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審決分類 審判 査定不服 2項進歩性 特許、登録しない。 G01R
審判 査定不服 5項独立特許用件 特許、登録しない。 G01R
管理番号 1411975
総通号数 31 
発行国 JP 
公報種別 特許審決公報 
発行日 2024-07-26 
種別 拒絶査定不服の審決 
審判請求日 2023-05-02 
確定日 2024-06-06 
事件の表示 特願２０１８−２１０７９４「プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置」拒絶査定不服審判事件〔令和 ２年 ５月２１日出願公開、特開２０２０− ７６６６４〕について、次のとおり審決する。 
結論 本件審判の請求は、成り立たない。 
理由 第１ 手続の経緯
本願は、平成３０年（２０１８年）１１月８日を出願日とする特許出願であって、その手続の経緯の概略は、次のとおりである。
令和４年 ９月２７日付け：拒絶理由通知書
同年１１月 ４日 ：意見書、手続補正書の提出
令和５年 １月３１日付け：拒絶査定（以下「原査定」という。）
（同年 ２月 ７日 ：原査定の謄本の送達）
同年 ５月 ２日 ：審判請求書、手続補正書の提出


第２ 令和５年５月２日にされた手続補正についての補正の却下の決定
［補正の却下の決定の結論］
令和５年５月２日にされた手続補正を却下する。

［補正の却下の決定の理由］
１ 本件補正の内容
令和５年５月２日にされた補正（以下「本件補正」という。）は、特許請求の範囲についての補正を含むものであって、次の(１)に示す本件補正前（令和４年１１月４日にされた手続補正後をいう。以下同じ。）の特許請求の範囲の請求項１の記載を、後記の(２)に示す本件補正後の特許請求の範囲の請求項１の記載に補正するものである。下線は、補正箇所を示す。
(１) 本件補正前の請求項１
「【請求項１】
一対の検査治具を備え、
前記一対の検査治具の各々が、
プローブピンと、
前記プローブピンが内部に収容されたハウジングと
を備え、
前記プローブピンが、
第１方向に沿って弾性変形可能な第１弾性部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の一端に設けられ、前記第１弾性部に対して前記第１方向に交差する第２方向に移動可能な第１接触部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の他端に設けられた第２接触部と
を備え、
前記第１接触部が、
前記第１弾性部の前記一端から前記第１方向に沿って延びていると共に、前記第２方向から接触可能な接点部を有する第１腕部と、
前記第１腕部から前記第２方向に延びていると共に、前記第１腕部に対して前記接点部と同じ側に配置された第２腕部と
を有し、
前記第２腕部に外力を加えることにより、前記第１腕部が、前記第１弾性部との接続部分を支点として回転して前記第１弾性部に対して前記第２方向に移動するように構成され、
前記ハウジングが、
前記第２腕部に外力を加えたときに前記第１腕部が前記第２方向に移動して前記第１腕部の前記接点部が外部に露出するように構成され、
前記第２腕部が、
前記第１腕部から前記第２方向に延びている本体部と、
前記本体部から前記第１方向でかつ前記第１弾性部から離れる方向に突出していると共に、前記第１方向でかつ前記第１弾性部から遠い方の先端が前記ハウジングの外部に配置されている突出部と
を有し、
前記一対の検査治具の各々が、
前記接点部が相互に対向しかつ前記第２方向に第１隙間を空けて配置されていると共に、前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ配置されている、検査ユニット。」

(２) 本件補正後の請求項１
「【請求項１】
第１検査治具および第２検査治具を備え、
前記第１検査治具および前記第２検査治具の各々が、
プローブピンと、
前記プローブピンが内部に収容されたハウジングと
を備え、
前記プローブピンが、
第１方向に沿って弾性変形可能な第１弾性部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の一端に設けられ、前記第１弾性部に対して前記第１方向に交差する第２方向に移動可能な第１接触部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の他端に設けられた第２接触部と
を備え、
前記第１接触部が、
前記第１弾性部の前記一端から前記第１方向に沿って延びていると共に、前記第２方向から接触可能な接点部を有する第１腕部と、
前記第１腕部から前記第２方向に延びていると共に、前記第１腕部に対して前記接点部と同じ側に配置された第２腕部と
を有し、
前記第２腕部に外力を加えることにより、前記第１腕部が、前記第１弾性部との接続部分を支点として回転して前記第１弾性部に対して前記第２方向に移動するように構成され、
前記ハウジングが、
前記第２腕部に外力を加えたときに前記第１腕部が前記第２方向に移動して前記第１腕部の前記接点部が外部に露出するように構成され、
前記第２腕部が、
前記第１腕部から前記第２方向に延びている本体部と、
前記本体部から前記第１方向でかつ前記第１弾性部から離れる方向に突出していると共に、前記第１方向でかつ前記第１弾性部から遠い方の先端が前記ハウジングの外部に配置されている突出部と
を有し、
前記第１検査治具の前記接点部および前記第２検査治具の前記接点部が前記第２方向において相互に対向しかつ前記第２方向に前記第１腕部が回転可能な第１隙間を空けて位置し、
前記第２腕部の前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ位置している、検査ユニット。」

２ 本件補正の目的
本件補正による請求項１についての補正は、本件補正前の「一対の検査治具」を、本件補正後の「第１検査治具および第２検査治具」に書き表わすとともに、本件補正前の
「前記一対の検査治具の各々が、
前記接点部が相互に対向しかつ前記第２方向に第１隙間を空けて配置されていると共に、前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ配置されている」こと
について、本件補正後における、
「前記第１検査治具の前記接点部および前記第２検査治具の前記接点部が前記第２方向において相互に対向しかつ前記第２方向に前記第１腕部が回転可能な第１隙間を空けて位置し、
前記第２腕部の前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ位置している」とすることで、当該「第１検査治具および第２検査治具」の（第１接触部の第１腕部が有する）「接点部」が「第２方向に」「第１隙間を空けて位置［する］」ことについて、更に「第１隙間」が「第１検査治具および第２検査治具」の（第１接触部の）「第１腕部が回転可能」なものと限定することを含むものである。
そして、本件補正前の請求項１に記載された発明と、本件補正後の請求項１に記載される発明は、産業上の利用分野及び解決しようとする課題が同一である。
したがって、本件補正による請求項１についての補正は、特許法17条の2第5項2号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当する。

