される浅い入射角でスライドガラス３に照射される。赤外光束１６は、スライドガラス３と試料溶液２との界面２ａで全反射され、全反射の際に生じるエバネッセント現象により、スライドガラス３表面から試料溶液２側にエバネッセント光が浸みだす。図２、図５のように、界面２ａから浸み出したエバネッセント光１７が到達する領域（深さ数十～数百ｎｍ程度）に存在する試料１によって、エバネッセント光は散乱され、散乱光１７が生じる。散乱光１７の一部は、対物レンズ５を通過し、ダイクロイックミラー６に至り、ダイクロイックミラー６で反射されて、投光管（レンズ群）１８により結像し、受光素子１９により受光される。投光管（レンズ群）１８と受光素子１９との間には、フィルタ２２が配置されており、赤外光束１６の波長以外の、蛍光や励起光は除去される。なお、スライドガラス３で反射された全反射光束が受光素子１９に入射するのを防ぐために、図２のように全反射光束を遮る絞り５１を光路中に挿入しておくことが望ましい。【００２０】制御部４０は、受光素子１９の受光した、散乱光１７の強度を検出し、信号の強度が最大になるようになる状態が、対物レンズ５の合焦点位置に試料１が存在する合焦状態であるとして、位置調整部４１に制御信号を出力し、散乱光１７の強度が最大となる位置まで対物レンズ５を光軸方向に移動させる。これにより、対物レンズ５を試料１に合焦させることができる。」「【図２】」「【図４】」「【図６】」 (イ) 周知技術１の認定前記(ア)に摘記した事項（特に【図２】に示された対物レンズ５に入射する赤外光束１６、対物レンズ５から出射する全反射光束、散乱光１７を参照）に例示されるように、次の事項は当業者にとって周知の技術であったと認められる（以下「周知技術１」という）。［周知技術１］「エバネッセント光を発生させる物体の裏面側において、当該物体の表面の法線方向に沿って物体の表面側から平面視して物体と重なる方向から入射したレーザ光が当該表面の裏側で全反射するように、入射光学系において照射レーザ光を屈折させ、全反射した光を出射光学系において当該法線方向に沿って屈折させ、エバネッセント光の局在領域において生じた散乱光を、エバネッセント光を発生させる物体を介して、かつ、入射光学系と出射光学系の間の空間にある光路を通して受光すること。」 (ウ) 引用文献５技術事項の認定前記(ア)に摘記した事項（特に【図２】に示された対物レンズ５を参照）から、引用文献５には、次の技術事項が記載されていると認められる（以下「引用文献５技術事項」という）。［引用文献５技術事項］「入射光学系、出射光学系及び集光光学系を対物レンズ５の凸状表面において連続して形成して一体化された光学系とすること。」ウ引用文献７に記載された事項と技術常識１の認定 (ア) 引用文献７に記載された事項当審において新たに引用する文献である特開平６－１３９６４７号公報（以下「引用文献７」という。）には、次の事項が記載されている。「【００１２】図１は本発明の第１の実施例における情報再生装置の構成図である。図１において、１は円盤状の記録媒体であり、材質はポリカーボネイト樹脂（屈折率１．５９）である。上記記録媒体１の表面には同心円状の記録トラックが設けられている。各記録トラックにはｄ０からｄ３までの４種類の深さの異なるピットが形成されており、深さはそれぞれｄ０：０μｍ（すなわち本来の媒体表面）、ｄ１：０．０５μｍ、ｄ２：０．１１μｍ、ｄ３：０．２７μｍである（図１ではその様子を模式的に表してある）。上記記録媒体１のピットが形成されている表層を記録層１ｂと称する。上記記録媒体１にはスピンドルモータ（図示せず）によって回転が与えられている。上記記録層１ｂに対向する位置には光ヘッド５が配されている。光ヘッド５は、エバネッセント波発生器１０、半導体レーザ２１、コリメータ２２、入射光偏向プリズム２３、反射光偏向プリズム２４、レシーバレンズ２５、フォトダイオード２６から構成されている。半導体レーザ２１からの放射光（波長７８０ｎｍ）はコリメータ２２によってコリメートされた後、入射光偏向プリズム２３によって偏向され、エバネッセント波発生器１０に入射している。エバネッセント波発生器１０は直角プリズムの直角を挟む２面に屈折力を有する非球面を形成したものであり、光学ガラスＳＦ１１（屈折率１．７９）で一体成形されている。エバネッセント波発生器１０の上記記録層１ｂに対向している面を反射面１０ａ、入射側の非球面を集光レンズ１０ｂ、出射側の非球面を受光レンズ１０ｃと称する。入射した光束は集光レンズ１０ｂよって開口角７０度で集光している。ビームウエストは反射面１０ａに一致しており、反射面１０ａ上では入射角４５．０度の平面波となっている。また偏光はＰ偏光となっている。反射面１０ａからの反射光は、受光レンズ１０ｃ（開口角７０度）、反射光偏向プリズム２４、レシーバレンズ２５によってフォトダイオード２６に導かれている。なお、上記構成要素の内、エバネッセント波発生器１０、入射光偏向プリズム２３、反射光偏向プリズム２４は、動圧ヘッドスライダ（図示せず）に搭載されており、それらを可動部５ａと総称する。動圧ヘッドスライダは記録トラック幅に比べ十分大きく、流体潤滑効果により反射面１０ａから非トラック部分（すなわち本来の媒体表面）までの垂直距離が常に０．０７μｍに保たれよう可動部５ａは記録媒体１に追従している。以下その距離を浮上量ｈと称する。 …中略… 【００１５】次に、再生過程について図１、図２を用いて説明する。本実施例における再生過程は、以下に述べるようにアテヌエーテッド・トータル・リフレクションに起因する上記反射面１０ａの反射率減衰からピット深さを検出し、それを元の情報に復調するものである。一般に、屈折率の大きい媒質と小さい媒質との境界面に対して光が臨界角以上の角度で入射するとき、全反射が生じ境界面の反射率は１となる。しかしながら屈折率の小さい媒質中にもエネルギは存在し、境界面から離れるにしたがって指数関数的に減衰するエバネッセント波と呼ばれる非放射光として局在する。エバネッセント波の等価的進入距離は境界面の屈折率差及び入射角に依存するが、通常１波長以下である。そこで第３の媒質を境界面に極近接させて配置するとその距離に応じてエネルギが流入し反射率は減衰する。この現象はアテヌエーテッド・トータル・リフレクション（あるいはフラストレーテッド・トータル・リフレクション）と呼ばれ、量子的には光子のトンネリング現象として説明される。本実施例は、反射面１０ａへの入射角が４５．０度と臨界角３４．０度より大きく、かつ記録層１ｂが反射面１０ａに波長以下の距離で近接して配してあるため、上記アテヌエーテッド・トータル・リフレクションが生じ、反射面１０ａとスポット直下の記録層１ｂ表面との距離（以下、この距離を隙間ｓと称する）に応じて反射面１０ａの反射率が変化する。図２は、第１の実施例における反射率と隙間ｓとの関係を示す図である。隙間ｓが０μｍすなわちスポット直下において反射面１０ａと記録媒体１が接触しているとき反射率は０、また隙間ｓが０．５μｍ以上のとき反射率はほぼ１で全反射とみなせる。その間で反射率は隙間ｓに対して単調増加する。したがって、反射率を検出すれば、そのときの隙間ｓを一意的に決定することができる。いま、隙間ｓは浮上量ｈとスポット直下のピットの深さとの和である。深さｄ０～ｄ３の各ピットに対する反射率は、ｄ０：２０％、ｄ１：５５％、ｄ３：７０％、ｄ４：９５％である。したがって、各ピットは反射率２５％の差で判別される。記録媒体１の回転に伴って、フォトダイオード２６から４値に振幅変調された時系列的信号が得られ、それを復調し元の情報を再生する。」「【図１】」 (イ) 技術常識１の認定前記(ア)に摘記した事項（特に【図１】に示された半導体レーザ２１の配置を参照）に例示されるように、次の事項は当業者にとって技術常識であったと認められる（以下「技術常識１」という）。［技術常識１］「エバネッセント光の基となる光を発生させる光源の光軸の方向が、エバネッセント光を発生させる物体のエバネッセント光が発生する表面の法線方向と平行となるように、光源を配置可能なこと。」エ引用文献１に記載された事項と技術常識２の認定 (ア) 引用文献１に記載された事項原査定の拒絶の理由において引用された文献である米国特許第５７１５０６０号明細書（以下「引用文献１」という。）には、次の事項が記載されている。摘記の後の括弧内に合議体が作成した日本語訳を示す。ａ４段落１５～３１行「 The operation of the apparatus 10 is based on the technique of Total Internal Reflection Microscopy (TIRM) and will be described generally with reference to the drawings for the purpose of illustrating present preferred embodiments of the invention only and not for purposes of limiting the same. Referring to FIGS. 4 and 5, in accordance with the present invention, a source 12 is used to direct incident electromagnetic radiation 13 into a radiation transparent first body 14 toward an interface with a medium 16 at an angle equal to or exceeding the critical angle, θc , for TIR in the first body 14. If a second body 18 having a higher index of refraction, n3 , than the medium is placed in close proximity to the first body 14, TIR can be frustrated resulting in a transmission of some amount of the radiation 20 through the medium 16 and into the second body 18; the intensity of the reflected radiation 22 will be diminished by the amount of the transmitted radiation 20.」