３ 独立特許要件についての当審の判断
本件補正による請求項１についての補正は、特許法17条の2第5項2号に規定する特許請求の範囲の減縮を目的とするものに該当するから、本件補正後の請求項１に記載されている事項により特定される発明（以下「本件補正発明」という。）が特許法17条の2第6項において準用する同法126条7項の規定に適合するか、すなわち、特許出願の際独立して特許を受けることができるものであるか否かについて、以下検討を行う。

(１) 本件補正発明
本件補正発明は、前記１(２)の「本件補正後の請求項１」に示した記載により特定されるとおりのものである。

(２) 引用文献の記載事項及び引用発明等の認定
ア 引用文献１の記載事項及び引用発明の認定
(ア) 引用文献１の記載事項
原査定の拒絶の理由において引用された実願昭６０−５７３１４号（実開昭６１−１７２４８７号）のマイクロフィルム（以下「引用文献１」という。）には、次に摘記する事項が記載されている（下線は当合議体が付したものであり、以下同様である。）。
ａ 第１図及び第２図
「第１図

」
「第２図

」

ｂ ４頁２行（「実施例」）〜６頁１６行（「４．図面の簡単な説明」末尾）
「実施例
以下、第１図及び第２図に示した一実施例に基づき上記従来例と同一の部材には同一符号を付して本考案を詳細に説明すれば、１０は概略箱状のソケット本体、１１はソケット本体１０の内底部に貫通固定された複数対のコンタクトピン（作図の都合上一対しか示していない）であって、コンタクトピン１１は内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されていると共に、コンタクトピン１１の先端部は試験時ＩＣチップ１のモールド部２により押し下げられる内側腕部１１ａと該内側腕部１１ａが押し下げられた時ＩＣチップ１のリード３の側面に先端突部１１ｂ’が圧接する外側腕部１１ｂとに分岐せしめられている。１２はＩＣチップを押圧しつつソケット本体１０に固定される蓋である。尚、本考案の場合、ＩＣチップ１はリード３の先端部が上方を向いた状態でソケット本体１０内に挿入されるようになっている。
本考案によるＩＣチップ試験用ソケットは上述の如く構成されているから、第１図に示した如くコンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行くと、コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接する。そして、蓋１２がソケット本体１０に固定されて上記圧接状態が保持され、ＩＣチップ１の種々の性能試験が行われる。
考案の効果
上述の如く、本考案によるＩＣチップ試験用ソケットによれば、ＩＣチップ１のリード３の実装時に半田付けされる部分即ち先端部以外の部分にコンタクトピン１１が接触するようになっているので、該先端部に傷が付いたりゴミが付着したりすることが無い。従って、リード３のプリント回路基板の回路部分への半田付けの不良を発生させることなくＩＣチップ１の性能試験が行われる。なお、本案ソケットによれば、本体上の所定位置にＩＣチップを載置した状態では該チップは浮き上がった状態に保持されるから、この種従来構造のソケットに較べてＩＣチップの装脱が容易であると云う利点もある。
４．図面の簡単な説明
第１図は本考案によるＩＣチップ試験用ソケットの一実施例にＩＣチップを挿入した状態を示す断面図、第２図は上記実施例の蓋によりＩＣチップを押し下げて装填した状態を示す断面図、第３図はＩＣチップの実装状態を示す断面図、第４図は従来の試験状態を示す断面図である。
１‥‥ＩＣチップ、２‥‥モールド部、３‥‥リード、１０‥‥ソケット本体、１１‥‥コンタクトピン、１１ａ‥‥内側腕部、１１ｂ‥‥外側腕部、１２‥‥蓋。」

(イ) 引用文献１の記載から読み取れる事項の認定
前記(ア)に示した摘記事項を踏まえると、前記第１図及び第２図から以下の事項が読み取れる。なお、認定に際し、第１図の上部に示されている黒矢印の示す方向をＺ方向、当該矢印と直交して紙面と平行な方向をＸ方向とした。
ａ 認定事項１
「内側腕部１１ａは、Ｚ方向に押し下げられること。」
ｂ 認定事項２
「外側腕部１１ｂ、１１ｂが移動する方向は、Ｚ方向に交差するＸ方向であること。」
ｃ 認定事項３
「内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは、外側腕部１１ｂ、１１ｂに対して、共にＸ方向の同じ側にあること。」
ｄ 認定事項４
「コンタクトピン１１、１１は、ＩＣチップ１のリード３、３の側面に圧接する先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは異なる接触端を更に備えること。」
ｅ 認定事項５
「外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’は、ＩＣチップ１のリード３、３の側面に圧接するために、相互に対向すること。」
ｆ 認定事項６
次の(ａ)〜(ｃ)に示す認定事項について、それぞれ、「認定事項６Ａ」〜「認定事項６Ｃ」とし、またこれらを総称して「認定事項６」という。
(ａ) ［認定事項６Ａ］
「コンタクトピン１１、１１のうち内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位と、コンタクトピン１１、１１のうち内底部に貫通固定される部位とは、Ｚ方向において離間すること。」
(ｂ) ［認定事項６Ｂ］
「内側腕部１１ａ、１１ａのうち外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分は、Ｘ方向に延びること。」
(ｃ) ［認定事項６Ｃ］
「内側腕部１１ａ、１１ａのうちＩＣチップ１が載せられる部分は、Ｚ方向とは逆の方向に突出していること。」
ｇ 認定事項７
「コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接する際には、内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位を中心として回転する移動を伴うこと。」