（装置１０の動作は、全反射顕微鏡（ＴＩＲＭ)の技術に基づいており、本発明の現在の好ましい実施形態を例示する目的のみのために図面を参照して一般的に説明され、本発明を限定する目的のためではない。図４及び図５を参照すると、本発明によれば、光源１２を使用して、第一の本体１４におけるＴＩＲのために、臨界角θc以上の角度で、媒体１６との界面に向かって、入射電磁放射線１３を放射線透過性の第一の本体１４に向ける。媒体よりも高い屈折率ｎ３を有する第二の物体１８が第一の物体１４に近接して配置されると、ＴＩＲが妨げられ、その結果、いくらかの量の放射２０が媒体１６を通って第三の物体１８に透過し、反射された放射２２の強度は、透過した放射２０の量だけ減少する。）ｂ５段落３４～４３行「 A detector 24 is positioned to detect the intensity of the scattered radiation 19 and is attached to a data acquisition/analysis system 26 for processing the detected signals to determine the distance between the first and second bodies 14 and 18, respectively. While current preferred embodiments of the invention will be further described with respect to use of the apparatus 10 for testing the flying height of a magnetic head above a hard disk drive, one skilled in the art will appreciate that the invention can be suitably modified for use in other applications.」（検出器２４は、散乱放射線１９の強度を検出するように位置し、第一及び第二の本体１４と１８の間の距離を決定するために検出信号を処理するためのデータ収集／解析システム２６にそれぞれ取り付けられている。本発明の現在の好ましい実施形態は、さらに、ハードディスクドライブ上の磁気ヘッドの浮上量を検査するための装置１０の使用に関して説明するが、当業者は、本発明が他の応用における使用に対して適切に修正することができることを理解するであろう。）ｃ７段落１～１４行「 In a preferred embodiment, the detector 24 is a CCD camera 24 directed toward the second surface 30 of the first body 14 opposite the location of the second body 18. It is also preferred that a microscope 40 is attached to the camera 24 to provide for focusing the viewing range of the camera 24 to discriminate the surface scattering, such as in mapping applications to allow the measuring of the intensity of the scattered radiation 19 at discrete locations on the opposing surface 36 of the second body 18.」（好ましい実施形態では、検出器２４は、第二の本体１８の位置に対向する第一の本体１４の第二の表面３０に向けられたＣＣＤカメラ２４である。顕微鏡４０がカメラ２４に取り付けられて、第二の本体１８の対向する表面３６上の離散的な位置での散乱放射線１９の強度の測定を可能にするマッピング用途などにおいて、表面散乱を区別するためにカメラ２４の視野範囲の焦点を合わせることを可能にすることも好ましい。）ｄ図４「」ｅ図５「」 (イ) 技術常識２の認定前記(ア)に摘記した事項（特に図４に示された散乱光１９、顕微鏡４０、ＣＣＤカメラ２４を参照）に例示されるように、次の事項は当業者にとって技術常識であったと認められる（以下「技術常識２」という）。［技術常識２］「エバネッセント光を発生させる物体の裏面側において、集光光学系で集光された散乱光を受光する受光センサが、集光光学系を挟んでエバネッセント光の局在領域と対向し、当該集光光学系の光軸中心上に配置できること。」 (３) 対比・判断ア対比 (ア) 対比分析本件補正発明と引用発明を対比する。ａ(ａ) 引用発明の「光ヘッド３」及び「記録媒体９」は、それぞれ本件補正発明の「第１の物体」及び「第２の物体」に相当する。 (ｂ) 引用発明では、「近接場光Ｎ１，Ｎ２のそれぞれの到達距離ｄ１，ｄ２を、光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔に一致させて設定しておき、光ヘッド３と記録媒体９との適正間隔を４０ｎｍ～１００ｎｍとして定める場合には、近接場光Ｎ１の到達距離ｄ１を１００ｎｍに設定し、近接場光Ｎ２の到達距離ｄ２を４０ｎｍに設定しておき」、「距離ｄ１とｄ２との間に物体が存在すれば、近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達することにな［る］」としているから、引用発明の「近接場光Ｎ１の到達距離ｄ１」（１００ｎｍ）は、本件補正発明の「設定値」に相当し、引用発明の「近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達すること」は、「光ヘッド３」及び「記録媒体９」の間隔が「到達距離ｄ１」に到達したことを意味するから、本件補正発明の「第１の物体の表面と第２の物体との間の近接距離が設定値に到達した」ことに相当する。 (ｃ) 引用発明では、「コントローラ８」が「記録媒体９と光ヘッド３（特に固浸レンズ３２における近接場光の浸み出し位置である底面位置）との間隔が適正間隔となっているかどうかを判断」しており、「コントローラ８は、アーム駆動機構４および回転機構部２に対して駆動制御信号を与えたり、信号の入出力等の各部の動作を制御したり、光ヘッド３と記録媒体９との間隔を制御するように構成されて」いるから、「近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが物体に到達」した際にコントローラ８から出力される制御信号は、本件補正発明の「到達信号」に相当する。 (ｄ) 前記(ａ)～(ｃ)の検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「第１の物体の表面と第２の物体との間の近接距離が設定値に到達した際に到達信号を出力する」という点で一致する。ｂ(ａ) 引用発明の「光ヘッド３」が備える「固浸レンズ３２」は、「間隔検出用の近接場光を発生させるための近接場光発生手段として機能する部材」であり、「間隔検出」では、「記録媒体９と光ヘッド３（特に固浸レンズ３２における近接場光の浸み出し位置である底面位置）との間隔が適正間隔となっているかどうかを判断」するから、引用発明の「光ヘッド３」の「固浸レンズ３２」の「底面」は、本件補正発明の「透光性を有し前記第２の物体と対向する前記第１の物体の表面」に相当する。 (ｂ) 引用発明では、「全反射面となる固浸レンズ３２の底面より垂直下方向きに微小スポットの近接場光ＲＮ，Ｎ１，Ｎ２が浸み出し」ているところ、引用発明の「近接場光Ｎ１」は、本件補正発明の「近接場光Ｌ０」に相当する。 (ｃ) 引用発明の「近接場光Ｎ１」は、「到達距離ｄ１」が「１００ｎｍ」に設定されているから、「到達距離ｄ１」（１００ｎｍ）に相当する厚さの局在領域を有しているといえる。 (ｄ) 引用発明の「近接場光Ｎ１」は、「第１の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１によって生じた近接場光」であるから、この「レーザ光Ｌ１」に係る光学手段（レーザ光源５２１、集光レンズ系５２２、固浸レンズ３２を含む）は、本件補正発明の「前記設定値に相当する厚さの近接場光Ｌ０の局在領域を発生させる近接場光発生手段」に相当する。 (ｅ) (ａ)～(ｄ)の検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は「透光性を有し前記第２の物体と対向する前記第１の物体の表面に、前記設定値に相当する厚さの近接場光Ｌ０の局在領域を発生させる近接場光発生手段」を有する点で一致する。ｃ(ａ) 引用発明では、「近接場光Ｎ１，Ｎ２のうちの近接場光Ｎ１だけが記録媒体９とカップリングすれば、そのカップリングした光成分が記録媒体９の表面で反射することになり」、「近接場光Ｎ１，Ｎ２が記録媒体９に到達して反射する光は拡散反射するもの」であるから、引用発明の記録媒体９が近接場光Ｎ１とカップリングした際に生じる拡散反射光は、本件補正発明の「前記第２の物体が前記近接場光Ｌ０の局在領域に進入した際に生じる散乱光Ｓ１」に相当する。 (ｂ) 引用発明では、「検出器３３１はレーザ光Ｌ１によって生じた近接場光Ｎ１が記録媒体９の記録面に到達し、それによって伝搬光となった光成分の反射光量を検出するように構成」されているから、引用発明の「検出器３３１」は、本件補正発明の「散乱光検知手段」に相当する。 (ｃ) 前記(ａ)及び(ｂ)の検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「前記第２の物体が前記近接場光Ｌ０の局在領域に進入した際に生じる散乱光Ｓ１を検知する散乱光検知手段」を有する点で一致する。ｄ(ａ) 引用発明では、「コントローラ８は、検出器３３１，３３２を介して到達距離ｄ１の近接場光Ｎ１による反射光と、到達距離ｄ２の近接場光による反射光とを検出し、検出された反射光が近接場光Ｎ１による反射光のみであれば、光ヘッド３（特に固浸レンズ３２の底面位置）に対する記録媒体９の表面位置が到達距離ｄ２よりも遠く、かつ、到達距離ｄ１よりも近い位置にあり、光ヘッド３と記録媒体とが適正間隔であることが判明」するから、前記ａ(ｃ)の検討結果を踏まえると、引用発明の「コントローラ８」は、検出器３３１が近接場光Ｎ１による拡散反射光を検出したことを受けて、制御信号（「到達信号」に相当する。）を出力しているといえる。 (ｂ) そうすると、引用発明の「コントローラ８」は、本件補正発明の「判定手段」に相当するから、本件補正発明と引用発明は、「前記散乱光検知手段が前記散乱光Ｓ１を検知したことを受けて、前記到達信号を出力する判定手段」を有する点で一致する。ｅ(ａ) 引用発明の「近接場光Ｎ１」を生じさせる「第１の間隔検出用となるレーザ光Ｌ１」を発する「レーザ光源５２１」は、本件補正発明の「光源」に相当する。 (ｂ) 引用発明では、固浸レンズ３２に入射したレーザ光Ｌ１は、集光レンズ系５２２によって固浸レンズ３２の底面側に集光され、固浸レンズ３２の底面にて全反射するように設定されているから、引用発明の「固浸レンズ３２」は、本件補正発明の「入射光学系」と、「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように配置されて前記光源からの光を前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる」点で共通する。 (ｃ) 引用発明では、「固浸レンズ３２の底面にて全反射した光成分は、固浸レンズ３２を透過して固浸レンズ３２から遠ざかる」から、引用発明の「固浸レンズ３２」は、本件補正発明の「反射光学系」と、「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように該第１の物体の裏面側に配置されて該第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側」に出射させる点で共通する。 (ｄ) (ａ)～(ｃ)の検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「前記近接場光発生手段は、光源と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように配置されて前記光源からの光を前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる入射光学系と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように該第１の物体の裏面側に配置されて該第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側に出射させる反射光学系とを備え［る］」点で共通する。ｆ引用発明の「検出器３３１」は、本件補正発明の「受光センサ」に相当するから、前記ｃの検討結果を踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「前記散乱光検知手段は、前記散乱光Ｓ１を受光する受光センサ」を備える点で共通する。ｇ(ａ) 本件補正発明の「超近接スイッチ」について、明細書の段落【０００１】には、「本発明は、近接距離を、例えば、２０～１００ｎｍの精度で検知する超近接距離の検知方法及びそれを用いた超近接スイッチに関する。ここで、超近接距離とは、例えば、０又は０を超え１０００ｎｍ以下の範囲の近接距離をさす。また、超近接スイッチとは、例えば、０又は０を超え１０００ｎｍ以下の範囲内において、２０～１００ｎｍの精度で位置の変化を検知して信号を出力する近接スイッチをさす。」と記載されている。 (ｂ) 引用発明は、「近接場光Ｎ１の到達距離ｄ１を１００ｎｍに設定し、近接場光Ｎ２の到達距離ｄ２を４０ｎｍに設定［する］」から、「０又は０を超え１０００ｎｍ以下の範囲内」という条件を満たすことは明らかである。そして、引用発明は、「光記録装置における光ヘッドと記録媒体の間隔検出方法および間隔制御方法は、他の装置に適用することも可能であり」、「近接センサ等のような第１の物体と第２の物体との微小な間隔（光の波長よりも短いような間隔）を検出する間隔検出装置を実現することができ、数十ｎｍのオーダーで間隔が変化した場合であっても検出可能となる」としているから、引用発明の「間隔検出装置」が「１００ｎｍ」の精度より良い精度を有することは明らかである。 (ｃ) そうすると、引用発明の「近接センサ」は、本件補正発明の「超近接スイッチ」に相当するといえるから、本件補正発明と引用発明は、「超近接スイッチ」の発明である点で一致する。 (イ) 一致点及び相違点の認定前記(ア)の対比分析の検討結果をまとめると、本件補正発明と引用発明は、次の一致点において一致し、以下の相違点において相違する。