(ウ) 引用発明の認定
前記(ア)に示した摘記事項及び前記(イ)に示した認定事項を総合すると、引用文献１には、次に示す発明（以下「引用発明」という。）が記載されていると認められる。
［引用発明］
「概略箱状のソケット本体１０、ソケット本体１０の内底部に貫通固定された複数対のコンタクトピン１１を備えたＩＣチップ試験用ソケットであって、
コンタクトピン１１は内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されていると共に、コンタクトピン１１の先端部は試験時ＩＣチップ１のモールド部２により押し下げられる内側腕部１１ａと該内側腕部１１ａが押し下げられた時ＩＣチップ１のリード３の側面に先端突部１１ｂ’が圧接する外側腕部１１ｂとに分岐せしめられており、（４頁５行〜同頁１５行）
内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは、外側腕部１１ｂ、１１ｂに対して、共にＸ方向の同じ側にあり、（前記［認定事項３］）
コンタクトピン１１、１１は、ＩＣチップ１のリード３、３の側面に圧接する先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは異なる接触端を更に備え、（前記［認定事項４］）
外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’は、ＩＣチップ１のリード３、３の側面に圧接するために、相互に対向するものにおいて、（前記［認定事項５］）
コンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行くと、コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接し、この際内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位を中心として回転する移動を伴って、ＩＣチップ１の種々の性能試験が行われ、（５頁２行〜同頁１１行、前記［認定事項７］）
外側腕部１１ｂ、１１ｂが移動する方向は、Ｚ方向に交差するＸ方向であり、（前記［認定事項２］）
コンタクトピン１１、１１のうち内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位と、コンタクトピン１１、１１のうち内底部に貫通固定される部位とは、Ｚ方向において離間しており、（前記［認定事項６Ａ］）
内側腕部１１ａ、１１ａのうち外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分は、Ｘ方向に延びており、（前記［認定事項６Ｂ］）
内側腕部１１ａ、１１ａのうちＩＣチップ１が載せられる部分は、Ｚ方向とは逆の方向に突出している、（前記［認定事項６Ｃ］）
ＩＣチップ試験用ソケット。」

イ 引用文献３及び４の記載事項並びに周知技術の認定
(ア) 引用文献３の記載事項
原査定の拒絶の理由において引用された特開２０１０−８３８８号公報（以下「引用文献３」という。）には、次に摘記する事項が記載されている。
「【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、半導体装置の電気的試験を行う際に用いられる、検査装置の端子と半導体装置の端子とをプローブを介して電気的に接続するＩＣソケットに関するものであり、特に、プローブを交換して長期間使用する場合において、より長期間に亘り使用することのできるＩＣソケットに関するものである。」
「【発明を実施するための最良の形態】
【００１８】
以下に、本発明に係るＩＣソケットの一実施の形態について、図面を参照して具体的に説明する。図１は本実施形態にかかるＩＣソケットの全体斜視図であり、図２は本実施形態にかかるメインブロックの概略図であって、図２（ａ）は全体斜視図、図２（ｂ）はその断面図であり、図３は本実施形態にかかるプローブのメインブロック及びサイドブロックへの取り付け方法を説明するための図であり、図４は本実施形態にかかるＩＣソケットの側断面図であり、図５はメインブロックの突片の厚さを変更して、プローブをメインブロックの突片とサイドブロックの当接面とによって挟持するように構成した場合のＩＣソケットの側断面図である。
【００１９】
図１に示すように、本実施形態にかかるＩＣソケット１は、半導体装置を載置するためのメインブロック１０と、当該メインブロック１０の外周に対峙して配置した四つのサイドブロック２０と、メインブロック１０とサイドブロック２０との間に介設した複数のプローブ３０とを有しており、さらに、これらメインブロック１０、サイドブロック２０及びプローブ３０の底部以外を覆うとともに半導体装置を載置するスペースとなる載置部１１及びプローブ３０の先端のみを露出させるための窓部を設けたガイドブロック（図示せず）を設けて構成される。」
「【図１】

」
「【図２】

」
「【図３】

」
「【００４０】
メインブロック１０、サイドブロック２０及びプローブ３０は以上のように構成されており、これらを一体的に組み付ける際は、サイドブロック２０のプローブガイド部２４に形成された各収納空間２５内にプローブ３０を差し入れた後に、メインブロック１０の突片１２をサイドブロック２０に取り付けられたプローブ３０の湾曲部３１内に差し入れて、メインブロック１０とサイドブロック２０との間にプローブ３０が介設された状態とする。
【００４１】
そして、メインブロック１０のネジ穴１５にネジＳをサイドブロック２０のネジ穴２８を介して貫装することによって、メインブロック１０、サイドブロック２０及びプローブ３０を一体的に組み付けた状態とする（図１参照。）。
【００４２】
ここで、かかる状態において、プローブ３０の凸部３２は、図４（ａ）に示すように、サイドブロック２０の凹部２３に嵌入した状態となっており、また、メインブロック１０の突片１２によってプローブ３０の湾曲部３１が押圧された状態となっている。
【００４３】
そして、このＩＣソケット１を検査装置に取り付けるとともに、メインブロック１０の載置部１１に半導体装置Ｐを載置すると、プローブ３０の一端および他端は、図４（ｂ）に示すように、それぞれ湾曲部３１内方側へと押圧されて、上部収納空間１６及び下部収納空間１７内に収納された状態となる。このように、弾性力を有するプローブ３０の一端及び他端を当該弾性力に抗して押圧して検査装置の端子Ｔ及び半導体装置Ｐの端子と接触させることにより、これら端子とプローブ３０とをより確実に接触させることができる。
【００４４】
このように、本実施形態にかかるＩＣソケット１は、メインブロック１０或いはサイドブロック２０にプローブ３０を埋め込むことなく当該プローブ３０を固定することができるため、プローブ３０の交換によるメインブロック１０やサイドブロック２０の劣化を可及的になくすことができ、より長期間に亘って使用することが可能となる。」
「【図４】