ａ一致点「第１の物体の表面と第２の物体との間の近接距離が設定値に到達した際に到達信号を出力する超近接スイッチであって、透光性を有し前記第２の物体と対向する前記第１の物体の表面に、前記設定値に相当する厚さの近接場光Ｌ０の局在領域を発生させる近接場光発生手段と、前記第２の物体が前記近接場光Ｌ０の局在領域に進入した際に生じる散乱光Ｓ１を検知する散乱光検知手段と、前記散乱光検知手段が前記散乱光Ｓ１を検知したことを受けて、前記到達信号を出力する判定手段とを有し、前記近接場光発生手段は、光源と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように配置されて前記光源からの光を前記第１の物体の表面の裏側で全反射させる入射光学系と、前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように該第１の物体の裏面側に配置されて該第１の物体の表面の裏側で全反射した光を前記第１の物体の裏面側に出射させる反射光学系とを備え、前記散乱光検知手段は、前記散乱光Ｓ１を受光する受光センサを備える、超近接スイッチ」である点。ｂ相違点本件補正発明においては、「入射光学系」が「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体及び前記光源と重なるように前記第１の物体と前記光源との間に配置されて前記光源からの光を屈折させて」おり、「反射光学系」が「全反射した光を前記第１の物体の裏面側に屈折させる」ものであり、「散乱光検知手段」が「前記第１の物体の裏面側で前記入射光学系と前記反射光学系との間に前記局在領域と対向して配置され前記散乱光Ｓ１を集光する集光光学系」を備え、「受光センサ」が「前記第１の物体の裏面側」に配置されて「該集光光学系で集光された前記散乱光Ｓ１を受光する」ものであり、「前記入射光学系、前記反射光学系及び前記受光センサ側に凸面を有する前記集光光学系は、表面に前記近接場光Ｌ０が発生する前記第１の物体の裏面側に連続して形成されて該第１の物体と一体になって」おり、（以上を以下「部分相違点Ａ」という。）「光源」が「前記第１の物体の表面側から平面視して該第１の物体と重なるように前記第１の物体の裏面側に配置される」ものであり、「受光センサ」が「前記第１の物体の裏面側に前記集光光学系を挟んで前記局在領域と対向し該集光光学系の集光部と中心が一致するように配置され［る］」ものである（以上を以下「部分相違点Ｂ」という。）のに対して、引用発明においては、レーザ光源５２１が、第１の間隔検出用光学系５２の集光レンズ系５２２を介してレーザ光Ｌ１を光ヘッド３の所定位置に導くように配置されており、光ヘッド３の上方から平面視すると、光ヘッド３と重なるように配置されておらず、レーザ光Ｌ１は固浸レンズ３２において屈折しているとはいえず（引用文献２の【図３】を参照）、光量検出手段３３（検出器３３１）は、固浸レンズ３２の底面の周囲近傍に設けられており、固浸レンズ３２は、入射光学系、反射光学系及び集光光学系が連続して形成されたものではなく、レーザ光源５２１は、「光ヘッド３の表面側から平面視して光ヘッド３と重なるように光ヘッド３の裏面側に配置される」ものではなく、光量検出手段３３（検出器３３１）は、「光ヘッド３の裏面側に集光光学系を挟んで局在領域と対向し集光光学系の集光部と中心が一致するように配置されるもの」ではない点。イ判断 (ア) 部分相違点Ａについてａ「エバネッセント光を発生させる物体の裏面側において、当該物体の表面の法線方向に沿って物体の表面側から平面視して物体と重なる方向から入射したレーザ光が当該表面の裏側で全反射するように、入射光学系において照射レーザ光を屈折させ、全反射した光を出射光学系において当該法線方向に沿って屈折させ、エバネッセント光の局在領域において生じた散乱光を、エバネッセント光を発生させる物体を介して、かつ、入射光学系と出射光学系の間の空間にある光路を通して受光すること」は周知技術である（周知技術１を参照）。ｂ(ａ) ここで、引用発明では、「記録光学系５１からのレーザ光ＲＬが記録媒体９の記録面に垂直な上方側より入射するように構成されて［いる］」ものの、引用文献２の【図６】、【００６６】～【００７９】を参照すると、引用文献２では、「データの記録や再生のための近接場光ＲＮは光ヘッド３ｂに別途設けられた光ファイバ３６の先端部より記録媒体９に向けて浸み出すように構成されてもよ［い］」としているから、レーザ光ＲＬを固浸レンズ３２に垂直入射させる以外の記録光学系５１の配置も可能である。 (ｂ) さらには、引用発明は、「光記録装置における光ヘッドと記録媒体の間隔検出方法および間隔制御方法は、他の装置に適用することも可能であ［る］」（【０１０６】参照）から、記録光学系５１がそもそもないものも想定している。ｃそうすると、引用発明において、「近接場光Ｎ１」を生じさせる「レーザ光Ｌ１」を前記周知技術１に示された形態に倣って照射することにより、「固浸レンズ３２」（「入射光学系」及び「反射光学系」に相当）において「レーザ光Ｌ１」を屈折入射させて、全反射した光を屈折出射させるとともに、記録媒体９が近接場光Ｎ１とカップリングした際に生じる拡散反射光を、前記周知技術１に示された形態に倣って検出器３３１が受光するように構成することは当業者ならば格別の困難性はない。