」

(イ) 引用文献４の記載事項
原査定の拒絶の理由において引用された特開平７−２５４４６８号公報（以下「引用文献４」という。）には、次に摘記する事項が記載されている。
「【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣ（半導体集積回路）の測定試験装置に係わり、特にＩＣを搭載するＩＣ受け台とその周囲のリード端子に接触して導通する測定子とを備えたＩＣ測定用ソケットに関するものである。」
「【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照しながら詳細に説明する。図１は本発明に係わるＩＣ測定用ソケットの一実施例を説明する図であり、図中（ａ）はその分解斜視図、（ｂ）はその側断面図である。図１に示すように本実施例のＩＣ測定用ソケット１は、大きくは、ソケット本体２、ＩＣ受け台３および測定子ホルダ４によって構成される。」
「【図１】

」
「【００１０】測定子ホルダ４は、測定すべきＩＣ８のリード端子１５に対応して配列された複数の測定子１６を有しており、測定子１６相互の間隔はリード端子１５の配列ピッチに対応して設定されている。すなわち、測定すべきＩＣ８がＱＦＰ（Ｑｕａｄ Ｆｌａｔ Ｐａｃｋａｇｅ）タイプでそのピン数が６４ピンの場合は、一個の測定子ホルダ４に１６本の測定子１６が組み込まれ、同じＱＦＰタイプでもピン数が１００ピンの場合は一個の測定子１６に２５本の測定子１６が組み込まれることになる。
【００１１】この測定子ホルダ４の外形寸法は、ソケット本体２に対して測定子ホルダ４自体が着脱可能となるように、ソケット本体２に形成された装着部７の大きさとおよそ同じか、若しくは僅かながら小さめに設定されている。さらに装着部７と測定子ホルダ４との結合部分にはソケット本体２に対する測定子ホルダ４の装着位置を規制するガイド機構が備えられている。すなわち、測定子ホルダ４の両端面にはそれぞれ突条ガイド１７が形成され、これに対して装着部７の内壁面には上記突条ガイド１７と係合可能な凹溝１８が形成されている。そして、互いに係合可能な突条ガイド１７と凹溝１８とは、それぞれソケット本体２に対する測定子ホルダ４の装着方向（図中上下方向）に沿って形成されている。
【００１２】ここで、突条ガイド１７と凹溝１８とを係合しつつ装着部７に測定子ホルダ４を装着し、これによってソケット本体２と測定子ホルダ４とを結合した状態では、ＩＣ受け台３の周縁部（矩形４辺）に隣接して各々の測定子ホルダ４が配置される。このとき、ソケット本体２の装着部７に対して測定子ホルダ４は固定部５の底部から延出したホルダ受け１９に突き当たるまで押し込まれる。さらに、こうした結合状態においては、リード端子１５との接触部分となる各測定子１６の先端部がＩＣ受け台３の各ガイド片１１の隙間にそれぞれ挿入配置される。」

(ウ) 周知技術１の認定
前記(ア)及び(イ)に示したように、引用文献３及び４には、本体に対して着脱可能な第１及び第２の検査治具（サイドブロック２０及びプローブ３０、測定子ホルダ４及び測定子１６）から構成されるソケットの構成が例示されており、次に示す技術事項は周知技術（以下「周知技術１」という。）であると認められる。
［周知技術１］
「試験用のＩＣソケットを、第１及び第２の検査治具から構成すること。」

(３) 対比
ア 対比分析
本件補正発明と引用発明を対比する。
(ア)ａ 引用発明の「コンタクトピン１１」は本件補正発明の「プローブピン」に相当し、引用発明の「ソケット本体１０」は本件補正発明の「ハウジング」に相当する。
ｂ また、引用発明の「コンタクトピン１１」及び「ソケット本体１０」は、本件補正発明の「検査治具」に相当する。
ｃ そして、引用発明の「ＩＣチップ試験用ソケット」は「ソケット本体１０」及び「コンタクトピン１１」を備えるところ、「検査ユニット」の発明である本件補正発明と「ＩＣチップ試験用ソケット」の発明である引用発明は、共に「検査ユニット」の発明である点において一致する。

(イ)ａ 引用発明の「ＩＣチップ試験用ソケット」において、「コンタクトピン１１」は「ソケット本体１０の内底部に貫通固定され［る］」から、前記(ア)ａを踏まえると、本件補正発明の「ハウジング」と引用発明の「ソケット本体１０」は、共に「プローブピンが内部に収容されたハウジング」である点で一致する。
ｂ 以上をまとめると、共に「検査ユニット」の発明である本件補正発明と引用発明は、次の点で共通する。
「検査治具を備え、
検査治具が、
プローブピンと、
前記プローブピンが内部に収容されたハウジングと
を備え［る］」点。