ｄそして、引用文献５技術事項には、「入射光学系、出射光学系及び集光光学系を対物レンズ５の凸状表面において連続して形成して一体化された光学系とすること」が開示されているから、引用発明において、前記周知技術１に示された形態に倣ったレーザ光Ｌ１の照射及び拡散反射光の受光を行う際に、「固浸レンズ３２」を入射光学系、出射光学系及び集光光学系が一体化されたものとして構成することは、当業者にとって自明な設計変更にすぎないというべきである。 (イ) 部分相違点Ｂについてａ「エバネッセント光の基となる光を発生させる光源の光軸の方向が、エバネッセント光を発生させる物体のエバネッセント光が発生する表面の法線方向と平行となるように、光源を配置可能なこと」は技術常識であり（技術常識１を参照）、また、「エバネッセント光を発生させる物体の裏面側において、集光光学系で集光された散乱光を受光する受光センサが、集光光学系を挟んでエバネッセント光の局在領域と対向し、当該集光光学系の光軸中心上に配置できること」も技術常識である（技術常識２を参照）。ｂそして、前記(ア)ｂにおいて検討したとおり、引用発明では、レーザ光ＲＬを固浸レンズ３２に垂直入射させる以外の記録光学系５１の配置も可能であるところ、引用発明において、前記周知技術１に示された形態に倣ったレーザ光Ｌ１の照射及び拡散反射光の受光を行う際に、上記技術常識１及び技術常識２に照らして、引用文献５のダイクロックミラー６のような光軸を直角に折り曲げる手段を介在させずに、レーザ光源５１１及び検出器３３１の光軸方向が光ヘッド３の表面の法線方向に一致するように配置することは、光学的に等価な配置である選択肢の中から当業者が適宜選択し得た事項にすぎないというべきである。ｃそうすると、引用発明において、レーザ光源５１１が光ヘッド３の表面側から平面視して光ヘッド３と重なるように前記光ヘッド３の裏面側に配置され、検出器３３１が光ヘッド３の裏面側に固浸レンズ３２を挟んで近接場光Ｎ１と対向し固浸レンズ３２と中心が一致するように配置されることは、当業者が容易になし得たことである。 (ウ) 総合評価前記部分相違点Ａ及びＢについての検討結果を総合すると、引用発明において、前記相違点に係る本件補正発明の構成とすることは、当業者が容易に想到し得たことである。また、本件補正発明の奏する効果としては、引用発明、周知技術１、引用文献５技術事項及び技術常識１、２から当業者が予測困難で、かつ、格別顕著な効果を認めることはできない。したがって、本件補正発明は、引用発明、周知技術１、引用文献５技術事項及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。ウ請求人の主張について (ア) 審判請求書の主張内容請求人の主張は、概略次のとおりである。＜主張ａ＞引用文献２では、レーザ光Ｌ１は、第１の物体（ヘッド本体３１）の斜め上方から直接、第１の物体の表面の裏側に照射されて全反射し、反射した光がそのまま第１の物体の裏面側から出射しており、本願発明の構成とは異なる。引用文献２の図２の集光レンズ系（集光光学系）は光源から照射される光を集光するものであり、散乱光を光量検出手段（受光センサ）に対して集光するものではない。＜主張ｂ＞本願発明は、入射光学系、反射光学系及び集光光学系からなる光学系をコンパクトに構成できるだけでなく、別途、集光レンズを配置することなく散乱光の集光効率を高め、受光センサに対して確実に結像させることができ、超近接距離の測定の正確性及び安定性に優れるものであるから、集光光学系が、第１の物体の裏面側で入射光学系と反射光学系との間に局在領域と対向して配置され、入射光学系、反射光学系及び受光センサ側に凸面を有する集光光学系が、表面に近接場光Ｌ０が発生する第１の物体の裏面側に連続して形成されて第１の物体と一体になった構造及び配置に関して、適宜なし得る（単なる設計事項である）とはいえない。 (イ) 請求人の主張についての検討ａ主張ａについての検討前記イ(ア)において説示したとおり、引用発明（引用文献２）において、周知技術１（引用文献５）に示された形態に倣ったレーザ光Ｌ１の照射及び拡散反射光の受光を行うより、レーザ光Ｌ１を記録媒体９の記録面に垂直な上方から入射させ、固浸レンズ３２においてレーザ光Ｌ１を屈折入射及び屈折出射させるように構成することは当業者ならば格別の困難性はない。また、前記イ(イ)において説示したとおり、引用発明（引用文献２）において、拡散反射光を受光する検出器３３１が、光ヘッド３の裏面側において、固浸レンズ３２を挟んで近接場光Ｎ１と対向し、固浸レンズ３２と中心が一致するように配置されることについても、周知技術１（引用文献５）及び技術常識２から、当業者にとって自明な設計事項にすぎない。そして、請求人は、審判請求書において引用文献５に開示された技術に対して何ら反論をしていない。したがって、主張ａを採用することはできない。ｂ主張ｂについての検討前記イ(ア)において説示したように、引用発明において、前記周知技術１に示された形態に倣ったレーザ光Ｌ１の照射及び拡散反射光の受光を行う際に、「固浸レンズ３２」を入射光学系、出射光学系及び集光光学系が一体化されたものとして構成することは、引用文献５技術事項からみて当業者にとって自明な設計変更にすぎない。