(ウ)ａ 前記(ア)ａに示したとおり、引用発明の「コンタクトピン１１」は、本件補正発明の「プローブピン」に相当する。
ｂ(ａ) 後記の(エ)で更に検討するとおり、引用発明の「外側腕部１１ｂ」は本件補正発明の「第１腕部」に相当し、引用発明の「内側腕部１１ａ」は本件補正発明の「第２腕部」に相当する。
(ｂ) また、引用発明の「Ｚ方向」は本件補正発明の「第１方向」に相当し、「Ｘ方向」は本件補正発明の「第２方向」に相当する。
ｃ 前記ａを踏まえると、引用発明の「コンタクトピン１１は内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」から、本件補正発明の「プローブピン」と引用発明の「コンタクトピン１１」は、共に「弾性変形可能な第１弾性部」を備える点で一致する。
ｄ(ａ) 前記ｂ(ａ)を踏まえると、引用発明の「内側腕部１１ａ」及び「外側腕部１１ｂ」は、本件補正発明の「第１接触部」に相当する。
(ｂ) また、引用発明においては、「外側腕部１１ｂ、１１ｂが移動する方向は、Ｚ方向に交差するＸ方向であ［る］」ものである。
(ｃ) してみると、本件補正発明の「プローブピン」と引用発明の「コンタクトピン１１」は、共に「前記第１弾性部に対して前記第１方向に交差する第２方向に移動可能な第１接触部を備える」点で一致する。
ｅ(ａ) 引用発明は「ＩＣチップ１の種々の性能試験を行［う］」「ＩＣチップ試験用ソケット」の発明であり、「コンタクトピン１１、１１」の接触端のうち片方の「外側腕部１１ｂ、１１ｂ」の「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’」が「ＩＣチップ１」の「リード３、３の側面に圧接［する］」から、引用発明の「コンタクトピン１１」における、前記「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは異なる接触端」は、本件補正発明の「第２接触部」に相当する。
(ｂ) してみると、本件補正発明の「プローブピン」と引用発明の「コンタクトピン１１」は、共に「第２接触部」を備える点で一致する。
ｆ(ａ)ｉ 引用発明の「コンタクトピン１１」は後記のii及びiiiに示すものとして特定されるから、「コンタクトピン１１」のうち「内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」部分は、「内側腕部１１ａ」と「外側腕部１１ｂとに分岐せしめられ［た］」部位をその一端とし、また「ソケット本体１０の内底部に貫通固定された」部位をその他端としてその両端が画定される部分であることが明らかである。
ii 「コンタクトピン１１は内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されていると共に、コンタクトピン１１の先端部は試験時ＩＣチップ１のモールド部２により押し下げられる内側腕部１１ａと該内側腕部１１ａが押し下げられた時ＩＣチップ１のリード３の側面に先端突部１１ｂ’が圧接する外側腕部１１ｂとに分岐せしめられ［た］」ものであること。
iii 「コンタクトピン１１」は「ソケット本体１０の内底部に貫通固定された」ものであること。
(ｂ) 前記(ａ)を踏まえると、引用発明の「コンタクトピン１１」の「先端部」であって、「内側腕部１１ａ」と「外側腕部１１ｂとに分岐せしめられ［た］」部位が、「コンタクトピン１１」のうち「内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」部分の端部に相当することは明らかである。
(ｃ) また、上記(ｂ)で検討したことと同様に、前記(ａ)を踏まえると、引用発明における「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは異なる接触端」（前記ｅ(ａ)参照）が、「コンタクトピン１１」のうち「内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」部分の他端である「ソケット本体１０の内底部に貫通固定された」部位から設けられたものであることも明らかである。
(ｄ) そして、引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１のうち内側腕部１１ａ、１１ａの幅細部分が外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部位と、コンタクトピン１１、１１のうち内底部に貫通固定される部位とは、Ｚ方向において離間して［いる］」から、（引用発明の「Ｚ方向」が本件補正発明の「第１方向」に相当する点（前記ｂ(ｂ)参照）に留意しつつ、）前記ｄ及びｅを踏まえると、本件補正発明の「プローブピン」と引用発明の「コンタクトピン１１」は、共に次の点で一致する。
「第１接触部」が「前記第１弾性部の前記第１方向の一端に設けられ［た］」ものである点、及び、
「第２接触部」が「前記第１弾性部の前記第１方向の他端に設けられた」ものである点。
ｇ 以上をまとめると、本件補正発明と引用発明は、次の点で一致する。
「前記プローブピンが、
弾性変形可能な第１弾性部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の一端に設けられ、前記第１弾性部に対して前記第１方向に交差する第２方向に移動可能な第１接触部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の他端に設けられた第２接触部と
を備え［る］」点。

(エ)ａ 引用発明の「外側腕部１１ｂ」が本件補正発明の「第１腕部」に相当し、引用発明の「内側腕部１１ａ」が本件補正発明の「第２腕部」に相当し、引用発明の「内側腕部１１ａ」及び「外側腕部１１ｂ」が本件補正発明の「第１接触部」に相当する。
ｂ(ａ) 前記(ウ)ｆ(ａ)を踏まえると、本件補正発明の「第１腕部」と引用発明の「外側腕部１１ｂ」は、共に「記第１弾性部の前記一端から延びている」点で共通する。
(ｂ) 引用発明の「外側腕部１１ｂ」における「先端突部１１ｂ’」は本件補正発明の「接点部」に相当するから、本件補正発明の「第１腕部」と引用発明の「外側腕部１１ｂ」は、共に「接点部を有する第１腕部」である点で一致する。
(ｃ) 引用発明においては、「外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接［する］」ものであるから、本件補正発明の「第１腕部」と引用発明の「外側腕部１１ｂ」は、共に「前記第２方向から接触可能な接点部を有する」点で一致する。
(ｄ) 前記(ａ)〜(ｃ)をまとめると、本件補正発明の「第１腕部」と引用発明の「外側腕部１１ｂ」は、共に「前記第１弾性部の前記一端から延びていると共に、前記第２方向から接触可能な接点部を有する第１腕部」である点で一致する。
ｃ 引用発明において、「内側腕部１１ａ、１１ａのうち外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分は、Ｘ方向に延びており」、また「内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’とは、外側腕部１１ｂ、１１ｂに対して、共にＸ方向の同じ側にあ［る］」から、本件補正発明の「第２腕部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」は、共に「前記第１腕部から前記第２方向に延びていると共に、前記第１腕部に対して前記接点部と同じ側に配置された第２腕部」である点で一致する。 ｄ(ａ) 引用発明における「コンタクトピン１１、１１のうち内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位」は、前記ｆ(ａ)ｉを踏まえると、本件補正発明の（第１弾性部との）「接続部分」にも相当する。
(ｂ) また、引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行くと、コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接し、この際内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位を中心として回転する移動を伴［う］」ものである。
(ｃ) してみると、本件補正発明の「第１接触部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」及び「外側腕部１１ｂ」は、共に「前記第２腕部に外力を加えることにより、前記第１腕部が、前記第１弾性部との接続部分を支点として回転して前記第１弾性部に対して前記第２方向に移動するように構成され［た］」点で一致する。
ｅ 以上をまとめると、本件補正発明の「第１接触部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」及び「外側腕部１１ｂ」は、次の点で一致する。
「前記第１接触部が、
前記第１弾性部の前記一端から延びていると共に、前記第２方向から接触可能な接点部を有する第１腕部と、
前記第１腕部から前記第２方向に延びていると共に、前記第１腕部に対して前記接点部と同じ側に配置された第２腕部と
を有し、
前記第２腕部に外力を加えることにより、前記第１腕部が、前記第１弾性部との接続部分を支点として回転して前記第１弾性部に対して前記第２方向に移動するように構成され［た］」点。

(オ)ａ 引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行くと、コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接［する］」から、（引用発明の「先端突部１１ｂ’」が本件補正発明の「接点部」に相当すること（前記(エ)ｂ(ａ)参照）にも留意すると、）「コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形」する際には、「外側腕部１１ｂ」の「先端突部１１ｂ’」が「ＩＣチップ１が載せられる」空間へ露出することが明らかである。すると、上記空間は、本件補正発明における（ハウジングの）「外部」に相当する。
ｂ したがって、本件補正発明の「ハウジング」と引用発明の「ソケット本体１０」は、次の点で一致する。
「前記ハウジングが、
前記第２腕部に外力を加えたときに前記第１腕部が前記第２方向に移動して前記第１腕部の前記接点部が外部に露出するように構成され［た］」点。

(カ)ａ 引用発明の「外側腕部１１ｂ」が本件補正発明の「第１腕部」に相当し、引用発明の「内側腕部１１ａ」が本件補正発明の「第２腕部」に相当する（前記(エ)参照）。
ｂ(ａ) 引用発明の「内側腕部１１ａ、１１ａのうち外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分」は、本件補正発明の「本体部」に相当する。
(ｂ) すると、引用発明において、「内側腕部１１ａ、１１ａのうち外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分」は、「Ｘ方向に延びて［いる］」から、本件補正発明の「本体部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」「のうち外側腕部１１ｂ」「と分岐せしめられている部分」は、共に「前記第１腕部から前記第２方向に延びている本体部」である点で一致する。
ｃ(ａ) 引用発明の「内側腕部１１ａ」は「外側腕部１１ｂ、１１ｂと分岐せしめられている部分」と「ＩＣチップ１が載せられる部分」を有しているところ、このうち「ＩＣチップ１が載せられる部分はＺ方向とは逆の方向に突出している」から、当該「ＩＣチップ１が載せられる部分」は本件補正発明の「突出部」に相当し、してみると、本件補正発明の「突出部」と引用発明の「ＩＣチップ１が載せられる部分」は、共に「前記本体部から前記第１方向」「に突出している」点で一致する。
(ｂ) また、前記「内側腕部１１ａ、１１ａのうちＩＣチップ１が載せられる部分」が、「ソケット本体１０」から突出し、また「ＩＣチップ１が載せられる」空間へと露出することは明らかである。すると、前記ａで検討した事項と同様にして、当該空間が、本件補正発明における（ハウジングの）「外部」に相当する。
(ｃ) さらに、引用発明において、「内側腕部１１ａ、１１ａのうちＩＣチップ１が載せられる部分は、Ｚ方向とは逆の方向に突出している」から、本件補正発明の「突出部」と引用発明の「ＩＣチップ１が載せられる部分」は、共に「前記第１弾性部から離れる方向に突出している」点でも一致する。
ｄ 以上をまとめると、本件補正発明の「第２腕部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」は、次の点で一致する。
「前記第２腕部が、
前記第１腕部から前記第２方向に延びている本体部と、
前記本体部から前記第１方向でかつ前記第１弾性部から離れる方向に突出していると共に、前記第１方向でかつ前記第１弾性部から遠い方の先端が前記ハウジングの外部に配置されている突出部と
を有［する］」点。

(キ)ａ 引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行く」から、「ソケット本体１０」には「ＩＣチップ１」を格納するための隙間が画定されていることが明らかであり、すると、当該隙間が本件補正発明の「第１隙間」に相当する。
ｂ(ａ) 引用発明において、「外側腕部１１ｂ、１１ｂの先端突部１１ｂ’、１１ｂ’は、ＩＣチップ１のリード３、３の側面に圧接するために、相互に対向する」から、前記ａを踏まえると、本件補正発明の「接点部」と引用発明の「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’」は、共に「相互に対向し」、「第１隙間を空けて位置」する点で一致する。
(ｂ) 引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形し、これにより外側腕部１１ｂ、１１ｂが内側へ移動してその先端突部１１ｂ’、１１ｂ’がリード３、３の側面に圧接し、この際内側腕部１１ａ、１１ａと外側腕部１１ｂ、１１ｂとに分岐せしめられている部位を中心として回転する移動を伴［う］」から、前記ａを踏まえると、本件補正発明の「第１腕部」と引用発明の「先端突部１１ｂ’」を有する「外側腕部１１ｂ」は、共に「第１隙間」で「回転可能」である点で一致する。
ｃ また、前記ａ及びｂを踏まえると、本件補正発明の「第２腕部」の「突出部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」の「ＩＣチップ１が載せられる部分」は、共に「第１隙間に位置する」点で一致することが明らかである。
ｄ 以上をまとめると、共に「検査ユニット」の発明である本件補正発明と引用発明は、次の点で共通する。
「前記検査治具の前記接点部が前記第２方向において相互に対向しかつ前記第２方向に前記第１腕部が回転可能な第１隙間を空けて位置し、
前記第２腕部の前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ位置している」点。

イ 一致点及び相違点の認定
前記アの対比分析の結果をまとめると、本件補正発明と引用発明は、次の(ア)に示す一致点において一致し、後記の(イ)に示す相違点において一応の相違があると認められる。
(ア) 一致点
「検査治具を備え、
検査治具が、
プローブピンと、
前記プローブピンが内部に収容されたハウジングと
を備え、
前記プローブピンが、
弾性変形可能な第１弾性部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の一端に設けられ、前記第１弾性部に対して前記第１方向に交差する第２方向に移動可能な第１接触部と、
前記第１弾性部の前記第１方向の他端に設けられた第２接触部と
を備え、
前記第１接触部が、
前記第１弾性部の前記一端から延びていると共に、前記第２方向から接触可能な接点部を有する第１腕部と、
前記第１腕部から前記第２方向に延びていると共に、前記第１腕部に対して前記接点部と同じ側に配置された第２腕部と
を有し、
前記第２腕部に外力を加えることにより、前記第１腕部が、前記第１弾性部との接続部分を支点として回転して前記第１弾性部に対して前記第２方向に移動するように構成され、
前記ハウジングが、
前記第２腕部に外力を加えたときに前記第１腕部が前記第２方向に移動して前記第１腕部の前記接点部が外部に露出するように構成され、
前記第２腕部が、
前記第１腕部から前記第２方向に延びている本体部と、
前記本体部から前記第１方向でかつ前記第１弾性部から離れる方向に突出していると共に、前記第１方向でかつ前記第１弾性部から遠い方の先端が前記ハウジングの外部に配置されている突出部と
を有し、
前記検査治具の前記接点部が前記第２方向において相互に対向しかつ前記第２方向に前記第１腕部が回転可能な第１隙間を空けて位置し、
前記第２腕部の前記突出部が前記第１隙間にそれぞれ位置している、
検査ユニット」である点。