また、光学系のコンパクト化や測定の正確性及び安定性についても、前記イ(イ)において説示したとおり、引用発明において、引用文献５のダイクロックミラー６のような光軸を直角に折り曲げる手段を介在させずに、レーザ光源５１１及び検出器３３１の光軸方向が光ヘッド３の表面の法線方向に一致するように配置することは、光学的に等価な配置である選択肢の中から当業者が適宜選択し得た事項にすぎない。よって、主張ｂを採用することはできない。エ小括以上検討のとおり、本件補正発明は、特許法29条2項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができない。よって、本件補正は、同法17条の2第6項において準用する同法126条7項の規定に違反するから、同法159条1項において読み替えて準用する同法53条1項の規定により却下すべきものである。したがって、前記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。第３本願発明について１本願発明について本件補正は、上記第２のとおり却下されたので、本願の請求項１～８に係る発明は、令和３年１月１４日に提出された手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１～８に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められるところ、そのうち、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は前記第２の１(１)に摘記した事項により特定されるとおりである。２原査定における拒絶の理由の概要原査定の拒絶の理由のうち、本願発明についての進歩性欠如の理由は、次のとおりである。なお、原査定においては、引用文献１を主たる引用文献とする進歩性欠如の理由と、引用文献２を主たる引用文献とする進歩性欠如の理由の２つの理由が示されている。理由２（進歩性欠如）本願発明は、下記の引用文献１～４に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法29条2項の規定により特許を受けることができない。記引用文献１：米国特許第５７１５０６０号明細書引用文献２：特開２００１－１９４１１８号公報引用文献３：特開２０１０－１２７６２４号公報引用文献４：特開２００６－１７０７６８号公報３引用文献に記載された事項上記引用文献２には、第２の３(２)ア(イ)において認定したとおりの引用発明が記載されていると認められる。また、周知技術１及び技術常識１、２は、前記第２の３(２)イ(イ)、ウ(イ)、エ(イ)においてそれぞれ認定したとおりである。４対比・判断 (１) 対比前記第２の３(３)ア(ア)の対比分析における検討結果も踏まえて、本願発明と引用発明を対比すると、本願発明と引用発明の相違点は、次の相違点Ａ´のとおりであり、両者はその余の点で一致する。＜相違点Ａ´＞本願発明では、「光源」が「前記第１の物体の裏面側に配置され」、「入射光学系」が「前記第１の物体と前記光源との間に配置され、前記光源からの光を屈折させ」、「反射光学系」が「全反射した光を前記第１の物体の裏面側に屈折させる」ものであり、「散乱光検知手段」が「前記第１の物体の裏面側に配置され［る］」ものであるのに対して、引用発明では、レーザ光源５２１が、光ヘッド３の上方から平面視すると、光ヘッド３と重なるように配置されておらず、レーザ光Ｌ１は固浸レンズ３２において屈折しているとはいえず、光量検出手段３３（検出器３３１）は、固浸レンズ３２の底面の周囲近傍に設けられている点。 (２) 相違点Ａ´についての判断前記第２の３(３)イにおいて説示した本件補正発明と引用発明の相違点についての判断を踏まえると、前記相違点Ａ´に係る構成は、引用発明、周知技術１及び技術常識１、２に基づいて当業者が容易に想到し得たものである。そして、本願発明の奏する作用効果としては、引用発明、周知技術１及び技術常識１、２からは予測困難で、かつ、格別顕著な効果を認めることはできない。したがって、本願発明は、引用発明、周知技術１及び技術常識１、２に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。第４むすび以上検討のとおりであるから、本願発明は、特許法29条2項の規定により、特許を受けることができない。したがって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。よって、結論のとおり審決する。
別掲	（行政事件訴訟法第４６条に基づく教示）この審決に対する訴えは、この審決の謄本の送達があった日から３０日（附加期間がある場合は、その日数を附加します。）以内に、特許庁長官を被告として、提起することができます。
審理終結日	2022-11-11
結審通知日	2022-11-15
審決日	2022-11-30
出願番号	P2016-239439
審決分類	P 1 8・ 575- Z (G01B) P 1 8・ 121- Z (G01B)
最終処分	02 不成立
特許庁審判長	岡田吉美
特許庁審判官	後藤慎平濱野隆
発明の名称	超近接スイッチ
代理人	中前富士男

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