(イ) 相違点
ａ 相違点１
本件補正発明においては、「検査治具」が「第１検査治具および第２検査治具」であって、「前記第１検査治具および前記第２検査治具の各々が、」「前記プローブピンが内部に収容されたハウジング」を備えるのに対して、
引用発明においては、全ての「コンタクトピン１１」（本件補正発明の「プローブピン」に相当する。）が、「ソケット本体１０」（本件補正発明の「ハウジング」に相当する。）に収容される点。
ｂ 相違点２
「弾性変形可能な第１弾性部」について、
本件補正発明においては、「プローブピン」が備える「第１弾性部」は、「第１方向に沿って弾性変形可能」であるのに対して、
引用発明においては、「コンタクトピン１１は内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」ものの、当該「バネ性が付与されている」部分が「Ｚ方向」（本件補正発明の「第１方向」に相当する。）に沿って弾性変形することは明記されていない点。
ｃ 相違点３
本件補正発明においては、「第１接触部」が有する「第１腕部」は、「前記第１方向に沿って延びている」のに対して、
引用発明においては、「外側腕部１１ｂ」が「Ｚ方向」（本件補正発明の「第１方向」に相当する。）に沿って延びていることは明記されていない点。

(４) 判断
前記相違点について検討する。
ア 相違点１について
(ア) 前記(２)イ(ウ)「周知技術１の認定」に示したとおり、
「試験用のＩＣソケットを、第１及び第２の検査治具から構成すること」は周知技術である。
(イ) してみれば、引用発明の「ＩＣチップ試験用ソケット」に前記周知技術１を適用して、「コンタクトピン１１」及び「ソケット本体１０」を第１及び第２の検査治具に振り分けて構成することは、当業者が容易になし得た事項にすぎず、引用発明に当該周知技術１を適用して当該相違点に係る構成を備えるようにすることは、当業者が容易に想到し得たことである。

イ 相違点２について
(ア) 本件補正発明における「第１弾性部」が、「第１方向に沿って弾性変形可能」であることに関して、本願の明細書等には次に示す記載がある。
「【図面の簡単な説明】
【００１６】
（中略）
【図１５】 図３のプローブピンの第８の変形例を示す斜視図。
（後略）」
「【００４８】
また、例えば、第１弾性部２０は、図１５および図１６に示すように構成することができる。図１５のプローブピン１０では、第１弾性部２０は、Ｘ方向の第１腕部３１に対して第２腕部３２と異なる側に突出する湾曲状を有している。（後略）」
「【図１５】

」
(イ) 前記(ア)で摘記した事項を踏まえると、本件補正発明は、「第１弾性部２０」として、「Ｘ方向の第１腕部３１に対して第２腕部３２と異なる側に突出する湾曲状を」呈しているものを含むと理解できる。
(ウ) ここで、本件補正発明の「第１弾性部２０」と引用発明の「コンタクトピン１１」のうち「内側に湾曲せしめられてバネ性が付与されている」部分とは、共に「湾曲」形状を呈するものとして共通し、また引用発明においては、「コンタクトピン１１、１１の内側腕部１１ａ、１１ａ上にＩＣチップ１を載せ、更にＩＣチップ１の上に蓋１２を載せた状態で蓋１２を押し下げて行くと、コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形［する］」ものである。
(エ) そして、形状の変化により弾性力を与える弾性部材とは、当該部材が呈する形状が変化する方向に対応して弾性力を与える方向を画定するものであるという一般的な理解に鑑みれば、引用発明においてもＺ方向（本件補正発明の「第１方向」に相当する。）に沿って弾性変形可能であるといえるから、前記相違点２は実質的な相違点ではない。

ウ 相違点３について
引用文献１の第１図及び第２図から、「外側腕部１１ｂ、１１ｂ」及び「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’」がＺ方向成分を含む方向へ延びていることが読み取れる。そして、本件補正発明の「第１腕部」が曲線を含む構造であって「第１方向」のみに延びているものではないことを踏まえると、本件補正発明と引用発明は、「第１接触部」が有する「第１腕部」が「前記第１方向に沿って延びている」点で一致するものであり、前記相違点３は実質的な相違点ではない。
仮にそうでないとしても、本件補正発明における「接点部」及び「第１腕部」を備える「検査ユニット」と、引用発明における「外側腕部１１ｂ、１１ｂ」及び「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’」を備える「ＩＣチップ試験用ソケット」とは、共に導通検査、動作特性検査等に際して検査対象物の接続端子に接触して行うための構成である点で共通するところ（本願明細書の段落【０００２】、【００３４】等を参照。）、引用発明の「外側腕部１１ｂ、１１ｂ」及び「先端突部１１ｂ’、１１ｂ’」について、どのような傾斜や角度からなる形状と定めるかは、先端突部がＩＣチップのリード側面に圧接して圧力を加える様態、ＩＣチップそのものの大きさ又は形状、及び、ＩＣチップの当該大きさ又は形状とＩＣチップに設けられるリードとの位置関係などを踏まえ、当業者が適宜選択できる設計事項にすぎないから、引用発明の「外側腕部１１ｂ」を「Ｚ方向」（本件補正発明の「第１方向」に相当する。）に沿って延びている形状とすることもまた当業者が適宜なし得たことである。

エ 総合評価
前記ア〜ウの前記相違点１〜３に係る検討を総合してみても、相違点１〜３は、格別のものではなく、引用発明において、相違点１〜３に係る本件補正発明の構成を備えるようにすることは、引用発明及び周知技術１に基づいて、当業者が容易に想到し得たことである。
そして、本件補正発明の奏する作用効果としては、当該構成のものとして当業者が予測困難であり、かつ、格別顕著な効果を認めることはできない。
したがって、本件補正発明は、引用発明及び周知技術１に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。

(５) 請求人の主張について
請求人は、審判請求書において次のアに示す主張をしている（以下「請求人の主張」という。）。
当該主張に対する合議体の判断は、後記のイに示すとおりである。
ア 審判請求書における請求人の主張の内容
(ア) 引用発明の外側腕部１１ｂは、引用文献１の第１図及び第２図に示されているように、内側腕部１１ａに外力が加えられていないときはソケット本体１０の外部に位置し、内側腕部１１ａに外力が加えられたときはソケット本体１０の内部に位置し、ソケット本体１０の外部に露出していない。
(イ) また、引用発明の内側腕部１１ａは、引用文献１の第１図及び第２図に示されているように、外力の印加の有無にかかわらず常にソケット本体１０の内部に位置し、ソケット本体１０の外部に位置していない。
つまり、引用文献１には、本件補正発明の「ハウジング」及び「第２腕部」に相当する構成が開示されていない。
したがって、本件補正発明は、引用文献１〜４を組み合わせても得ることはできず、進歩性を有するものである。

イ 請求人の主張についての当審の判断
(ア) 引用発明の「外側腕部１１ｂ」（本件補正発明の「第１腕部」に相当する。）について、前記３(３)ア(オ)で検討したとおり、「外側腕部１１ｂ」の「先端突部１１ｂ’」は、「コンタクトピン１１、１１が内側へより湾曲変形」する際には、「ＩＣチップ１が載せられる」空間へ露出するものである。
(イ) 次に、引用発明の「内側腕部１１ａ」（本件補正発明の「第２腕部」に相当する。）について、前記(３)ア(カ)で検討したとおり、本件補正発明の「第２腕部」と引用発明の「内側腕部１１ａ」は、共に「ハウジングの外部に配置されている突出部」を有する点で一致する。
(ウ) また、前記(４)で検討したとおり、本件補正発明は、引用発明及び周知技術１に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものである。
以上より、請求人の主張は採用できない。

(６) 本件補正についてのむすび
以上検討のとおり、本件補正発明は、特許法29条2項の規定により特許出願の際独立して特許を受けることができない。
よって、本件補正は、同法17条の2第6項において準用する同法126条7項の規定に違反するから、同法159条1項において読み替えて準用する同法53条1項の規定により却下すべきものである。
したがって、前記補正の却下の決定の結論のとおり決定する。


第３ 本願発明について
１ 本願発明について
本件補正は、前記第２のとおり却下されたので、本願の請求項１〜６に係る発明は、令和４年１１月４日に提出された手続補正書により補正された特許請求の範囲の請求項１〜６に記載された事項により特定されるとおりのものであると認められるところ、そのうち、請求項１に係る発明（以下「本願発明」という。）は、前記第２の１(１)に摘記した請求項１に記載された事項により特定されるとおりのものである。

２ 原査定における拒絶の理由の概要
原査定の拒絶の理由のうち、本願発明についての進歩性欠如の理由２は、次のとおりである。
理由２（進歩性欠如）
本願発明は、下記の引用文献１、３及び４に記載された発明に基づいて、当業者が容易に発明をすることができたものであるから、特許法29条2項の規定により特許を受けることができない。

記

引用文献１：実願昭６０−５７３１４号（実開昭６１−１７２４８７号） のマイクロフィルム
引用文献３：特開２０１０−８３８８号公報
引用文献４：特開平７−２５４４６８号公報

３ 引用文献に記載された事項及び引用発明等の認定
引用文献１には、前記第２の３(２)ア(ア)に示したとおりの摘記事項が記載されており、また、前記第２の３(２)ア(ウ)で認定したとおりの引用発明が記載されていると認められる。
引用文献３及び４には、前記第２の３(２)イ(ア)及び(イ)に示したとおりの摘記事項が記載されており、また、前記第２の３(２)イ(ウ)で認定したとおりの周知技術１が例示されていると認められる。

４ 対比・判断
本願発明は、「第１隙間」について、本件補正後の「前記第１腕部が回転可能な」とする限定を省いたものである（前記第２の２「本件補正の目的」参照）。
そうすると、本願発明の構成を全て含み、当該構成の一部を限定したものに相当する本件補正発明が、前記第２の３において検討したとおり、引用発明及び周知技術１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものであるから、本願発明も、引用発明及び周知技術１に基づいて当業者が容易に発明をすることができたものである。


第４ むすび
以上検討のとおりであるから、本願発明は、特許法29条2項の規定により、特許を受けることができない。
したがって、他の請求項に係る発明について検討するまでもなく、本願は拒絶すべきものである。
よって、結論のとおり審決する。


（中略）
〔審決分類〕Ｐ１８ ．５７５−Ｚ （Ｇ０１Ｒ）
１２１

 
別掲 （行政事件訴訟法第４６条に基づく教示） この審決に対する訴えは、この審決の謄本の送達があった日から３０日（附加期間がある場合は、その日数を附加します。）以内に、特許庁長官を被告として、提起することができます。
 
審理終結日 2024-03-28 
結審通知日 2024-04-02 
審決日 2024-04-18 
出願番号 P2018-210794
審決分類 P 1 8・ 121- Z (G01R)
P 1 8・ 575- Z (G01R)
最終処分 02   不成立
特許庁審判長 中塚 直樹
特許庁審判官 九鬼 一慶
田邉 英治
発明の名称 プローブピン、検査治具、検査ユニットおよび検査装置  
代理人 徳山 英浩  
代理人 山尾 憲人  
代理人 岩木 宣憲  

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